一种EVA膜耐烘烤性能检测结构制造技术

技术编号:39383334 阅读:6 留言:0更新日期:2023-11-18 11:10
本实用新型专利技术涉及EVA膜领域,公开了一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,包括有机架,设置在机架上方内部的烘干器,设置在烘干器下方的夹具,本实用新型专利技术解决了人工放置重物时,需要人工非常小心放置重物,避免出现放置的重物没有到达EVA膜处,重物就已经脱手,对EVA膜造成冲击效果,导致实验结论不够准确,这使得工作人员在放置重物需要高度集中注意力,使得放重物时非常麻烦的问题,通过设置有往复机构,使得转动往复机构,带动重物进行上下运动,避免重物对EVA膜造成冲击,在保持重物放置一段时间后,往复机构带动重物向上运动,测试实验结束,不需要工作人员高度集中注意力放置重物,从而达到了便于放置重物使实验变得简单的目的。达到了便于放置重物使实验变得简单的目的。达到了便于放置重物使实验变得简单的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种EVA膜耐烘烤性能检测结构


[0001]本技术涉及EVA膜领域,具体为一种EVA膜耐烘烤性能检测结构。

技术介绍

[0002]EVA膜耐烘烤性能检测结构是一种对EVA膜的耐烘烤性能进行检测的装置,其主要目的是检测出EVA膜在一定的高温下其软化变形效果。
[0003]现有对EVA膜耐烘烤性能进行检测时,需要在EVA膜在被烘烤时,人工在被烘烤的EVA膜上增加重物,根据重物压弯EVA膜变形的程度对EVA膜的耐烘烤性能进行评判,但是人工放置重物时,需要人工非常小心放置重物,避免出现放置的重物没有到达EVA膜处,重物就已经脱手,对EVA膜造成冲击效果,导致实验结论不够准确,这使得工作人员在放置重物需要高度集中注意力,使得放重物时非常麻烦。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,采用本装置进行工作,从而解决了人工放置重物时,需要人工非常小心放置重物,避免出现放置的重物没有到达EVA膜处,重物就已经脱手,对EVA膜造成冲击效果,导致实验结论不够准确,这使得工作人员在放置重物需要高度集中注意力,使得放重物时非常麻烦的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,包括有机架,设置在机架上方内部的烘干器,设置在烘干器下方的夹具,机架的上方外侧设置有往复机构,往复机构左侧设置有限位机构,往复机构用于平稳放置重物,限位机构用于改变重物的重量。
[0006]优选的,往复机构包括有设置在机架上方的电机,电机的输出端设置有第一传动轴,第一传动轴的右端设置有第一连接杆,第一连接杆的左侧设置有第二连接杆,第二连接杆的内部设置有第一孔洞,第一孔洞的内部设置有第一限位杆,机架的右侧内部设置有第二孔洞,第二孔洞的内部设置有第三连接杆,第二连接杆的下方设置有第四连接杆,第三连接杆的两端下方设置有第二限位杆,第三连接杆的前侧设置有第一砝码,第一砝码的两端内部设置有第二凹槽。
[0007]优选的,第二连接杆与机架的连接方式为竖直滑动连接,且第二连接杆的中心轴线与第一连接杆的中心轴线平行,使得第二连接杆进行上下滑动。
[0008]优选的,第一孔洞的宽度与第一限位杆的宽度一致,且第一孔洞中间为圆弧形结构制成的构件,并且第一孔洞的两端为水平型为梯形结构制成的构件,使得第一限位杆在第一孔洞的内部进行运动。
[0009]优选的,第二限位杆的内侧宽度与第二凹槽的宽度一致,且第二限位杆的内侧高度小于第二凹槽的高度,并且第二凹槽为矩形形结构制成的构件,使得第二限位杆在第二凹槽的内部不会发生转动。
[0010]优选的,限位机构包括有第一砝码上方的第二砝码,第二砝码的下方设置有第三
限位杆,第一砝码的上方内部设置有第三凹槽,第二砝码的两端设置有第四限位杆,第二砝码的上方内部设置有第四凹槽,第一孔洞的外侧连通有第三孔洞。
[0011]优选的,第三孔洞等距分布在第一孔洞的外侧,且第三孔洞的宽度与第四限位杆的宽度一致,使得第四限位杆在第三孔洞的内部进行运动。
[0012]优选的,第三凹槽的宽度与第三限位杆的宽度一致,且第三凹槽与第四凹槽的宽度一致,使得第三限位杆运动到第三凹槽的内部。
[0013]与现有技术相比,本技术的有益效果如下:
[0014]1、本技术提出的一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,通过设置有往复机构,使得转动往复机构,带动重物进行上下运动,在重物接触到EVA膜时,往复机构会平稳的将重物放在EVA膜上,避免重物对EVA膜造成冲击,在保持重物放置一段时间后,往复机构带动重物向上运动,测试实验结束,不需要工作人员高度集中注意力放置重物,从而达到了便于放置重物使实验变得简单的目的。
[0015]2、本技术提出的一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,通过设置有限位机构,推动限位机构使得限位机构运动到往复机构的上方,跟随往复机构进行上下往复的运动,以使得往复机构的重量发生变化,可以对不同强度的EVA膜进行测试,从而实现了使用范围广的目的。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体立体结构示意图;
[0017]图2为本技术的往复机构与限位机构立体结构示意图;
[0018]图3为本技术的机架立体结构示意图;
[0019]图4为本技术的第二砝码立体结构示意图;
[0020]图5为本技术的第一砝码立体结构示意图;
[0021]图6为本技术的图1中A处结构示意图。
[0022]图中:1、机架;2、烘干器;3、夹具;4、往复机构;5、限位机构;401、电机;402、第一传动轴;403、第一连接杆;404、第二连接杆;405、第一孔洞;406、第一限位杆;407、第二孔洞;408、第三连接杆;409、第四连接杆;410、第二限位杆;411、第一砝码;412、第二凹槽;501、第二砝码;502、第三限位杆;503、第三凹槽;504、第四限位杆;505、第四凹槽;506、第三孔洞。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1

6,本技术提供技术方案:一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,包括有机架1,设置在机架1上方内部的烘干器2,设置在烘干器2下方的夹具3,机架1的上方外侧设置有往复机构4,往复机构4左侧设置有限位机构5,往复机构4用于平稳放置重物,限位机构5用于改变重物的重量。
[0025]往复机构4包括有设置在机架1上方的电机401,电机401的输出端设置有第一传动
轴402,第一传动轴402的右端设置有第一连接杆403,第一连接杆403的左侧设置有第二连接杆404,第二连接杆404的内部设置有第一孔洞405,第一孔洞405的内部设置有第一限位杆406,机架1的右侧内部设置有第二孔洞407,第二孔洞407的内部设置有第三连接杆408,第二连接杆404的下方设置有第四连接杆409,第三连接杆408的两端下方设置有第二限位杆410,第三连接杆408的前侧设置有第一砝码411,第一砝码411的两端内部设置有第二凹槽412,第二连接杆404与机架1的连接方式为竖直滑动连接,且第二连接杆404的中心轴线与第一连接杆403的中心轴线平行,使得第二连接杆404进行上下滑动,第一孔洞405的宽度与第一限位杆406的宽度一致,且第一孔洞405中间为圆弧形结构制成的构件,并且第一孔洞405的两端为水平型为梯形结构制成的构件,使得第一限位杆406在第一孔洞405的内部进行运动,第二限位杆410的内侧宽度与第二凹槽412的宽度一致,且第二限位杆410的内侧高度小于第二凹槽412的高度,并且第二凹槽4本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,包括有机架(1),设置在机架(1)上方内部的烘干器(2),设置在烘干器(2)下方的夹具(3),其特征在于:所述机架(1)的上方外侧设置有往复机构(4),所述往复机构(4)左侧设置有限位机构(5),所述往复机构(4)用于平稳放置重物,所述限位机构(5)用于改变重物的重量。2.根据权利要求1所述的一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,其特征在于:所述往复机构(4)包括有设置在机架(1)上方的电机(401),所述电机(401)的输出端设置有第一传动轴(402),所述第一传动轴(402)的右端设置有第一连接杆(403),所述第一连接杆(403)的左侧设置有第二连接杆(404),所述第二连接杆(404)的内部设置有第一孔洞(405),所述第一孔洞(405)的内部设置有第一限位杆(406),所述机架(1)的右侧内部设置有第二孔洞(407),所述第二孔洞(407)的内部设置有第三连接杆(408),所述第二连接杆(404)的下方设置有第四连接杆(409),所述第三连接杆(408)的两端下方设置有第二限位杆(410),所述第三连接杆(408)的前侧设置有第一砝码(411),所述第一砝码(411)的两端内部设置有第二凹槽(412)。3.根据权利要求2所述的一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,其特征在于:所述第二连接杆(404)与机架(1)的连接方式为竖直滑动连接,且第二连接杆(404)的中心轴线与第一连接杆(403)的中心轴线平行,使得第二连接杆(404)进行上下滑动。4.根据权利要求2所述的一种EVA膜耐烘烤性能检测结构,其特征在于:所述第一孔洞(405)的宽度与第一限位杆(...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊政政汪勇薛峰
申请(专利权)人:南京金永发塑胶加工制品有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1