一种检测制造技术

技术编号:39417474 阅读:11 留言:0更新日期:2023-11-19 16:07
本发明专利技术公开了一种检测

【技术实现步骤摘要】
一种检测USB主设备工作状态的方法、装置及设备


[0001]本专利技术涉及通用串行总线
,尤其涉及一种检测
USB
主设备工作状态的方法

装置及设备


技术介绍

[0002]通用串行总线
(USB)
是一种通信接口标准,广泛应用于个人计算机

电子设备

嵌入式系统等领域

目前从设备通过标准
USB
接口与
USB
主设备连接并通讯,从而获取
USB
主设备的工作状态

[0003]但本申请专利技术人在实现本申请实施例中专利技术技术方案的过程中,发现上述技术至少存在如下技术问题:
[0004]对于仅需要了解主设备的工作状态而不需要具体进行通讯的从设备端,配置标准的
USB
接口使得整个从设备不仅硬件成本增加,系统架构也变得复杂


技术实现思路

[0005]本申请实施例通过提供一种检测
USB
主设备工作状态的方法

装置及设备,解决了现有技术中
USB
主设备工作状态检测设备系统架构比较复杂,硬件成本比较高的问题,降低了检测装置系统设计的复杂度,节约了检测装置的成本

[0006]本申请实施例提供了一种检测
USB
主设备工作状态的方法

装置及设备,以解决目前从设备检测
USB
主设备工作状态系统架构比较复杂,硬件成本比较高的问题

[0007]为解决上述问题,本说明书实施例提供的一种检测
USB
主设备工作状态的方法,所述方法应用于以
MCU

I/O
引脚对
USB
主设备工作状态进行检测的从设备,包括以下步骤:
[0008]步骤1,所述从设备
MCU
的第一
I/O
引脚通过上拉电阻与
USB
主设备
USB
端口的第一数据通讯端口连接,所述从设备
MCU
的第二
I/O
引脚与所述
USB
主设备
USB
端口的第一或者第二数据通讯端口连接;
[0009]步骤2,所述从设备
MCU
的第一
I/O
引脚输出高电平,用于使所述
USB
主设备
USB
端口的第一数据通讯端口变为高电平;
[0010]步骤3,所述从设备检测所述
MCU
的第二
I/O
引脚的电平变化,用于判断所述
USB
主设备的工作状态,当所述
MCU
的第二
I/O
引脚有连续的电平变化时,判断所述
USB
主设备处于工作状态;当所述
MCU
的第二
I/O
引脚持续为低电平时,判断所述
USB
主设备处于休眠或者关机状态

[0011]所述方法还包括,所述从设备完成对所述
USB
主设备的工作状态判断后,所述
MCU
的第一
I/O
引脚输出低电平,用于关闭所述从设备对所述
USB
主设备工作状态的检测

[0012]所述方法还包括,当所述
MCU
的第一
I/O
引脚输出低电平后,定时预定时间后,返回步骤1以重复检验所述
USB
主设备的工作状态

[0013]第二方面,本说明书实施例提供一种检测
USB
主设备工作状态的装置,所述装置应用于以
MCU

I/O
引脚对
USB
主设备工作状态进行检测的从设备,包括:
[0014]第一
I/O
引脚,所述第一
I/O
引脚通过上拉电阻与所述
USB
主设备
USB
端口的第一数据通讯端口连接;
[0015]第二
I/O
引脚,所述第二
I/O
引脚与所述
USB
主设备
USB
端口的第一或者第二数据通讯端口连接;
[0016]控制单元,用于控制所述第一
I/O
引脚输出高电平;
[0017]状态检测单元,用于通过所述第二
I/O
引脚检测所述
USB
主设备
USB
端口的第一或者第二数据通讯端口的电平变化,若所述第二
I/O
引脚检测到有连续的电平变化,判断所述
USB
主设备处于工作状态;若所述第二
I/O
引脚检测到电平为持续的低电平时,判断所述
USB
主设备处于休眠或者关机状态

[0018]进一步地,所述控制模块,还用于控制所述第一
I/O
引脚输出低电平,所述从设备关闭对所述
USB
主设备工作状态的检测

[0019]进一步地,还包括定时单元,所述从设备在所述第一
I/O
引脚输出低电平预定时间后,所述控制单元控制所述第一
I/O
引脚输出高电平,用以定时重复检测所述
USB
主设备的工作状态

[0020]第三方面,本说明书实施例提供一种检测
USB
主设备工作状态的设备,包括如权利要求4到权利要求6所述的一种检测
USB
主设备工作状态的装置

[0021]进一步地,还包括:风扇单元,所述风扇单元用于为所述
USB
主设备进行散热

[0022]进一步地,所述控制单元还用于根据所述
USB
主设备的工作状态控制所述风扇单元的工作状态

[0023]本申请实施例中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
[0024]由于从设备采用了以
MCU

I/O
引脚对
USB
主设备工作状态进行检测,无需采用标准的
USB
接口,由此,有效解决了现有技术中的
USB
主设备工作状态检测设备系统架构设计复杂,硬件成本比较高的问题,进而实现了优化从设备的系统设计,优化了从设备的设计成本的技术效果

附图说明
[0025]图1为本申请实施例一种检测
USB
主设备工作状态的方法的流程图;
[0026]图2为本申请实施例一种可持续检本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种检测
USB
主设备工作状态的方法,其特征在于,该方法应用于以
MCU

I/O
引脚对
USB
主设备工作状态进行检测的从设备,包括以下步骤:步骤1,所述从设备
MCU
的第一
I/O
引脚通过上拉电阻与
USB
主设备
USB
端口的第一数据通讯端口连接,所述从设备
MCU
的第二
I/O
引脚与所述
USB
主设备
USB
端口的第一或第二数据通讯端口连接;步骤2,所述从设备
MCU
的第一
I/O
引脚输出高电平,用于使所述
USB
主设备
USB
端口的第一数据通讯端口变为高电平;步骤3,所述从设备检测所述
MCU
的第二
I/O
引脚的电平变化,用于判断所述
USB
主设备的工作状态,当所述
MCU
的第二
I/O
引脚有连续的电平变化时,判断所述
USB
主设备处于工作状态;当所述
MCU
的第二
I/O
引脚持续为低电平时,判断所述
USB
主设备处于休眠或者关机状态
。2.
如权利要求1所述的一种检测
USB
主设备工作状态的方法,其特征在于,所述方法还包括,所述从设备完成对所述
USB
主设备的工作状态判断后,所述
MCU
的第一
I/O
引脚输出低电平,用于关闭所述从设备对所述
USB
主设备工作状态的检测
。3.
如权利要求2所述的一种检测
USB
主设备工作状态的方法,其特征在于,所述方法还包括,当所述
MCU
的第一
I/O
引脚输出低电平后,定时预定时间后,返回步骤1以重复检验所述
USB
主设备的工作状态
。4.
一种检测
USB
主设备工作状态的装置,其特征在于,该装置应用于以
MCU

I/O
引脚对
USB
主设备工作状态进行检测的从设备,包括:第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:李庆华
申请(专利权)人:深圳市惠志科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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