设备缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及设备检测领域，公开了一种设备缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像；对所述检测图像进行灰度处理，得到灰度图像，以及根据预置双峰模糊算法，对所述灰度图像进行缺陷分析处理，得到缺陷标记图；根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值；判断所述缺陷值是否小于预置预警阈值；若不小于预置预警阈值，则将所述目标设备标记为缺陷设备。则将所述目标设备标记为缺陷设备。则将所述目标设备标记为缺陷设备。

【技术实现步骤摘要】
设备缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及设备检测领域，尤其涉及一种设备缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]设备的缺陷检测如果都使用人工的话，人工检测设备则由于长时间的重复劳动，疲劳导致检测结果出现错误。即使检测设备探测出目标设备的缺陷结果，也可能由于外部光线等干扰数据，导致检测设备探测的结果失真发生检测的假阳性。
[0003]在工厂、工地的环境光线经常出现不能满足检测设备的光线需求引发检测结果假阳性，或者由于外部光线过强导致检测结果过曝引发假阳性，或者存在目标设备的外表光滑导致的反射光无法避免的导致假阳性结果。因此，对于现有的目标设备检测无法避免环境光线导致假阳性的失真结果，需要一种技术改进当前检测结果失真的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于解决现有的目标设备检测无法避免环境光线导致假阳性的失真结果的技术问题。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种设备缺陷的检测方法，所述设备缺陷的检测方法包括：
[0006]根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像；
[0007]对所述检测图像进行灰度处理，得到灰度图像，以及根据预置双峰模糊算法，对所述灰度图像进行缺陷分析处理，得到缺陷标记图；
[0008]根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值；
[0009]判断所述缺陷值是否小于预置预警阈值；
[0010]若不小于预置预警阈值，则将所述目标设备标记为缺陷设备。
[0011]可选的，在本专利技术第一方面的第一种实现方式中，所述根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像包括：
[0012]读取设置的拍摄视宽、识别最小缺陷宽度、最大表面直径值、采集像素均值、梯度参数、拍摄余量值、双峰初始阈值、摄像运动最大速度；
[0013]根据预置分辨率算法，对所述拍摄视宽、所述识别最小缺陷宽度、所述最大表面直径值、所述采集像素均值、所述梯度参数、所述拍摄余量值、所述双峰初始阈值进行计算，得到拍摄分辨率；
[0014]根据预置拍摄行频计算公式，对所述摄像运动最大速度、所述拍摄余量值、所述拍摄视宽进行计算，得到拍摄行频；
[0015]基于所述拍摄分辨率、所述拍摄行频，调整相机拍摄目标设备，得到检测图像。
[0016]可选的，在本专利技术第一方面的第二种实现方式中，所述根据预置分辨率算法，对所述拍摄视宽、所述识别最小缺陷宽度、所述最大表面直径值、所述采集像素均值、所述梯度
参数、所述拍摄余量值、所述双峰初始阈值进行计算，得到拍摄分辨率包括：
[0017]基于分辨率计算公式，得到拍摄分辨率，其中，所述分辨率计算公式包括：
[0018][0019]其中，Rs为拍摄分辨率，L为拍摄视宽，w为识别最小缺陷宽度，di为最大表面直径值，a为采集像素均值，g为梯度参数，R为拍摄余量值，n为双峰初始阈值。
[0020]可选的，在本专利技术第一方面的第三种实现方式中，所述拍摄行频计算公式包括：
[0021]H＝2vR/L，其中，H为拍摄行频，v为摄像运动最大速度、R为拍摄余量值、L为拍摄视宽。
[0022]可选的，在本专利技术第一方面的第四种实现方式中，所述根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值包括：
[0023]根据预置二维缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行二维缺陷分析处理，得到二维缺陷值；
[0024]根据预置三维缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行三维缺陷分析处理，得到三维缺陷值。
[0025]可选的，在本专利技术第一方面的第五种实现方式中，所述判断所述缺陷值是否小于预置预警阈值包括：
[0026]判断所述二维缺陷值是否小于预置二维预警阈值；
[0027]若小于二维预警阈值，则判断所述三维缺陷值是否小于预置三维预警值；
[0028]若不小于三维预警阈值，则确定缺陷值不小于预警阈值；
[0029]若小于三维预警阈值，则确定缺陷值小于预警阈值
[0030]若不小于二维预警阈值，则确定缺陷值不小于预警阈值。
[0031]可选的，在本专利技术第一方面的第六种实现方式中，所述对所述检测图像进行灰度处理，得到灰度图像包括：
[0032]基于RGB数值和Gamma校正算法，对所述检测图像进行灰度转换处理，得到灰度图像。
[0033]本专利技术第二方面提供了一种设备缺陷的检测装置，所述设备缺陷的检测装置包括：
[0034]拍摄模块，用于根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像；
[0035]缺陷标记模块，用于对所述检测图像进行灰度处理，得到灰度图像，以及根据预置双峰模糊算法，对所述灰度图像进行缺陷分析处理，得到缺陷标记图；
[0036]缺陷分析模块，用于根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值；
[0037]判断模块，用于判断所述缺陷值是否小于预置预警阈值；
[0038]标记模块，用于若不小于预置预警阈值，则将所述目标设备标记为缺陷设备。
[0039]本专利技术第三方面提供了一种设备缺陷的检测设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述设备缺陷的检测设备执行上述的设备缺陷的检测方法。
[0040]本专利技术的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的设备缺陷的检测方法。
[0041]在本专利技术实施例中，通过对目标设备的采集图像进行灰度化，并通基于预置图像采集设置，对采集图像的缺陷实现复杂光照下的设施缺陷分割，利用外形检测减弱了图像中光照不均匀造成的影响，并利用视域提取的方式，解决现有的目标设备检测无法避免环境光线导致假阳性的失真结果的技术问题。
附图说明
[0042]图1为本专利技术实施例中设备缺陷的检测方法的一个实施例示意图；
[0043]图2为本专利技术实施例中设备缺陷的检测装置的一个实施例示意图；
[0044]图3为本专利技术实施例中设备缺陷的检测装置的另一个实施例示意图；
[0045]图4为本专利技术实施例中设备缺陷的检测设备的一个实施例示意图。
具体实施方式
[0046]本专利技术实施例提供了一种设备缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质。
[0047]本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”或“具有”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备缺陷的检测方法，其特征在于，包括步骤：根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像；对所述检测图像进行灰度处理，得到灰度图像，以及根据预置双峰模糊算法，对所述灰度图像进行缺陷分析处理，得到缺陷标记图；根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值；判断所述缺陷值是否小于预置预警阈值；若不小于预置预警阈值，则将所述目标设备标记为缺陷设备。2.根据权利要求1所述的设备缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据预置图像采集设置，拍摄目标设备的检测图像包括：读取设置的拍摄视宽、识别最小缺陷宽度、最大表面直径值、采集像素均值、梯度参数、拍摄余量值、双峰初始阈值、摄像运动最大速度；根据预置分辨率算法，对所述拍摄视宽、所述识别最小缺陷宽度、所述最大表面直径值、所述采集像素均值、所述梯度参数、所述拍摄余量值、所述双峰初始阈值进行计算，得到拍摄分辨率；根据预置拍摄行频计算公式，对所述摄像运动最大速度、所述拍摄余量值、所述拍摄视宽进行计算，得到拍摄行频；基于所述拍摄分辨率、所述拍摄行频，调整相机拍摄目标设备，得到检测图像。3.根据权利要求2所述的设备缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据预置分辨率算法，对所述拍摄视宽、所述识别最小缺陷宽度、所述最大表面直径值、所述采集像素均值、所述梯度参数、所述拍摄余量值、所述双峰初始阈值进行计算，得到拍摄分辨率包括：基于分辨率计算公式，得到拍摄分辨率，其中，所述分辨率计算公式包括：其中，Rs为拍摄分辨率，L为拍摄视宽，w为识别最小缺陷宽度，di为最大表面直径值，a为采集像素均值，g为梯度参数，R为拍摄余量值，n为双峰初始阈值。4.根据权利要求2所述的设备缺陷的检测方法，其特征在于，所述拍摄行频计算公式包括：H＝2vR/L，其中，H为拍摄行频，v为摄像运动最大速度、R为拍摄余量值、L为拍摄视宽。5.根据权利要求1所述的设备缺陷的检测方法，其特征在于，所述根据预置缺陷计算公式，对所述缺陷标记图进行缺陷分析处理，得到缺陷值包括：根据预置...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳飞翔，何易，杜俊熠，
申请(专利权)人：深圳市创势互联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：