光模块测试板和光模块测试方法技术

本公开通过了一种光模块测试板，包括：测试板本体；测试光源，固定于测试板本体上，测试光源所发射光信号的数据传输速率配置为可调且最大数据传输速率大于等于

【技术实现步骤摘要】
光模块测试板和光模块测试方法


[0001]本公开涉及光模块测试
，特别涉及一种光模块测试板和光模块测试方法
。

技术介绍

[0002]云计算
、VR/AR、AI、5G
等技术的应用对流量的需求非常大，而流量的爆炸性增长需要更高的带宽
。
随着通信行业的高速发展，光模块也向着小体积，高速率，多功能的方向发展，更高的速率及更复杂的编码方式意味着测试系统需要更强的抗干扰能力以及更昂贵的测试设备
。
传统的误码测试需要测试板
、
误码仪
、
连接测试板与误码仪的高频线缆等设备，基于测试板
、
误码仪
、
高频线缆所搭建起来的误码测试系统，不仅设备昂贵且台位稳定性差
。

技术实现思路

[0003]第一方面，本公开实施例提供了一种光模块测试板，包括：
[0004]测试板本体；
[0005]测试光源，固定于所述测试板本体上，所述测试光源所发射光信号的数据传输速率配置为可调且最大数据传输速率大于等于
800Gbps
，所述测试光源用于产生并发射误码测试光信号；
[0006]第一射频连接器，固定于所述测试板本体上，用于供适配的待测试光模块进行连接，以使得所述待测试光模块与所述测试板本体上对应的导电线路电连接，所述第一射频连接器为
QSFP
‑
DD
射频连接器或
OSFP
射频连接器；
[0007]第一光纤线路，用于将所述测试光源所发射的误码测试光信号传递至待测试光模块，以供所述待测试光模块根据接收到的误码测试光信号生成并输出对应的误码测试电信号；
[0008]信号处理模块，固定于所述测试板本体上，通过所述测试板本体上的第一导电线路与所述待测试光模块相连，用于通过所述第一导电线路来接收所述待测试光模块所输出的所述误码测试电信号，并根据所述误码测试电信号确定所述待测试光模块的误码率
。
[0009]在一些实施例中，所述第一射频连接器为
QSFP
‑
DD
射频连接器，所述待测试光模块包括：
800G QSFP
‑
DD
封装光模块
、400G QSFP
‑
DD
封装光模块
、200GQSFP56
封装光模块或
100G QSFP28
封装光模块；
[0010]或者，所述第一射频连接器为
OSFP
射频连接器，所述待测试光模块包括
800GOSFP
封装光模块
。
[0011]在一些实施例中，所述信号处理模块还通过所述测试板本体上的第二导电线路与所述待测试光模块相连，所述信号处理模块还用于通过所述第二导电线路将输出测试电信号发送至所述待测试光模块，以供所述待测试光模块基于所述输出测试电信号进行输出性能测试
。
[0012]在一些实施例中，还包括：第二光纤线路
、
第一光开关和第二光开关；
[0013]所述待测试光模块的
Line
侧的
TX
端子对应
M
条光通道，所述第二光纤线路包括
M
条光通道，所述第一光开关的输入端具有所述第二光纤线路一一对应的
M
条光通道，所述第一光开关的输出端具有1条光通道，所述第二光开关的输入端具有1条光通道，所述第二光开关的输出端具有
N
条光通道；
[0014]所述第二光纤线路的一端与所述待测试光模块相连，所述第二光纤线路的另一端与所述第一光开关的输入端相连，所述第一光开关的输出端与所述第二光开关的输入端相连，所述第二光开关的输出端与至少一个光测试设备相连；
[0015]所述第二光纤线路用于将所述待测试光模块的
Line
侧的
TX
端子所对应的
M
条光通道中的光信号分别传输至所述第一光开关；
[0016]所述第一光开关用于响应于外部控制将输入端处
M
条光通道中的1条第一目标光通道所传输的光信号传递至输出端；
[0017]所述第二光开关用于响应于外部控制将输入端处的光信号传递至输出端处
N
条光通道中的1条第二目标光通道，以供与所述第二目标光通道相连的外部测试设备根据所述第二目标光通道中的光信号进行测试
。
[0018]在一些实施例中，所述光模块测试板还包括：
[0019]微控制单元，通过第三通信链路与所述信号处理模块相连，用于通过所述第三通信链路信号处理模块向所述信号处理模块发送当前误码测试所对应的测试信号码型和测试信号速率，以及还用于通过所述第三通信链路接收所述信号处理模块所反馈的所述待测试光模块的误码率信息；
[0020]所述微控制单元配置有至少一个通信接口，以供所述微控制单元通过所述通信接口与上位机进行数据通信
。
[0021]在一些实施例中，所述光模块测试板还包括：第一监控模块和第二监控模块中至少之一；
[0022]所述第一监控模块通过第一通信链路与所述测试光源相连，用于通过所述第一通信链路来监控所述测试光源的工作状态并生成对应的第一工作状态信息，且将所述第一工作状态信息发送至上位机；
[0023]所述第二监控模块通过第二通信链路与所述待测试光模块相连，用于通过所述第二通信链路来监控所述待测试光模块的工作状态并生成对应的第二工作状态信息，且将所述第二工作状态信息发送至上位机
。
[0024]在一些实施例中，所述光模块测试板还包括：拨码开关模块和显示模块中至少之一；
[0025]所述拨码开关模块与所述第一射频连接器连接，用于控制第一射频连接器中至少部分管脚的电平；
[0026]所述显示模块与所述第一射频连接器连接，用于显示所述第一射频连接器的至少部分管脚的工作状态
。
[0027]在一些实施例中，所述光模块测试板还包括：电源模块
、
降压芯片和缓启芯片；
[0028]所述电源模块用于提供测试板工作电压；
[0029]所述压降芯片，与所述电源模块和缓启芯片均电连接，用于对所述电源模块所提
供的所述测试板工作电压进行降压处理得到光模块工作电压，并将所述光模块工作电压通过所述缓启芯片通过给所述第一射频连接器，以给与所述第一射频连接器相连的待测试光模块进行供电
。
[0030]第二方面，本公开实施例还提供了一种光模块测试方法，基于第一方面中提供的所述光模块测试板，所述光模块测试方法包括对待测试光模块进行误码率测试的步骤，具体包括：
[0031]测试光源产生并发射误码测试光信号；
[0032]第一光纤线路将所述测试光源所发射的误码测试光信号传递至与第一射频连接器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光模块测试板，其特征在于，包括：测试板本体；测试光源，固定于所述测试板本体上，所述测试光源所发射光信号的数据传输速率配置为可调且最大数据传输速率大于等于
800Gbps
，所述测试光源用于产生并发射误码测试光信号；第一射频连接器，固定于所述测试板本体上，用于供适配的待测试光模块进行连接，以使得所述待测试光模块与所述测试板本体上对应的导电线路电连接，所述第一射频连接器为
QSFP
‑
DD
射频连接器或
OSFP
射频连接器；第一光纤线路，用于将所述测试光源所发射的误码测试光信号传递至待测试光模块，以供所述待测试光模块根据接收到的误码测试光信号生成并输出对应的误码测试电信号；信号处理模块，固定于所述测试板本体上，通过所述测试板本体上的第一导电线路与所述待测试光模块相连，用于通过所述第一导电线路来接收所述待测试光模块所输出的所述误码测试电信号，并根据所述误码测试电信号确定所述待测试光模块的误码率
。2.
根据权利要求1所述的光模块测试板，其特征在于，所述第一射频连接器为
QSFP
‑
DD
射频连接器，所述待测试光模块包括：
800G QSFP
‑
DD
封装光模块
、400G QSFP
‑
DD
封装光模块
、200G QSFP56
封装光模块或
100G QSFP28
封装光模块；或者，所述第一射频连接器为
OSFP
射频连接器，所述待测试光模块包括
800GOSFP
封装光模块
。3.
根据权利要求1所述的光模块测试板，其特征在于，所述信号处理模块还通过所述测试板本体上的第二导电线路与所述待测试光模块相连，所述信号处理模块还用于通过所述第二导电线路将输出测试电信号发送至所述待测试光模块，以供所述待测试光模块基于所述输出测试电信号进行输出性能测试
。4.
根据权利要求3所述的光模块测试板，其特征在于，还包括：第二光纤线路
、
第一光开关和第二光开关；所述待测试光模块的
Line
侧的
TX
端子对应
M
条光通道，所述第二光纤线路包括
M
条光通道，所述第一光开关的输入端具有所述第二光纤线路一一对应的
M
条光通道，所述第一光开关的输出端具有1条光通道，所述第二光开关的输入端具有1条光通道，所述第二光开关的输出端具有
N
条光通道；所述第二光纤线路的一端与所述待测试光模块相连，所述第二光纤线路的另一端与所述第一光开关的输入端相连，所述第一光开关的输出端与所述第二光开关的输入端相连，所述第二光开关的输出端与至少一个光测试设备相连；所述第二光纤线路用于将所述待测试光模块的
Line
侧的
TX
端子所对应的
M
条光通道中的光信号分别传输至所述第一光开关；所述第一光开关用于响应于外部控制将输入端...

【专利技术属性】
技术研发人员：严伦，刘青，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：