【技术实现步骤摘要】
一种电子元件智能检测设备、方法
[0001]本专利技术涉及电子元件检测
，具体涉及一种电子元件智能检测设备、方法。
技术介绍
[0002]电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用，常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。常见的有二极管等。
[0003]申请号为202110530164.5的专利技术专利中公开了一种电子元件检测设备，包括支撑杆，所述支撑杆上固定有传送带，所述传送带一侧设置有固定在地面上的基座，其特征在于：所述基座上转动设置有辅助电子元件进行检测的转动机构，所述转动机构上设置有对电子元件进行定位的定位机构，所述基座上设置有对电子元件进行检测的检测机构，所述检测机构传动连接有分料机构，所述转动机构包括转动设置在基座上的转动轴，所述转动轴端部固定有工作台，所述基座上固定有支撑板，所述支撑板上固定有驱动电机，所述驱动电机输出端固定有驱动锥齿轮，所述转动轴外侧固定有与驱动锥轮合的传动锥齿轮。
[0004...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子元件智能检测设备，其特征在于，包括采集层、分析层及控制层；电子元件的标准规格参数及待测数据通过采集层上传，于采集层中完成待测数据对应电子元件及标准规格参数对应电子元件的模型构建，分析层实时接收采集层中构建得到的两组模型，对两组模型进行比对视角的选择，并基于选择视角比对模型的相似性，控制层接收分析层中比对视角选择结果及模型相似性比对结果，基于两组结果决策执行相似性比对结果的判定或分析层跳转；分析层包括储存模块、选择模块及比对模块，储存模块用于接收采集层中根据电子元件标准规格参数及捕捉到的电子元件规格参数构建的两组模型，对模型进行储存，并执行标准模型及最新接收待测模型向选择模块的输出操作，选择模块用于选择比对模块在对两组模型进行相似性比对时所应用的比对视角，比对模块用于比对两组模型基于相同视角下的相似性；所述两组模型基于相同视角下的相似性通过下式进行求取，公式为：式中：sim(a,b)为相似度；N
a
、N
b
为两组模型a、b相同视角下分别呈现二维图像的总像素数；F
ij
为图像强度总量；为图像平均强度；其中，根据电子元件标准规格参数构建的模型记作标准模型，根据捕捉到的电子元件规格参数构建的模型记作待测模型。2.根据权利要求1所述的一种电子元件智能检测设备，其特征在于，采集层包括上载模块、捕捉模块及构建模块，上载模块用于上传电子元件的标准规格参数，捕捉模块用于捕捉电子元件的规格参数，构建模块用于接收上传的电子元件标准规格参数及捕捉到的电子元件规格参数，应用两组参数分别执行模型的构建；其中，所述捕捉模块部署于电子元件生产设备的输出工位上，捕捉模块由若干组测距模组及机械臂模组组成，若干组所述测距模组呈矩阵状分布于，待测数据对应电子元件上、左、右、前、后，五组正方向位置，测距模组同步运行，对电子元件表面进行测距后，由机械臂模组对电子元件进行翻转，并再次触发测距模组同步运行，再次执行测距操作，测距结果即待测数据对应电子元件规格参数；上载模块中上传的电子元件标准规格参数通过系统端用户手动上传。3.根据权利要求2所述的一种电子元件智能检测设备，其特征在于，所述构建模块运行接收捕捉模块反馈的电子元件规格参数时，对各组电子元件规格参数的来源测距模组进行识别，通过识别结果，并进一步基于规格参数的反馈时序，对接收的电子元件规格参数中，来源于左、右、前、后正方向，且属于二次运行测得的数据进行删除；其中，所述机械臂模组对电子元件进行翻转操作时，翻转角度为180度，测距模组在对电子元件进行测距时，通过下式在获取到测距结果后，对测距结果进行修正，公式为：
式中：S为修正后得到的测距结果；s为修正前得到的测距结果，c为光速，取0.2998m/ns；Δt为测距时间；δ为测距模组矩阵大小；γ为测距模组矩阵使用率；κ为测距目标面平整度；u为测距环境灰尘含杂率；其中，构建模块中删除的测距数据不参与测距结果的修正操作。4.根据权利要求1所述的一种电子元件智能检测设备，其特征在于，所述电子元件的标准模型及待测模型在构建阶段，于三维坐标轴系中的同一起点及同一起点方向完成执行模型构建的操作；其中，选择模块在进行比对视角选择时，通过下式进行比对视角的输出，公式为：式中：PO
g0
为所要输出的比对视角；g为比对视角集合；n为消减项集合；T为比对视角输出阶段时间戳；(t1、t2、...、t
n
‑1、t
n
)为消减项对应时间；取整数；为比对视角集合中第项比对视角；其中，上式中PO
g0
为单一的比对视角时，结...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕宜明，
申请(专利权)人：青岛信驰电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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