一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及图像处理技术领域，提出了一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统，包括：对光学薄膜灰度图像进行分割获取感兴趣区域；获取感兴趣区域的区域粘连率，获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域；获取第二感兴趣区域的拟合曲线，从而获取区域纹路离散度；获取拟合曲线上像素点的曲率，从而获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度；根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数，从而获取缺陷区域；根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，通过直线检测获取纹路直度，根据纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标，获取划痕缺陷区域和气泡缺陷区域。本发明专利技术旨在解决OCA光学薄膜表面缺陷检测漏检误检问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体为一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统。

技术介绍

[0002]OCA光学薄膜是一种广泛用于屏幕生产中的光学胶薄膜，他的厚度通常在之间，它具有透光性好，抗反射能力强等优点。在实际的生产过程中，对于该种光学膜的检测有人工检测和机器检测两种方式。
[0003]由于OCA光学膜具有透光性好，抗反射强，厚度小的特点，在常用的基于机器视觉的薄膜检测方法中，图像预处理过程简单，特征提取只是基于缺陷外形的简单计算，虽能完成一般的薄膜检测，但在针对区分OCA光学膜表面缺陷时，由于OCA光学膜的物理特性，在通过传统的机器视觉检测获取OCA光学膜表面的缺陷时，获取的缺陷图像中的缺陷和块状杂质相比较时并不明显，例如灰尘团，从而可能会发生缺陷漏检误检的情况。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法及系统，以解决现有的传统缺陷视觉检测方法中发生缺陷和块状杂质相比较时并不明显，导致缺陷漏检误检的问题，所采用的技术方案具体如下：一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，该方法包括以下步骤：获取OCA光学薄膜表面的灰度图像，将灰度图像进行阈值分割获取感兴趣区域；获取感兴趣区域的区域粘连率；根据区域粘连率获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域；获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度；获取所述拟合曲线上每个像素点的曲率，根据曲率获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度；根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数；根据区域纹路存在指数获取缺陷区域；根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，对所述缺陷区域进行直线检测，获取纹路直度，根据所述纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标；根据缺陷分类指标获取划痕缺陷区域和气泡缺陷区域。
[0005]进一步，所述将灰度图像进行阈值分割获取感兴趣区域，包括的具体方法为：通过滤波对所述灰度图像进行处理，得到滤波后的灰度图像；通过阈值分割算法对滤波后的灰度图像进行处理，获取感兴趣区域。
[0006]进一步，所述获取感兴趣区域的区域粘连率，包括的具体方法为：将感兴趣区域中的像素点标记为一类像素点，统计每个一类像素点的八邻域内包含一类像素点的个数；
将八邻域内包含一类像素点的个数大于第一预设阈值的一类像素点记为二类像素点；将感兴趣区域中二类像素点的个数和一类像素点的个数的比值记为区域粘连率。
[0007]进一步，所述根据区域粘连率获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域，包括的具体方法为：将所述区域粘连率大于第二预设阈值的感兴趣区域记为第一感兴趣区域，将小于等于第二预设阈值的感兴趣区域记为第二感兴趣区域。
[0008]进一步，所述获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度，包括的具体方法为：获取第二感兴趣区域的拟合曲线，将所述拟合曲线上的像素点记为第一曲线像素点，将第一曲线像素点在曲线上的法线记为第一法线；将第二感兴趣区域中的像素点记为第二区域像素点；将第一曲线像素点在第一法线上与第二区域像素点的最小欧氏距离作为曲线偏移量，其中，若第一法线上无所述第二感兴趣区域中的像素点，则曲线偏移量为第二预设阈值；将所述曲线偏移量的均值记为所述区域纹路离散度的值。
[0009]进一步，所述获取所述拟合曲线上每个像素点的曲率，根据曲率获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度，包括的具体方法为：将所述拟合曲线上所有像素点的曲率的均方差的值记为贝塞尔曲线参差度。
[0010]进一步，所述根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数，包括的具体方法为：对所述贝塞尔曲线参差度进行归一化处理，获取归一化贝塞尔曲线参差度；将区域纹路离散度与第一常数的差值记为第一差值，将以自然常数为底数、第一差值为指数的幂记为第一指数；将第一指数与归一化贝塞尔曲线参差度乘积记为离散点纹路存在指数。
[0011]进一步，所述根据区域纹路存在指数获取缺陷区域，包括的具体方法为：将区域纹路存在指数小于第三预设阈值的第二感兴趣区域记为缺陷区域；将区域纹路存在指数大于等于第三预设阈值的第二感兴趣区域记为杂质区域。
[0012]进一步，所述根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，对所述缺陷区域进行直线检测，获取纹路直度，根据所述纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标，包括的具体方法为：获取拟合曲线上像素点曲率的均值；对缺陷区域使用直线检测，获取角度差值小于第四预设阈值的直线的个数；将所述角度差值小于第四预设阈值的直线的个数记为第二感兴趣区域中缺陷区域的纹路直度；将数字1与所述曲线曲率均值的差值记为第二差值，将纹路直度与第二差值的乘积记为缺陷分类指标。
[0013]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理
器执行所述计算机程序时实现上述任意一项所述方法的步骤。
[0014]本专利技术的有益效果是：由于光学薄膜较薄，传统的缺陷视觉检测方法在检测OCA光薄膜上的缺陷时，抗反射能力强，经过薄膜内部散射导致缺陷与杂质在图像中难以分辨；同时由于传统的视觉检测方法只考虑图像中像素点的信息，没有结合场景考虑不同区域之间的纹路信息，无法将大量大颗粒杂质表面聚集（如灰尘团）的区域与缺陷区分出来。本专利技术通过分析图像中感兴趣区域的轮廓形状，获取区域纹路存在指数。区域纹路存在指数能反映图像中区域的纹路走向，区别于普通的几何特征，并更准确的从不具有纹路特征的杂质区域中获取具有纹路的缺陷区域，避免了由于获取的图像特征过于单一而导致在缺陷检测过程中漏检误检的问题，提高缺陷检测精度，改善缺陷检测效果。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术一个实施例所提供的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法流程示意图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]请参阅图1，其示出了本专利技术一个实施例所提供的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法流程图，该方法包括以下步骤：步骤S001、获取图像信息，对图像进行预处理。
[0019]本专利技术通过线阵相机获取OCA薄膜表面的图像，按照产品线的速度进行连续扫描获取RGB空间的图像，对获取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取OCA光学薄膜表面的灰度图像，将灰度图像进行阈值分割获取感兴趣区域；获取感兴趣区域的区域粘连率；根据区域粘连率获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域；获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度；获取所述拟合曲线上每个像素点的曲率，根据曲率获取第二感兴趣区域的贝塞尔曲线参差度；根据区域纹路离散度和贝塞尔曲线参差度获取区域纹路存在指数；根据区域纹路存在指数获取缺陷区域；根据拟合曲线曲率获取拟合曲线曲率均值，对所述缺陷区域进行直线检测，获取纹路直度，根据所述纹路直度和拟合曲线曲率均值获取缺陷分类指标；根据缺陷分类指标获取划痕缺陷区域和气泡缺陷区域。2.根据权利要求1所述的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述将灰度图像进行阈值分割获取感兴趣区域，包括的具体方法为：通过滤波对所述灰度图像进行处理，得到滤波后的灰度图像；通过阈值分割算法对滤波后的灰度图像进行处理，获取感兴趣区域。3.根据权利要求1所述的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述获取感兴趣区域的区域粘连率，包括的具体方法为：将感兴趣区域中的像素点标记为一类像素点，统计每个一类像素点的八邻域内包含一类像素点的个数；将八邻域内包含一类像素点的个数大于第一预设阈值的一类像素点记为二类像素点；将感兴趣区域中二类像素点的个数和一类像素点的个数的比值记为区域粘连率。4.根据权利要求1所述的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述根据区域粘连率获取第一感兴趣区域和第二感兴趣区域，包括的具体方法为：将所述区域粘连率大于第二预设阈值的感兴趣区域记为第一感兴趣区域，将小于等于第二预设阈值的感兴趣区域记为第二感兴趣区域。5.根据权利要求1所述的一种OCA光学薄膜表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述获取第二感兴趣区域的拟合曲线，根据拟合曲线获取第二感兴趣区域的区域纹路离散度，包括的具体方法为：获取第二感兴趣区域的拟合曲线，将所述拟合曲线上的像素点记为第一曲线像素点，将第一曲线像素点在曲线上的法线记为第一法线；将第二感兴趣区域中的像素点记为第二区...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晓宇，彭慧，李正，李晓丹，罗锦番，刘振，
申请(专利权)人：惠州艺都宇正数码科技有限公司，
类型：发明
国别省市：