【技术实现步骤摘要】
基于LC振荡电路的接近检测装置及接近开关和位移传感器
[0001]本专利技术属于接近检测
，尤其是涉及一种基于
LC
振荡电路的接近检测装置及接近开关和位移传感器
。
技术介绍
[0002]涉及到接近检测的装置有接近开关，位移传感器等，本方案所提出的接近检测装置可被用于接近开关或位移传感器
。
[0003]关于可同时用于接近开关
、
位移传感器的接近检测装置国家知识产权局公开有一个名称为接近和远离金属靶标测量装置
、
接近开关和位移传感器，申请号为
202223410208X
的技术专利，该专利方法采用的是初级线圈和次级线圈的方式实现的接近检测，是通过感应能量大小来判断的，容易受到射频干扰，对此，申请人继续研发，并提出了利用
LC
振荡电路来实现接近检测的思路
。
[0004]如图1所示，
LC
振荡电路是指由电感
L
和电容
C
组成选频网络，用于产生...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，包括由电感
L1
和电容
C1
组成的
LC
振荡电路
(3)
和用于为
LC
振荡电路
(3)
提供高频脉冲源使其产生振荡的脉冲源
(6)
；所述的
LC
振荡电路
(3)
连接于信号处理电路
(5)
，所述的信号处理电路
(5)
用于检测
LC
振荡电路
(3)
的当前振荡频率，并根据振荡频率变化给出接近检测信号
。2.
根据权利要求1所述的基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，
LC
振荡电路
(3)
在脉冲源
(6)
的作用下将存在一个理论振荡频率，当金属靶标
(7)
靠近电感
L1
时，电感值降低，振荡频率增加，反之电感值上升，振荡频率减少；由于金属靶标
(7)
的影响，
LC
振荡电路
(3)
的当前振荡频率与理论振荡频率之间会存在偏差，金属靶标
(7)
距离越远，当前振荡频率与理论振荡频率的偏差越小，反之则越大，信号处理电路
(5)
根据当前振荡频率与理论振荡频率的偏差给出接近检测信号
。3.
根据权利要求1所述的基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，所述的电感
L1
安装在所述接近检测装置
(1)
的检测面
(11)
处，金属靶标
(7)
将相对检测面
(11)
靠近或远离以使电感
L1
随着金属靶标
(7)
的靠近或远离而发生电感值的变化；所述的信号处理电路
(5)
包括
MCU
电路
(51)
，
MCU
电路
(51)
的
AD
端连接于所述
LC
振荡电路
(3)
中电容
C1
的一端，以检测
LC
振荡电路
(3)
的当前振荡频率，并根据当前振荡频率与理论振荡频率的偏差输出接近检测信号
。4.
根据权利要求1所述的基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，还包括由电感
L2
和电容
C2
构成的第二路
LC
振荡电路
(4)
，且第二路
LC
振荡电路
(4)
同样连接于使其产生振荡的第二脉冲源；初始状态下，
LC
振荡电路
(3)
和第二
LC
振荡电路
(4)
的振荡频率一致；所述第二路
LC
振荡电路
(4)
的电感
L2
安装于接近检测装置
(1)
的背离检测面
(11)
处，使其不受金属靶标
(7)
靠近或远离的影响；所述第二路
LC
振荡电路
(4)
连接于所述的信号处理电路
(5)
，信号处理电路
(5)
将第二路
LC
振荡电路
(4)
作为标准振荡频率替代理论振荡频率，并根据
LC
振荡电路
(3)
的当前振荡频率和标准振荡频率的偏差给出接近检测信号
。5.
根据权利要求4所述的基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，所述的信号处理电路
(5)
包括振荡频率比较电路
(52)
，振荡频率比较电路
(52)
的两个输入端分别连接于所述的
LC
振荡电路
(3)
和第二路
LC
振荡电路
(4)
以分别获取并比较当前振荡频率和标准振荡频率，将比较输出结果作为接近检测装置
(1)
的接近检测信号输出；或者，信号处理电路
(5)
还包括
MCU
电路
(51)
，
MCU
电路
(51)
接收频率比较电路的比较输出结果，并根据比较输出结果输出接近检测信号；或者，信号处理电路
(5)
包括
MCU
电路
(51)
，
LC
振荡电路
(3)
和第二路
LC
振荡电路
(4)
的
C1、C2
分别链接
MCU
电路
(51)
的两个
AD
端，
MCU
电路
(51)
根据两个
AD
端的信号得到当前振荡频率和标准振荡频率之间的偏差，并根据得到的偏差输出接近检测信号
。6.
根据权利要求3所述的基于
LC
振荡电路的接近检测装置，其特征在于，所述的接近检测装置
(1)
包括金属外壳
【专利技术属性】
技术研发人员：陈向阳，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：杭州为峰智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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