屏幕检测方法、装置、系统、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种屏幕检测方法、装置、系统、设备及存储介质，包括：控制机械触点在待检测屏幕中按照如下方式绘制轨迹：沿所述待检测屏幕的边缘绘制轨迹，将所述待检测屏幕划分为多个子区域，在所述各子区域中绘制设定样式的轨迹；在绘制轨迹的过程中，实时的获取所述机械触点的移动位置信息及所述待检测屏幕的响应位置信息；对绘制了轨迹的待检测屏幕进行图像采集，获得目标图像；基于所述移动位置信息、所述响应位置信息及所述目标图像确定所述待检测屏幕的检测结果。本发明专利技术实施例提供的屏幕检测方法，在待检测屏幕中通过在边缘绘制轨迹加子区域内绘制设定样式轨迹方式来检测屏幕中的坏点及无响应点，提高屏幕检测的精度和准确度。确度。确度。

【技术实现步骤摘要】
屏幕检测方法、装置、系统、设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及屏幕检测
，尤其涉及一种屏幕检测系统。

技术介绍

[0002]面板类产品在生产过程中出现的缺陷或者瑕疵一般包含：异物、裂纹、划伤、功能性缺陷(如：区域显示异常、亮斑及黑线)及性能缺陷(如：触屏功能失灵、触屏位置漂移)等。现有技术中，通过人工结合作业指导书的方式屏幕进行检测，对于异物、裂纹、划伤、功能性缺陷的检测，在屏幕点亮的情况下由人工判定是否合格；对于性能缺陷的检测，由人工在规定区域画线，目视判定线是否偏移或断线。现有的方案，检测结果依赖人工判断，对于屏幕中的细小缺陷难以检测到。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种屏幕检测方法、装置、系统、设备及存储介质，可以提高屏幕检测的准确性及精度。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种屏幕检测方法，包括：
[0005]控制机械触点在待检测屏幕中按照如下方式绘制轨迹：沿所述待检测屏幕的边缘绘制轨迹，将所述待检测屏幕划分为多个子区域，在所述各子区域中绘制设定样式的轨迹；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种屏幕检测方法，其特征在于，包括：控制机械触点在待检测屏幕中按照如下方式绘制轨迹：沿所述待检测屏幕的边缘绘制轨迹，将所述待检测屏幕划分为多个子区域，在所述各子区域中绘制设定样式的轨迹；在绘制轨迹的过程中，实时的获取所述机械触点的移动位置信息及所述待检测屏幕的响应位置信息；对绘制了轨迹的待检测屏幕进行图像采集，获得目标图像；基于所述移动位置信息、所述响应位置信息及所述目标图像确定所述待检测屏幕的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述移动位置信息、所述响应位置信息及所述目标图像确定所述待检测屏幕的检测结果，包括：获取所述移动位置信息与所述响应位置信息间的偏差；对所述目标图像中的轨迹进行识别，获得轨迹识别结果；基于所述偏差和所述轨迹识别结果确定所述待检测屏幕的检测结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述移动位置信息与所述响应位置信息间的偏差，包括：对所述移动位置信息进行坐标转换；其中，所述坐标转换为由所述机械触点所在的坐标系转换至屏幕坐标系；确定坐标转换后的移动位置信息与所述响应位置信息间的偏差。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标图像中包括：屏幕边缘轨迹、区域边界轨迹及设定样式轨迹。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述偏差和所述轨迹识别结果确定所述待检测屏幕的检测结果，包括：对于屏幕边缘轨迹或者区域边界轨迹，若所述偏差大于设定阈值和/或所述轨迹识别结果为轨迹中存在未显示设定颜色的像素区域，则所述屏幕边缘轨迹或者所述区域边界轨迹对应的屏幕区域的检测结果为存在坏点或者无响应点；对于设定样式轨迹，若所述偏差大于设定阈值和/或所述轨迹识别结果为轨迹出现断线，则所述设定样式轨迹对应的屏幕子区域的检测结果触屏功能异常。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：获取屏幕最大响应时间、网络延时及所述机械触点的移动速度；基于所述屏幕最大响应时间、所述网络延时及所述机械触点的移动速度确定所述设定阈值。7...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯林，雷伟，魏玉平，王悦，
申请(专利权)人：普源精电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：