量子比特参数的自动化确定装置制造方法及图纸

技术编号:39308198 阅读:10 留言:0更新日期:2023-11-12 15:55
本发明专利技术提供了一种量子比特参数的自动化确定装置,包括引导模块与执行模块,所述引导模块用于确定量子芯片上需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的参数确定任务;所述执行模块用于接收所述参数确定任务,根据所述参数确定任务对应的有向无环图执行并返还结果至所述引导模块,所述有向无环图的节点表征所述待测量子比特的参数,所述有向无环图的有向边表征所述参数之间的依赖关系。通过构建不同参数确定任务的有向无环图,能够构建更为复杂且更为合理的测试任务。任务。任务。

【技术实现步骤摘要】
量子比特参数的自动化确定装置


[0001]本专利技术属于量子计算
,特别涉及一种量子比特参数的自动化确定装置。

技术介绍

[0002]现有的针对量子芯片的自动化测试系统,在提升量子芯片测试效率、减少人力劳动成本上取得了一定的效果,将繁杂的参数设置、记录、更新、存储功能完全自动化,实现了自由组合节点、自动分析实验结果的功能。
[0003]虽然现有的自动化测试系统取得了一定的效果,但是在使用过程中也暴露了越来越多的问题。现有的自动化测试系统中测试任务以链表的形式存储,只能按照预先设置的节点完成对量子芯片的测试表征,因而测试任务的执行流程是单方向的,无法适应更为复杂的测试任务。
[0004]因此,有必要提出一种量子比特参数的自动化确定装置,以解决现有的自动化测试系统只能按照预先设置的节点完成对量子芯片的测试表征的问题,能够构建更为复杂且更为合理的测试任务流程。
[0005]需要说明的是,公开于本申请
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本申请一般
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的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种量子比特参数的自动化确定装置及方法、量子计算机,以解决现有技术中存在的自动化测试与校准系统只能按照预先设置的节点完成对量子芯片的测试表征、无法适应更为复杂的测试任务的问题,以构建更为复杂以及更加合理的测试任务流程。
[0007]为实现上述目的,第一方面,本专利技术提供了一种量子比特参数的自动化确定装置,包括:
[0008]引导模块,用于确定量子芯片上需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的所述参数确定任务;
[0009]执行模块,用于接收所述参数确定任务,根据所述参数确定任务对应的有向无环图执行并返还结果至所述引导模块,所述有向无环图的节点表征所述待测量子比特的参数,所述有向无环图的有向边表征所述参数之间的依赖关系。
[0010]优选的,所述执行模块包括:
[0011]有向无环图数据库,包括存储有所述参数确定任务对应的有向无环图的第一数据库;
[0012]任务接收单元,用于接收所述参数确定任务,并从所述第一数据库获取所述参数确定任务对应的有向无环图;
[0013]有向无环图遍历单元,用于根据所述参数确定任务对应的所述有向无环图执行所
述参数确定任务,获取各个所述节点对应的参数。
[0014]优选的,所述参数确定任务包括测试任务与校准任务,所述第一数据库中存储的所述有向无环图包括与所述测试任务对应的第一类有向无环图以及与所述校准任务对应的第二类有向无环图。
[0015]优选的,所述执行模块还包括:
[0016]决策单元,用于根据所述参数确定任务在每个节点的理论预期值以及获取的参数获取判据,并基于设定的判断条件判断当前节点是否正常,若正常,进入所述当前节点的后序节点,若不正常,判定所述当前节点异常;
[0017]回溯单元,用于在所述参数确定任务执行至某个节点发生异常时回溯至目标节点,所述目标节点为在对应的所述有向无环图中导致节点出现异常的根节点。
[0018]优选的,所述回溯单元还用于在所述参数确定任务执行至某个节点发生异常时回溯至其依赖的前序节点重新执行,若所述前序节点正常,则再次执行发生异常的节点,若再次异常,输出错误;若所述前序节点异常,继续回溯。
[0019]优选的,所述决策单元用于基于所述理论预期值以及所述获取的参数构建第一公式,所述第一公式为:
[0020][0021]其中,R2为偏移程度,y
fit
为所述理论预期值,y
raw
为所述获取的参数,为所述当前节点对应参数的平均值;
[0022]并基于所述第一公式获取所述偏移程度,基于所述偏移程度获取判据。
[0023]优选的,所述有向无环图数据库还包括一第二数据库,所述第二数据库用于存储有所述待测量子比特执行所述有向无环图后获取的各个节点对应参数的历史数据。
[0024]优选的,所述决策单元还根据所述第二数据库中存储的所述历史数据调整所述判断条件。
[0025]优选的,所述有向无环图数据库还包括一第三数据库,所述第三数据库用于存储对异常的处理策略,在某一节点被判定为异常时,由所述决策单元查找所述第三数据库中是否包含针对所述异常的处理策略,若是,则执行策略;若否,则由所述回溯单元进行回溯。
[0026]优选的,所述引导模块包括:
[0027]任务输入单元,用于接收输入的需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的所述参数确定任务;
[0028]量子比特数据库,用于接收所述执行模块返还的所述参数确定任务的执行结果。
[0029]优选的,所述量子比特数据库还存储有一量子芯片上各个量子比特的信息,且每个所述量子比特的信息相互独立。
[0030]优选的,所述引导模块还包括:
[0031]监控策略库,用于存储监控策略;
[0032]监控单元,用于定时执行所述监控策略库中的所述监控策略,若所述监控策略的执行结果为异常,则发送特定的校准任务至所述执行模块。
[0033]优选的,所述执行模块还包括:
[0034]构建单元,用于在所述任务接收单元从所述第一数据库中找不到与所述参数确定任务对应的有向无环图时,构建一个与所述参数确定任务对应的有向无环图;
[0035]配置单元,将所述构建单元构建的所述有向无环图配置到所述第一数据库中。
[0036]第二方面,本专利技术提供一种量子计算机,包括本专利技术第一方面提供的所述量子比特参数的自动化确定装置。
[0037]第三方面,本专利技术提供一种量子比特参数的自动化确定方法,包括:
[0038]确定量子芯片上需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的参数确定任务;
[0039]根据所述参数确定任务对应的有向无环图执行并获取结果,所述有向无环图的节点表征所述待测量子比特的参数,所述有向无环图的有向边表征所述参数之间的依赖关系。
[0040]第四方面,本专利技术提供一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时能实现本专利技术第三方面提供的所述量子比特参数的自动化确定方法。
[0041]与现有技术相比,本专利技术的技术方案具有以下有益效果:
[0042]本专利技术提供的量子比特参数的自动化确定装置,包括引导模块与执行模块,所述引导模块用于确定量子芯片上需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的参数确定任务,所述执行模块根据所述参数确定任务对应的有向无环图执行并返还结果至所述引导模块,所述有向无环图的节点表征所述待测量子比特的参数,所述有向无环图的有向边表征所述参数之间的依赖关系。通过构建不同参数确定任务的有向无环图,能够构建更为复杂且更为合理的测试任务。
[0043本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,包括:引导模块,用于确定量子芯片上需要执行参数确定任务的待测量子比特以及所述待测量子比特需要执行的所述参数确定任务;执行模块,用于接收所述参数确定任务,根据所述参数确定任务对应的有向无环图执行并返还结果至所述引导模块,所述有向无环图的节点表征所述待测量子比特的参数,所述有向无环图的有向边表征所述参数之间的依赖关系。2.如权利要求1所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述执行模块包括:有向无环图数据库,包括存储有所述参数确定任务对应的有向无环图的第一数据库;任务接收单元,用于接收所述参数确定任务,并从所述第一数据库获取所述参数确定任务对应的有向无环图;有向无环图遍历单元,用于根据所述参数确定任务对应的所述有向无环图执行所述参数确定任务,获取各个所述节点对应的参数。3.如权利要求2所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述参数确定任务包括测试任务与校准任务,所述第一数据库中存储的所述有向无环图包括与所述测试任务对应的第一类有向无环图以及与所述校准任务对应的第二类有向无环图。4.如权利要求2所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述执行模块还包括:决策单元,用于根据所述参数确定任务在每个节点的理论预期值以及获取的参数获取判据,并基于设定的判断条件判断当前节点是否正常,若正常,进入所述当前节点的后序节点,若不正常,判定所述当前节点异常;回溯单元,用于在所述参数确定任务执行至某个节点发生异常时回溯至目标节点,所述目标节点为在对应的所述有向无环图中导致节点出现异常的根节点。5.如权利要求4所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述回溯单元还用于在所述参数确定任务执行至某个节点发生异常时回溯至其依赖的前序节点重新执行,若所述前序节点正常,则再次执行发生异常的节点,若再次异常,输出错误;若所述前序节点异常,继续回溯。6.如权利要求4所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述决策单元用于基于所述理论预期值以及所述获取的参数构建第一公式,所述第一公式为:其中,R2为偏移程度,y
fit
为所述理论预期值,y
raw
为所述获取的参数,为所述当前节点对应参数的平均值;并基于所述第一公式获取所述偏移程度,基于所述偏移程度获取判据。7.如权利要求4所述的量子比特参数的自动化确定装置,其特征在于,所述有向无...

【专利技术属性】
技术研发人员:石汉卿宋垚孔伟成
申请(专利权)人:本源量子计算科技合肥股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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