【技术实现步骤摘要】
一种机载设备中存储设备单粒子翻转检测方法
[0001]本专利技术涉及民用航空设备中存储设备单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)检测方法
,具体而言是一种存储设备单粒子翻转的检测方法。
技术介绍
[0002]民用飞机飞行环境往往较为恶劣,尤其是高空中,更易受到辐射的影响。在这种恶劣的的环境下,可能会发生存储设备单粒子翻转情况。
[0003]航电系统作为民用飞机的关键系统,对飞行安全有着极大的影响。航空设备在硬件设计和软件设计上往往会对单粒子翻转作出一些针对性的保护措施,以减小单粒子翻转的概率。
[0004]航电系统作为一个计算机系统,其运行中的代码和数据一般存储在SDRAM(synchronous dynamic random
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access memory)中,若飞行过程中SDRAM中的数据发生了单粒子翻转的情况,可能造成不可估量的影响,如造成空速或高度数值的突变,干扰飞行员执行飞行任务。但在现有的单粒子翻转检测技术中,还没有针对存储设备的检测。
[0005 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种机载设备中存储设备单粒子翻转检测方法,为待检测机载设备上的计算机软件,具有调试模式和系统模式两种运行模式,其特征在于检测流程包括如下步骤:步骤(1)检测开始前,切换至调试模式,进入人机交互界面对NVRAM进行写操作,将配置信息写入配置信息地址处,清零错误信息和结果信息;其中:配置信息包括待检测的存储设备的起始地址和结束地址以及测试时间,错误信息包括配置有效标志位、硬件有效标志位和测试有效标志位,结果信息为单粒子翻转数量;步骤(2)对存储设备开始辐射测试,切换至系统模式,在系统模式下,运行存储设备单粒子翻转检测算法,自动按照步骤(1)中的配置信息进行单粒子翻转检测,到达指定测试时间之后会自动停止检测,记录错误信息和结果信息;步骤(3)检测结束之后,需要再次切换至调试模式,通过人机交互界面读取记录在NVRAM中的错误信息和结果信息;根据错误信息中的测试有效标志位判断测试是否有效,若测试有效,记录结果信息;若测试无效,根据错误信息定位错误原因,修复错误后从新开始检测。2.根据权利要求1所述的一种机载设备中存储设备单粒子翻转检测方法,其特征在于调试模式和系统模式两种运行模式通过配置硬件进行切换。3.根据权利要求1所述的一种机载设备中存储设备单粒子翻转检测方法,其特征在于配置的检测时间到机载设备断电之间需要留有一次完整地址遍历的时间。4.根据权利要求1所述的一种机载设备中存储设备单粒子翻转检测方法,其特征在于步骤(2)中的存储设备单粒子翻转检测算法分为如下几个过程:步骤(21)初始化机载设备的硬件环境,初始化完成之后,继续下一步骤;步骤(22)对检测流程所需的...
【专利技术属性】
技术研发人员:蒋克旋,张帅帅,孙远,
申请(专利权)人:中国航空无线电电子研究所,
类型:发明
国别省市:
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