一种嵌入式电路、微处理器及测试设备制造技术

本申请公开了一种嵌入式电路、微处理器及测试设备，所述嵌入式电路包括：第一降压稳压器，单片机，第一连接器，第二连接器，第三连接器；其中，所述第一降压稳压器和所述单片机连接，用于提供和摄像头模组相同的工作电压给所述单片机，以使所述单片机和所述摄像头模组在相同工作电压下工作；所述单片机通过所述第一连接器连接所述摄像头模组中的驱动芯片，用于通过所述第一连接器控制所述驱动芯片进行OIS功能测试；所述单片机分别通过所述第二连接器和第三连接器连接测试盒，用于通过所述第二连接器接收所述测试盒的测试指令发起所述OIS功能测试，以及用于通过所述第三连接器外接烧录设备对所述OIS功能测试的测试结果数据进行烧录。录。录。

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式电路、微处理器及测试设备


[0001]本申请涉及摄像头模组测试
，尤其涉及一种嵌入式电路、微处理器及测试设备。

技术介绍

[0002]摄像头模组(Camera Compact Module)是影像捕捉中至关重要的电子器件，在通信、车载、智能安防等领域均有应用。
[0003]为了提高成像质量，摄像头模组内部一般装载有VCM(Voice Coil Motor，音圈马达)和Driver IC驱动芯片，两者共同作用消除抖动对成像质量的影响，业界称之为OIS(Optical Image Stabilization)光学防抖技术。
[0004]摄像头模组在生产到一定阶段时，会采用测试设备对VCM和Driver IC驱动芯片进行针对性测试。例如，在测试机台中安装MCU(Microcontroller Unit，微处理器)，用以控制VCM和Driver IC驱动芯片进行OIS功能测试。
[0005]但是，现有的MCU一般采用成品开发板，例如ST公司提供的L432KC开发板，电路结构繁琐，较为占用测试机台的空间，导致测试设备的测试效率低下。

技术实现思路

[0006]本申请提供了一种嵌入式电路、微处理器及测试设备，利用第一降压稳压器提供和摄像头模组相同的工作电压来替代电平转换电路，以及利用第三连接器对所述OIS功能测试的测试结果数据进行烧录来替代数据烧录电路，以此优化MCU的内部结构设计，使MCU的体积显著减小，从而有效解决现有测试设备中因MCU占用测试机台空间过大导致的测试效率低下的技术问题，能够提高测试设备的测试效率。
[0007]为解决上述技术问题，本申请的第一方面，公开了一种嵌入式电路，所述嵌入式电路包括：第一降压稳压器，单片机，第一连接器，第二连接器，第三连接器；其中，
[0008]所述第一降压稳压器和所述单片机连接，用于提供和摄像头模组相同的工作电压给所述单片机，以使所述单片机和所述摄像头模组在相同工作电压下工作；
[0009]所述单片机通过所述第一连接器连接所述摄像头模组中的驱动芯片，用于通过所述第一连接器控制所述驱动芯片进行OIS功能测试；
[0010]所述单片机分别通过所述第二连接器和第三连接器连接测试盒，用于通过所述第二连接器接收所述测试盒的测试指令发起所述OIS功能测试，以及用于通过所述第三连接器外接烧录设备对所述OIS功能测试的测试结果数据进行烧录。
[0011]可选地，所述第一降压稳压器分别连接所述第二连接器和所述第三连接器，用于提供和所述摄像头模组相同的工作电压给所述第二连接器和所述第三连接器。
[0012]可选地，所述嵌入式电路还包括：
[0013]第二降压稳压器，连接在所述第一降压稳压器的输入端，用于为所述第一降压稳压器供电。
[0014]可选地，所述第一降压稳压器连接在所述单片机的数字工作电压VDD引脚端，以及连接在所述AVDD引脚端；
[0015]所述单片机通过调整所述VDD引脚端和所述AVDD引脚端的输入电压，得到和所述摄像头模组相同的工作电压。
[0016]可选地，第一电容电路，连接在所述VDD引脚端，用于对所述单片机的用电进行安全保护。
[0017]可选地，所述嵌入式电路还包括：
[0018]第二电容电路，连接在所述AVDD引脚端，用于对所述单片机的用电进行安全保护。
[0019]可选地，所述嵌入式电路还包括：
[0020]第四连接器，连接所述单片机，用作备用接口。
[0021]可选地，所述第三连接器，还用于接收所述测试盒的测试指令发起所述OIS功能测试。
[0022]本申请的第二方面，公开了一种微处理器，包括上述第一方面任一所述的嵌入式电路。
[0023]本申请的第三方面，公开了一种测试设备，包括：测试机台，以及在所述测试机台装载的包括上述第二方面所述的微处理器。
[0024]通过本申请的一个或者多个技术方案，本申请具有以下有益效果或者优点：
[0025]在本申请中，公开了一种嵌入式电路，包括：第一降压稳压器，单片机，第一连接器，第二连接器，第三连接器；其中，第一降压稳压器和单片机连接，用于提供和摄像头模组相同的工作电压给单片机，以使单片机和摄像头模组在相同工作电压下工作；单片机通过第一连接器连接摄像头模组中的驱动芯片，用于通过第一连接器控制驱动芯片进行OIS功能测试；单片机分别通过第二连接器和第三连接器连接测试盒，用于通过第二连接器接收测试盒的测试指令发起OIS功能测试，以及用于通过第三连接器对OIS功能测试的测试结果数据进行烧录。由于本申请利用第一降压稳压器提供和摄像头模组相同的工作电压来替代电平转换电路，以及利用第三连接器外接烧录设备对所述OIS功能测试的测试结果数据进行烧录来替代MCU内部的烧录电路，以此优化MCU的内部结构设计，使MCU的体积显著减小，从而有效解决现有测试设备中因MCU占用测试机台空间过大导致的测试效率低下的技术问题，能够提高测试设备的测试效率。
[0026]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0027]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。
[0028]在附图中：
[0029]图1示出了根据本申请一个实施例的嵌入式电路的功能结构示意图；
[0030]图2示出了根据本申请一个实施例的基于图1的一种具体实施例中的嵌入式电路
的功能结构示意图；
[0031]图3示出了根据本申请一个实施例的基于图1的另一种具体实施例中的嵌入式电路的功能结构示意图；
[0032]图4示出了根据本申请一个实施例的第一降压稳压器的电路示意图；
[0033]图5示出了根据本申请一个实施例的第二降压稳压器的电路示意图；
[0034]图6示出了根据本申请一个实施例的单片机的电源部分的示意图；
[0035]图7示出了根据本申请一个实施例的单片机的控制部分的示意图；
[0036]图8示出了根据本申请一个实施例的第一电容电路的示意图；
[0037]图9示出了根据本申请一个实施例的第二电容电路的示意图；
[0038]图10示出了根据本申请一个实施例的第一连接器的示意图；
[0039]图11示出了根据本申请一个实施例的第二连接器的示意图；
[0040]图12示出了根据本申请一个实施例的第三连接器的图；
[0041]图13示出了根据本申请一个实施例的第四连接器的图；。
具体实施方式
[0042]本申请实施例通过提供一种嵌入式电路，有效解决了现有测试设备本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式电路，其特征在于，所述嵌入式电路包括：第一降压稳压器，单片机，第一连接器，第二连接器，第三连接器；其中，所述第一降压稳压器和所述单片机连接，用于提供和摄像头模组相同的工作电压给所述单片机，以使所述单片机和所述摄像头模组在相同工作电压下工作；所述单片机通过所述第一连接器连接所述摄像头模组中的驱动芯片，用于通过所述第一连接器控制所述驱动芯片进行OIS功能测试；所述单片机分别通过所述第二连接器和第三连接器连接测试盒，用于通过所述第二连接器接收所述测试盒的测试指令发起所述OIS功能测试，以及用于通过所述第三连接器外接烧录设备对所述OIS功能测试的测试结果数据进行烧录。2.如权利要求1所述的嵌入式电路，其特征在于，所述第一降压稳压器分别连接所述第二连接器和所述第三连接器，用于提供和所述摄像头模组相同的工作电压给所述第二连接器和所述第三连接器。3.如权利要求1所述的嵌入式电路，其特征在于，所述嵌入式电路还包括：第二降压稳压器，连接在所述第一降压稳压器的输入端，用于为所述第一降压稳压器供电。4.如权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：树林，
申请(专利权)人：昆山丘钛光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：