一种LDPE光学保护膜树脂的评价方法技术

本发明专利技术涉及一种LDPE光学保护膜树脂的评价方法，通过控制测试样品的处理方法、晶点测试条件，并建立了树脂吹制薄膜晶点和熔体强度两者之间的关系，能够对原料是否合格进行快速判断，与现有技术相比，尤其相对现有的后置测试能够更快速、准确。本发明专利技术适用于LDPE光学保护膜树脂的快速评价。护膜树脂的快速评价。

【技术实现步骤摘要】
一种LDPE光学保护膜树脂的评价方法


[0001]本专利技术涉及聚合物树脂评价领域，具体涉及一种LDPE光学保护膜树脂的评价方法。

技术介绍

[0002]近年来，随着电子产业的快速发展，对光学保护膜的需求也越来越大，广泛用于制造、搬运偏光板、相位差板、显示器用透镜膜、防反射膜、触摸面板用透明导电膜等的光学用膜、以及使用了它们的显示器等光学产品时，为了防止后续工序中可能造成的表面污染、刮伤等进行的表面保护。目前生产的光学保护膜主要以聚乙烯、聚丙烯材质为主，LDPE由于具有良好的柔软性、延伸性、电绝缘性、透明性、易加工性和一定的透气性。其化学稳定性能较好，耐碱、耐一般有机溶剂等优异的性能广泛应用在光学保护膜领域。2020年我国光学保护膜低密度聚乙烯(LDPE)的需求达到5万吨，完全依赖进口。国内也有公司尝试开发此类产品,但因晶点较多的问题，限制了在该领域的发展，光学保护膜对于晶点的要求很高，晶点高有可能造成被保护物表面划伤，因此，薄膜晶点是造成光学保护膜质量不达标的主要原因。已有文献关于引起晶点的原因主要有分子量大、杂质、长支链、交联，并且通过相应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LDPE光学保护膜树脂的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将LDPE树脂吹制成厚度为0.01～0.08毫米的薄膜；(2)将薄膜在恒定、连续、可调控光源产生的光束的照射下，透光和遮光的光束被光学摄像仪所接收，晶点颗粒检测仪在分辨率大于等于20um的情况下检测晶点尺寸大于等于0.02mm的晶点颗粒的大小和数量；当有晶点颗粒的直径≥0.8mm，或晶点数量>4个/m2时，该原料为不合格产品；否则为初步合格产品；(3)对获得的初步合格产品的晶点数及LDPE树脂原料的熔体强度进行计算，两者关系满足下式可用于光学保护膜原料：y≤43.97286x
‑
52.76556x2‑
0.97315其中，x为熔体强度，以在190℃测试以牛顿为单位计算的数值计，其数值范围为0.04～0.15；y为晶点数，以每平方米薄膜中的所有晶点个数的数值计。2.根据权利要求1所述的LDPE光学保护膜树脂的评价方法，其特征在于，熔体强度数值为0.06～0.14。3.根据权利要求1所述的LDPE光学保护膜树脂的评价方法，其特征在于，薄膜厚度为0.02～0.06毫米。4.根据权利要求1所述的LDPE光学保护膜树脂的评价方法，其特征在于，步骤(...

【专利技术属性】
技术研发人员：许惠芳，魏福庆，邸麟婷，叶鹏博，李广全，赵东波，李晓艳，李朋朋，谢昕，孙建敏，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：