一种复合无影光源、检测系统及照明方法技术方案

本发明专利技术公开了一种复合无影光源、检测系统及照明方法，复合无影光源包括侧光源部和底光源部，侧光源部开设有光源通道，光源通道的一侧设置工件检测位，光源通道的另一侧通过一黑色漫射板连接底光源部。将工件设置于工件检测位后，由侧光源部对工件进行打光，从侧面照亮工件，此时工件的轮廓边沿较亮，形成明场；同时，底光源部发出的光线穿过黑色漫射板及光源通道抵达工件检测位，从底侧照亮工件，由于黑色漫射板的设置，在工件的底面形成暗场，此时暗场主要影响工件的轮廓边沿，使得工件的轮廓边沿的亮度下降；最终，利用相机获取工件的图像时，能够获得亮度均匀的图像，避免图像过曝或欠曝，提高了无影光源照射异型工件时的成像的宽容度。的宽容度。的宽容度。

【技术实现步骤摘要】
一种复合无影光源、检测系统及照明方法


[0001]本专利技术涉及检测光源
，尤其涉及一种复合无影光源、检测系统及照明方法。

技术介绍

[0002]机器视觉指的是利用机器代替人眼来做测量和判断的一种技术；在机器视觉系统中，图像质量决定了视觉检测的精度，当图像质量较好且图像特征明显时，机器视觉检测精度能够得到有效保障；要想获得好的图像，则需要选择一个合适的光源。
[0003]常用的光源包括环形光源、条形光源、同轴光源、无影光源等等，现有的光源都是从工件顶部一侧直接照射在工件的表面。由于异型工件存在不规则的表面，常规光源从顶部一侧照射该异型工件时，相机所采集的图像容易存在过曝或欠曝的情况，特别是工件轮廓边沿部分容易存在过曝的情况；具体地，当光源照射异型工件时，异型工件将光线反射至相机中，但由于异型工件具备多个反射角度，因此相机所采集的图像之中会存在明显的暗亮差异，其中，异型工件呈明亮的区域称为亮部，异型工件呈暗的区域称为暗部；可以理解的是，当无影光源的亮度较低时，异型工件的亮部处于正常曝光状态，但异型工件的暗部则处于欠曝状态；当无影光源的亮度较高时，异型工件的暗部处于正常曝光状态，但异型工件的亮部则处于过曝状态，影响所获得图像高低光的宽容度。
[0004]因此，当前的无影光源照射异型工件时存在成像宽容度较低的缺陷。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种复合无影光源、检测系统及照明方法，以解决当前无影光源照射异型工件存在宽容度较低的技术问题。
[0006]为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0007]一种复合无影光源，包括工件检测位和侧光源部，所述侧光源部包括第一出光面，所述第一出光面朝向所述工件检测位设置；
[0008]所述侧光源部开设有光源通道，所述光源通道的一侧设置所述工件检测位，所述光源通道的另一侧设置底光源部，所述底光源部包括第二出光面，所述第二出光面发出的光线经所述光源通道抵达所述工件检测位；
[0009]其中，所述底光源部与所述侧光源部之间设置有黑色漫射板，所述黑色漫射板与所述第二出光面平行。
[0010]可选地，所述侧光源部包括侧灯板和扩散板；所述侧灯板及所述扩散板分别环绕所述光源通道设置；
[0011]所述扩散板包括扩散入光面和扩散出光面；所述扩散入光面与所述侧灯板相对设置，所述扩散出光面为所述第一出光面。
[0012]可选地，所述侧灯板及所述扩散入光面分别与所述第二出光面平行，且所述扩散出光面相对于所述第二出光面倾斜设置。
[0013]可选地，所述侧光源部包括第一底座，所述第一底座开设有通孔，所述通孔的边沿朝靠近所述工件检测位的方向凸设有定位凸起部；所述扩散板及所述侧灯板均环绕所述定位凸起部设置；
[0014]所述侧光源部还包括顶盖，所述顶盖与所述第一底座连接，以将所述扩散板压设于所述第一底座上。
[0015]可选地，所述扩散板包括扩散顶端部与扩散底端部，所述第一出光面连接于所述扩散顶端部与所述扩散底端部之间；
[0016]所述扩散顶端部的内径大于所述扩散底端部的内径，以令所述第一出光面倾斜设置；所述扩散入光面设置于所述扩散底端部上。
[0017]可选地，所述扩散底端部沿靠近所述第一底座的方向凸设有抵接部，所述抵接部与所述第一底座抵接；所述抵接部开设有环形的安装槽，所述侧灯板与所述安装槽的槽壁抵接。
[0018]可选地，所述底光源部包括第二底座，所述第二底座开设有多个第一连接孔，所述黑色漫射板对应各所述第一连接孔的位置开设有第二连接孔；所述侧光源部对应各所述第一连接孔的位置开设有第三连接孔；
[0019]所述第一连接孔、所述第二连接孔及所述第三连接孔通过连接件连接。
[0020]一种检测系统，包括相机和如上所述的复合无影光源；所述相机设置于所述工件检测位远离所述光源通道的一侧。
[0021]一种照明方法，采用如上所述的复合无影光源，所述照明方法包括：
[0022]将工件放置于工件检测位上；
[0023]通过所述侧光源部向所述工件提供明场，通过所述底光源部及所述黑色漫射板向所述工件提供暗场。
[0024]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
[0025]本专利技术提供的复合无影光源、检测系统及照明方法，需要获取工件的图像信息时，将工件设置于工件检测位上，此时由侧光源部对工件进行打光，从侧面照亮工件，此时工件的轮廓边沿较亮，形成明场；同时，底光源部发出的光线穿过黑色漫射板及光源通道抵达工件检测位，从底侧照亮工件，由于黑色漫射板的设置，在工件的底面形成暗场，此时暗场主要影响工件的轮廓边沿，使得工件的轮廓边沿的亮度下降；进而，利用相机获取工件的图像时，能够获得亮度均匀的图像，避免图像过曝或欠曝，提高了无影光源照射异型工件时的宽容度。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0027]本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生
的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。
[0028]图1为本专利技术实施例提供的复合无影光源的整体结构示意图；
[0029]图2为本专利技术实施例提供的复合无影光源的爆炸结构示意图；
[0030]图3为本专利技术实施例提供的复合无影光源的剖面结构示意图；
[0031]图4为图3于A处的局部放大结构示意图；
[0032]图5为图3于B处的局部放大结构示意图。
[0033]图示说明：01、工件检测位；
[0034]10、侧光源部；11、第一出光面；12、光源通道；13、侧灯板；14、扩散板；141、扩散入光面；142、扩散顶端部；143、扩散底端部；144、抵接部；145、安装槽；15、第一底座；151、通孔；152、定位凸起部；153、第三连接孔；16、顶盖；
[0035]20、底光源部；21、第二出光面；22、第二底座；23、第一连接孔；
[0036]30、黑色漫射板；31、第二连接孔。
具体实施方式
[0037]为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0038]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合无影光源，其特征在于，包括工件检测位(01)和侧光源部(10)，所述侧光源部(10)包括第一出光面(11)，所述第一出光面(11)朝向所述工件检测位(01)设置；所述侧光源部(10)开设有光源通道(12)，所述光源通道(12)的一侧设置所述工件检测位(01)，所述光源通道(12)的另一侧设置底光源部(20)，所述底光源部(20)包括第二出光面(21)，所述第二出光面(21)发出的光线经所述光源通道(12)抵达所述工件检测位(01)；其中，所述底光源部(20)与所述侧光源部(10)之间设置有黑色漫射板(30)，所述黑色漫射板(30)与所述第二出光面(21)平行。2.根据权利要求1所述的一种复合无影光源，其特征在于，所述侧光源部(10)包括侧灯板(13)和扩散板(14)；所述侧灯板(13)及所述扩散板(14)分别环绕所述光源通道(12)设置；所述扩散板(14)包括扩散入光面(141)和扩散出光面；所述扩散入光面(141)与所述侧灯板(13)相对设置，所述扩散出光面为所述第一出光面(11)。3.根据权利要求2所述的一种复合无影光源，其特征在于，所述侧灯板(13)及所述扩散入光面(141)分别与所述第二出光面(21)平行，且所述扩散出光面相对于所述第二出光面(21)倾斜设置。4.根据权利要求3所述的一种复合无影光源，其特征在于，所述侧光源部(10)包括第一底座(15)，所述第一底座(15)开设有通孔(151)，所述通孔(151)的边沿朝靠近所述工件检测位(01)的方向凸设有定位凸起部(152)；所述扩散板(14)及所述侧灯板(13)均环绕所述定位凸起部(152)设置；所述侧光源部(10)还包括顶盖(16)，所述顶盖(16)与所述第一底座(15)连接，以将所述扩散板(14)压设于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟淮安，袁智伟，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：