本实用新型专利技术提供一种输入装置。输入装置包括主控芯片、电容检测电路及按键单元，电容检测电路与主控芯片通讯连接，按键单元包括第一电极、第二电极及第三电极，第一电极包括相互导通的中央弹性凸起及外端子，第二电极包括相互导通的第一端子及第二端子，第一端子与外端子抵接导通，第三电极包括相互导通的极板及第三端子，中央弹性凸起与极板初始相互间隔设置，响应外界物理压力，改变中央弹性凸起与极板之间的间距，产生变化的电容值，其中，第二端子与电容检测电路连接，第三端子接地，或第二端子接地，第三端子与电容检测电路连接。本实用新型专利技术提供的输入装置输入速度快。同时本实用新型专利技术还提供一种鼠标。新型还提供一种鼠标。新型还提供一种鼠标。
【技术实现步骤摘要】
输入装置及鼠标
[0001]本技术涉及一种按键开关，特别涉及一种用于输入装置及鼠标。
技术介绍
[0002]随着电子技术的发展，鼠标深入人们的日常工作学习之中，现有技术的鼠标采用接触开关作为开关元件，通过接触开关的物理接触实现导通，进而实现输入。然而通过物理接触实现导通，需要高导通接触的工艺，且需有防止接触开关抖动延时的限时程序设置，因此开关速度低，输入速度慢。
技术实现思路
[0003]为了解决现有技术中鼠标输入速度慢的技术问题，本技术提供一种输入速度快的输入装置，同时还提供一种鼠标。
[0004]一种输入装置，包括主控芯片、电容检测电路及按键单元，所述电容检测电路与所述主控芯片通讯连接，所述按键单元包括第一电极、第二电极及第三电极，所述第一电极包括相互导通的中央弹性凸起及外端子，所述第二电极包括相互导通的第一端子及第二端子，所述第一端子与所述外端子抵接导通，所述第三电极包括相互导通的极板及第三端子，所述中央弹性凸起与所述极板初始相互间隔设置，响应外界物理压力，改变所述中央弹性凸起与所述极板之间的间距，产生变化的电容值，其中，所述第二端子与所述电容检测电路连接，所述第三端子接地，或所述第二端子接地，所述第三端子与所述电容检测电路连接。
[0005]一实施例中，所述主控芯片包括第一I/O接口，所述电容检测电路与所述第一I/O接口通讯连接，通过所述第一I/O接口向所述主控芯片输出电平信号。
[0006]一实施例中，所述电容检测电路包括第二I/O接口，所述第二端子或所述第三端子与所述第二I/O接口通讯连接，输出电容信号。
[0007]一实施例中，所述按键单元数量为多个，每一所述按键单元分别与所述电容检测电路连接，所述第一I/O接口及所述第二I/O接口数量对应为多。
[0008]一实施例中，还包括上盖、第一按柄及具滑槽的基座，所述上盖及基座配合围成收容空间，收容所述第一按柄、所述第一电极、所述第二电极及所述第三电极，所述第一按柄包括按压体、第三本体及滑块，所述按压体为所述第三本体朝向所述上盖方向延伸形成，所述滑块为所述第三本体朝向所述滑槽方向延伸形成，所述滑块可沿所述滑槽滑动。
[0009]一实施例中，还包括第二按柄，所述第二按柄收容于所述收容空间，所述第二按柄包括固定凸起、第四本体及第二凹槽，所述固定凸起为所述第四本体朝向所述第一按柄方向延伸形成，所述第二凹槽由所述第四本体远离所述第一按柄的表面向内凹陷形成，所述第一按柄还包括收容槽，为所述第三本体朝向所述第二按柄的表面向内凹陷形成，所述固定凸起收容于所述收容槽，且与所述收容槽的底壁抵接设置。
[0010]一实施例中，所述第一按柄还包括让位槽，所述让位槽由所述收容槽的底壁向内凹陷形成，与所述收容槽形成阶梯孔结构，所述让位槽的直径小于所述固定凸起的直径，所
述固定凸起与所述阶梯孔的台阶抵接设置。
[0011]一实施例中，所述第二按柄还包括按压凸起，所述按压凸起为所述第二凹槽的底壁朝向远离所述第四本体方向延伸形成，所述按压凸起的直径小于所述第二凹槽的底壁的直径，所述按压凸起的直径自所述第二凹槽的底壁至远离所述第二凹槽的底壁方向逐渐变小。
[0012]一实施例中，所述极板呈圆盘形，所述极板朝向所述中央弹性凸起的面向内凹陷形成阵列设置的槽沟，包括沿第一方向设置的第一槽沟及沿第二方向设置的多个第二槽沟，所述第一槽沟与所述第二槽沟相互贯通。
[0013]一种鼠标，包括相对设置的两按键单元、电容检测电路及主控芯片，所述电容检测电路与所述主控芯片通讯连接，所述按键单元包括第一电极、第二电极及第三电极，所述第一电极包括相互导通的中央弹性凸起及外端子，所述第二电极包括相互导通的第一端子及第二端子，所述第一端子与所述外端子抵接导通，所述第三电极包括相互导通的极板及第三端子，所述中央弹性凸起与所述极板初始相互间隔设置，响应外界物理压力，改变所述中央弹性凸起与所述极板之间的间距，产生变化的电容值，其中，所述第二端子与所述电容检测电路连接，所述第三端子接地，或所述第二端子接地，所述第三端子与所述电容检测电路连接。
[0014]相较于现有技术，本技术提供的输入装置的所述第二端子或所述第三端子与所述电容检测电路连接，所述中央弹性凸起与所述极板初始相互间隔设置，响应外界物理压力，改变所述中央弹性凸起与所述极板之间的间距，产生变化的电容值，所述电容检测电路检测所述按键单元的电容值，反馈至所述主控芯片，无需接触导通，无需防止接触开关抖动延时的限时程序，输入速度快。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
[0016]图1为本技术提供的一种输入装置的结构框图；
[0017]图2为图1所示按键单元的立体结构示意图；
[0018]图3为图2所示按键单元的立体分解示意图；
[0019]图4为图2所示按键单元的剖视图；
[0020]图5为图2所示第二电极及第三电极的立体结构示意图；
[0021]图6为图1所示输入装置的电路连接示意图；
[0022]图7为本技术的一种鼠标的立体示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1，为本技术提供的一种输入装置的结构示意图，所述输入装置100用于向计算机等设备输入信号，所述输入装置100包括按键单元10、电容检测电路30及主控芯片50，所述按键单元10与所述电容检测电路30通讯连接，所述电容检测电路30与所述主控芯片50通讯连接。
[0025]请参阅图2、图3及图4，其中图2为图1所示按键单元的立体结构示意图，图3是图2所示按键单元的立体分解示意图，图4为图2所示按键单元的剖视图。所述按键单元10包括上盖11、基座12、第一按柄13、第二按柄14、第一电极15、第二电极16、第三电极17。所述上盖11固定于所述基座12围成收容空间，所述第一按柄13部分收容于所述收容空间，贯穿所述上盖11，所述第二按柄14和所述第一电极15收容于所述收容空间，所述第二电极16及所述第三电极17部分收容于所述收容空间，贯穿所述基座12，所述第二电极16及所述第三电极17并列设置，所述第一按柄13、所述第二按柄14、所述第一电极15及所述第二电极16依序设置。
[0026]所述上盖11包括第一本体111、贯穿孔113及固定通孔115，所述贯穿孔113及所述固定本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种输入装置，包括主控芯片，其特征在于，还包括：电容检测电路，与所述主控芯片通讯连接；按键单元，包括：第一电极，包括相互导通的中央弹性凸起及外端子；第二电极，包括相互导通的第一端子及第二端子，所述第一端子与所述外端子抵接导通；第三电极，包括相互导通的极板及第三端子，所述中央弹性凸起与所述极板初始相互间隔设置，响应外界物理压力，改变所述中央弹性凸起与所述极板之间的间距，产生变化的电容值；其中，所述第二端子与所述电容检测电路连接，所述第三端子接地，或所述第二端子接地，所述第三端子与所述电容检测电路连接。2.根据权利要求1所述的输入装置，其特征在于，所述主控芯片包括第一I/O接口，所述电容检测电路与所述第一I/O接口通讯连接，通过所述第一I/O接口向所述主控芯片输出电平信号。3.根据权利要求2所述的输入装置，其特征在于，所述电容检测电路包括第二I/O接口，所述第二端子或所述第三端子与所述第二I/O接口通讯连接，输出电容信号。4.根据权利要求3所述的输入装置，其特征在于，所述按键单元数量为多个，每一所述按键单元分别与所述电容检测电路连接，所述第一I/O接口及所述第二I/O接口数量对应为多。5.根据权利要求1所述的输入装置，其特征在于，还包括上盖、第一按柄及具滑槽的基座，所述上盖及基座配合围成收容空间，收容所述第一按柄、所述第一电极、所述第二电极及所述第三电极，所述第一按柄包括按压体、第三本体及滑块，所述按压体为所述第三本体朝向所述上盖方向延伸形成，所述滑块为所述第三本体朝向所述滑槽方向延伸形成，所述滑块可沿所述滑槽滑动。6.根据权利要求5所述的输入装置，其特征在于，还包括第二按柄，所述第二按柄收容于所述收容空间，所述第二按柄包括固定凸起、第四本体及第二凹槽，所述固定凸起为所述第四本体朝向所述第一按...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄俭安，
申请(专利权)人：深圳市力驰创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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