一种光栅尺制造技术

本实用新型专利技术涉及一种光栅尺，包括一主尺，该主尺上均匀分布有图案符号；以及一预设有参照点的检出器，其设于主尺上方，并相对主尺呈滑动结构，其中，利用检出器来采集主尺上图案符号的图像并结合预设的参照点进行计算相应测量位置，由于该检出器及主尺系可采用通用配件制成，其相对传统增量式及绝对式光栅尺需配合特定电子器件而言，成本低，有利于生产制造，并更可进行小型化设计，有利于市场推广。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光栅尺，尤其是指一种成本低且制作工艺简化的光栅尺。
技术介绍
随着光学技术的突飞猛进，用于精确测量的光栅尺应运而生，其结合了光学、电子 技术，广泛应用于对位移及速度的精密测量中，以取代传统需结合时间量测工具进行测量 的游标卡尺或千分尺。当前，光栅尺分为增量式及绝对式两种类型，如图1，增量式光栅尺是 采用AB相输出产生近似正弦变化的电信号，以达到位置侦测之目的；如图2，绝对式光栅尺 包括有编码区(ABS)l’和增量区(INC)2’，而编码区1’是采用光敏器件读数，如光电二极管 等，增量区2’也是采用前述AB相输出模式，最终二者通过数码输出方式产生正弦变化电信 号，实现位置侦测之目的。上述光栅尺相对传统精密测量手段，具有测量精度高，并可将测 量值通过数字信号来表示，方便该测量值的读取与传输，然而，上述光栅尺测量时，由于都 需要带有高速处理器的电子器件并藉以特定软件来进行计算测量位置，其虽然反应时间较 快，精度也高，但是其成本高，投入大，制作时配套设施繁多，且不利于小型化设计，并相对 与电脑配合时，在软件或硬件上也会受到一定限制，不利于市场推广。
技术实现思路
本技术针对上述现有技术所存在之缺失，主要目的在于提供一种成本低、制 作简化且精确度高的光栅尺。为实现上述之目的，本技术采取如下技术方案一种光栅尺，包括一主尺，该主尺上均勻分布有图案符号；以及一预设有参照点的 检出器，其设于主尺上方，并相对主尺呈滑动结构，用于采集主尺上图案符号的图像并结合 所预设的参照点位置来计算出测量位置。所述检出器为一种将所采集的图案符号边框至参照点之间的像素点数目以及像 素点之间间距的乘积来计算出主尺测量位置的装置。所述检出器为(XD、CIS或CMOS图像感光器件。本技术之优点在于利用检出器来采集主尺上图案符号的图像并结合预设的 参照点进行计算相应测量位置，由于该检出器及主尺系可采用通用配件制得，其相对传统 增量式及绝对式光栅尺需配合特定电子器件而言，成本低，有利于生产制造，并更可进行小 型化设计，有利于市场推广。附图说明图1是现有技术中增量式光栅尺原理示意图；图2是现有技术中绝对式光栅尺原理示意图；图3是本技术的整体示意图。附图标号说明1’、编码区2’、增量区10、主尺11、图案符号12、图像边框20、检出器21、参照点具体实施方式以下结合附图与具体实施方式对本技术作进一步描述。如图3所示，一种光栅尺，包括一主尺10和一预设有参照点21的检出器20，其中所述主尺10上分布有起测量作用的图案符号11，所述检出器20可以是(XD、CIS 或CMOS图像感光器件；该检出器20附设于主尺10上方，且相对主尺10滑动，系用于采集 主尺10的图案符号11的图像并结合参照点位置计算出测量位置，具体而言，该检出器20 系将所采集主尺10上图案符号的图像边框12至参照点21之间的像素点数目以及像素点 之间间距的乘积计算出主尺10的测量位置。本技术设计重点在于利用检出器来采集主尺上图案符号的图像并结合预设 的参照点进行计算相应测量位置，由于该检出器及主尺系可采用通用配件制成，其相对传 统增量式及绝对式光栅尺需配合特定电子器件而言，成本低，有利于生产制造，并更可进行 小型化设计，有利于市场推广。以上所述，仅是本技术较佳实施例而已，并非对本技术的技术范围作任 何限制，故凡是依据本技术的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化 与修饰，均仍属于本技术技术方案的范围内。权利要求一种光栅尺，其特征在于包括一主尺，该主尺上均匀分布有图案符号；以及一预设有参照点的检出器，其设于主尺上方，并相对主尺呈滑动结构，用于采集主尺上图案符号的图像并结合所预设的参照点位置来计算出测量位置。2.根据权利要求1所述一种光栅尺，其特征在于所述检出器为(XD、CIS或CMOS图像 感光器件。专利摘要本技术涉及一种光栅尺，包括一主尺，该主尺上均匀分布有图案符号；以及一预设有参照点的检出器，其设于主尺上方，并相对主尺呈滑动结构，其中，利用检出器来采集主尺上图案符号的图像并结合预设的参照点进行计算相应测量位置，由于该检出器及主尺系可采用通用配件制成，其相对传统增量式及绝对式光栅尺需配合特定电子器件而言，成本低，有利于生产制造，并更可进行小型化设计，有利于市场推广。文档编号G01B11/02GK201716005SQ201020116539公开日2011年1月19日 申请日期2010年2月9日 优先权日2010年2月9日专利技术者巫孟良 申请人:广东万濠精密仪器股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光栅尺，其特征在于：包括一主尺，该主尺上均匀分布有图案符号；以及一预设有参照点的检出器，其设于主尺上方，并相对主尺呈滑动结构，用于采集主尺上图案符号的图像并结合所预设的参照点位置来计算出测量位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：巫孟良，
申请(专利权)人：广东万濠精密仪器股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]