一种触摸屏性能质量检测分析方法技术

技术编号:39492434 阅读:10 留言:0更新日期:2023-11-24 11:14
本发明专利技术涉及触摸屏性能质量检测分析领域,具体公开一种触摸屏性能质量检测分析方法,本发明专利技术通过获取触摸屏的外观参数,评估触摸屏的外观质量,保障产品的美观度;从触摸分辨率和触摸点位置评估触摸屏的触摸精度,有利于提供流畅

【技术实现步骤摘要】
一种触摸屏性能质量检测分析方法


[0001]本专利技术涉及触摸屏性能质量检测分析领域,涉及到一种触摸屏性能质量检测分析方法


技术介绍

[0002]触摸屏作为一种输入设备,具有易于使用

坚固耐用

反应速度快

节省空间等优点,用户使用时可以直接通过触摸屏幕来实现操作,无需借助键盘或鼠标,实用性很强,应用广泛

[0003]随着科技的不断发展,触摸屏的需求越来越高,然而,由于市场上存在着各种各样的触摸屏产品,其质量的好坏也参差不齐

因此,为了确保触摸屏产品的品质和性能,需要对触摸屏的生产质量进行检测和测试

[0004]现有的触摸屏生产质量的检测分析方法大都集中在触摸屏产品的外观检测层面,如触摸屏的平整度

表面光洁度

划痕和气泡等,缺乏对触摸屏的性能质量的深入分析,如触摸屏的触摸精度

响应时间

压力感应准确度

多点触控能力和反应速度等,故存在一些不足:
1.
现有方法缺乏对触摸屏的触摸精度的深入分析,当触摸屏的触摸精度不佳时,可能使用户的触摸操作无法准确地被识别和反应,也可能会误点击或误触摸其他区域,从而触发不必要的操作或打开错误的应用程序,还可能使手写输入被错误地识别或解释,进而降低触摸功能的可靠性

[0005]2.
现有方法缺乏对触摸屏的触摸速度的深入分析,当触摸屏的触摸速度不佳时,可能会使用户感到反应迟钝或延迟,降低用户的操作效率和流畅性,也可能导致用户在进行操作时无法准确地定位和选择目标,容易误触或选错,还可能导致触摸屏功能缺失或无法实现相关交互效果,从而影响用户的体验

[0006]3.
现有方法缺乏对触摸屏的压力感应的深入分析,如果触摸屏的压力感应不佳,可能无法准确地检测到用户的触摸位置和力度,导致触摸操作的精确度下降,用户可能需要多次尝试才能准确地点击或滑动,还可能使触摸屏的功能可能无法正常工作或者误触发不应该执行的功能

[0007]4.
现有方法缺乏对触摸屏的多点触控能力的深入分析,多点触控能力不佳可能导致触摸屏无法识别并处理多指手势,如缩放

旋转

双指滚动等,这将限制了用户在应用程序和游戏中使用多指手势进行操作和交互的能力,还可能导致无意中触发并识别了多个触点,导致误触和误操作的发生


技术实现思路

[0008]针对上述问题,本专利技术提出了一种触摸屏性能质量检测分析方法,具体技术方案如下:一种触摸屏性能质量检测分析方法,包括如下步骤:步骤一

触摸屏外观参数获取:获取触摸屏生产制造厂当前生产批次中各触摸屏的外观参数,将其记为各目标触摸屏的外观参数,其中外观参数包括各触摸屏区域中各类型外观缺陷的数量

[0009]步骤二

触摸屏初步筛选:根据各目标触摸屏的外观参数,分析得到各目标触摸屏的外观评价系数,根据各目标触摸屏的外观评价系数,判断各目标触摸屏的外观质量是否达标,统计外观质量达标的各目标触摸屏,将其记为各指定触摸屏,并执行步骤三

[0010]步骤三

触摸屏触摸精度监测:获取各指定触摸屏的触摸分辨率和触摸点位置偏差,分析各指定触摸屏的触摸精度评价系数

[0011]步骤四

触摸屏触摸速度监测:获取各指定触摸屏的响应时间和更新率,分析各指定触摸屏的触摸速度评价系数

[0012]步骤五

触摸屏压力感应监测:获取各指定触摸屏的触摸压力范围和压力感应准确度,分析各指定触摸屏的压力感应评价系数

[0013]步骤六

触摸屏多点触控监测:获取各指定触摸屏的最大支持触摸点数,分析各指定触摸屏的多点触控能力评价系数

[0014]步骤七:触摸屏性能质量评估:根据各指定触摸屏的触摸精度评价系数

触摸速度评价系数

压力感应评价系数和多点触控能力评价系数,分析各指定触摸屏的性能综合评估指数

[0015]步骤八

触摸屏二次筛选:根据各指定触摸屏的性能综合评估指数,判断各指定触摸屏的性能质量是否达标,统计性能质量达标的各指定触摸屏,分析触摸屏生产制造厂当前生产批次的合格率,并进行处理

[0016]在上述实施例的基础上,所述步骤一的具体分析过程为:通过高清摄像机获取各目标触摸屏的各角度图像,拼接得到各目标触摸屏的实景图像,提取数据库中存储的触摸屏的参考图像,将各目标触摸屏的实景图像与触摸屏的参考图像进行比对,得到各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷

[0017]获取各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷的位置,按照预设的原则对触摸屏的表面区域进行划分,得到触摸屏的各区域,将各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷的位置与触摸屏的各区域进行比对,得到各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷所处的触摸屏区域,进一步将各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷按照相同触摸屏区域进行归类,得到各目标触摸屏各触摸屏区域中各类型外观缺陷的各处缺陷,统计各目标触摸屏各触摸屏区域中各类型外观缺陷的数量,将其记为,表示第个目标触摸屏的编号,,表示第个外观缺陷类型的编号,,表示第个触摸屏区域的编号,

[0018]在上述实施例的基础上,所述步骤二的具体分析过程包括:通过分析公式得到各目标触摸屏的外观评价系数,其中表示预设的单位数量外观缺陷的影响因子,表示预设的第个外观缺陷类型的权重因子,表示预设的第个触摸屏区域的权重因子

[0019]在上述实施例的基础上,所述步骤二的具体分析过程还包括:将各目标触摸屏的外观评价系数与预设的外观评价系数阈值进行比较,若某目标触摸屏的外观评价系数大于或等于预设的外观评价系数阈值,则该目标触摸屏的外观质量达标,反之,则该目标触摸屏
的外观质量不达标,统计外观质量达标的各目标触摸屏,将其记为各指定触摸屏,并统计外观质量不达标的各目标触摸屏,将其放置于指定区域

[0020]在上述实施例的基础上,所述步骤三的具体分析过程为:对各指定触摸屏进行检测,获取各指定触摸屏的触摸分辨率,将其记为,表示第个指定触摸屏的编号,

[0021]按照预设的原则对各指定触摸屏进行设定次数的触摸精度测试,获取各指定触摸屏在各次触摸精度测试中触摸点的实际位置与设定的预期位置之间的距离,将其记为各指定触摸屏在各次触摸精度测试中的触摸点位置偏差,将各指定触摸屏在各次触摸精度测试中的触摸点位置偏差进行相互比较,得到各指定触摸屏在触摸精度测试中的最大触摸点位置偏差,将其记为各指定触摸屏的触摸点位本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种触摸屏性能质量检测分析方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一

触摸屏外观参数获取:获取触摸屏生产制造厂当前生产批次中各触摸屏的外观参数,将其记为各目标触摸屏的外观参数,其中外观参数包括各触摸屏区域中各类型外观缺陷的数量;步骤二

触摸屏初步筛选:根据各目标触摸屏的外观参数,分析得到各目标触摸屏的外观评价系数,根据各目标触摸屏的外观评价系数,判断各目标触摸屏的外观质量是否达标,统计外观质量达标的各目标触摸屏,将其记为各指定触摸屏,并执行步骤三;步骤三

触摸屏触摸精度监测:获取各指定触摸屏的触摸分辨率和触摸点位置偏差,分析各指定触摸屏的触摸精度评价系数;步骤四

触摸屏触摸速度监测:获取各指定触摸屏的响应时间和更新率,分析各指定触摸屏的触摸速度评价系数;步骤五

触摸屏压力感应监测:获取各指定触摸屏的触摸压力范围和压力感应准确度,分析各指定触摸屏的压力感应评价系数;步骤六

触摸屏多点触控监测:获取各指定触摸屏的最大支持触摸点数,分析各指定触摸屏的多点触控能力评价系数;步骤七:触摸屏性能质量评估:根据各指定触摸屏的触摸精度评价系数

触摸速度评价系数

压力感应评价系数和多点触控能力评价系数,分析各指定触摸屏的性能综合评估指数;步骤八

触摸屏二次筛选:根据各指定触摸屏的性能综合评估指数,判断各指定触摸屏的性能质量是否达标,统计性能质量达标的各指定触摸屏,分析触摸屏生产制造厂当前生产批次的合格率,并进行处理
。2.
根据权利要求1所述的一种触摸屏性能质量检测分析方法,其特征在于:所述步骤一的具体分析过程为:通过高清摄像机获取各目标触摸屏的各角度图像,拼接得到各目标触摸屏的实景图像,提取数据库中存储的触摸屏的参考图像,将各目标触摸屏的实景图像与触摸屏的参考图像进行比对,得到各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷;获取各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷的位置,按照预设的原则对触摸屏的表面区域进行划分,得到触摸屏的各区域,将各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷的位置与触摸屏的各区域进行比对,得到各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷所处的触摸屏区域,进一步将各目标触摸屏的各类型外观缺陷中各处缺陷按照相同触摸屏区域进行归类,得到各目标触摸屏各触摸屏区域中各类型外观缺陷的各处缺陷,统计各目标触摸屏各触摸屏区域中各类型外观缺陷的数量,将其记为,表示第个目标触摸屏的编号,,表示第个外观缺陷类型的编号,,表示第个触摸屏区域的编号,
。3.
根据权利要求2所述的一种触摸屏性能质量检测分析方法,其特征在于:所述步骤二的具体分析过程包括:
通过分析公式得到各目标触摸屏的外观评价系数,其中表示预设的单位数量外观缺陷的影响因子,表示预设的第个外观缺陷类型的权重因子,表示预设的第个触摸屏区域的权重因子
。4.
根据权利要求1所述的一种触摸屏性能质量检测分析方法,其特征在于:所述步骤二的具体分析过程还包括:将各目标触摸屏的外观评价系数与预设的外观评价系数阈值进行比较,若某目标触摸屏的外观评价系数大于或等于预设的外观评价系数阈值,则该目标触摸屏的外观质量达标,反之,则该目标触摸屏的外观质量不达标,统计外观质量达标的各目标触摸屏,将其记为各指定触摸屏,并统计外观质量不达标的各目标触摸屏,将其放置于指定区域
。5.
根据权利要求1所述的一种触摸屏性能质量检测分析方法,其特征在于:所述步骤三的具体分析过程为:对各指定触摸屏进行检测,获取各指定触摸屏的触摸分辨率,将其记为,表示第个指定触摸屏的编号,;按照预设的原则对各指定触摸屏进行设定次数的触摸精度测试,获取各指定触摸屏在各次触摸精度测试中触摸点的实际位...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘华平张军昌潘明黄银山吴累
申请(专利权)人:江苏纳帝电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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