本实用新型专利技术公开了一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置；其中底座侧视呈“U”形，底座的两侧壁向内设有两根平行的固定支杆，载物台沿固定支杆的轨迹滑动；两侧壁均通过螺纹连接安装有一根固定螺栓，固定螺栓与同侧的载物台接触连接；样品垫片台包括：两条滑轨和一对收缩支杆，两收缩支杆的中部通过螺钉相连，每根收缩支杆的两端下方均设有凸起且两个凸起分别在不同滑轨中的腰型孔中滑动。本实用新型专利技术实现了微/纳米力学测试中薄片样品的夹持，解决了微/纳米力学测试中薄片样品难以稳定夹持和容易弯曲变形的问题。容易弯曲变形的问题。容易弯曲变形的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置
[0001]本技术属于薄片样品夹持
，具体为一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置。
技术介绍
[0002]仪器化压入和划入测试是两种重要的微/纳米力学实验技术，压入仪通过具有一定形状的坚硬压头对材料表面进行加载、卸载并记录位移和压痕面积的变化，从而获得材料的硬度、弹性模量等一系列力学性能指标的方法。划入仪能够测量压头作用在试样表面上的法向力、切向力和划入深度随划入位置的连续变化过程，不仅可以研究摩擦磨损、变形和破坏性能，还可以研究薄膜的黏着失效和黏弹行为。这两种测试需要具有局部平整光滑的表面和稳定的样品夹持。
[0003]但现有的夹持装置在使用时存在一定的不足：对于薄片样品的夹持，现有的样品夹持装置在直接进行薄片样品夹持时容易造成薄片样品的变形，不易夹紧样品，若采用金属胶将薄片样品粘贴到样品台再进行夹持则会造成样品的破坏。
技术实现思路
[0004]针对
技术介绍
中存在的问题，本技术提供了一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置，解决了陶瓷薄片样品在测试过程中稳定性不佳以及容易弯曲变形的问题，其特征在于，包括：固定支杆、两个载物台、底座、固定螺母、固定螺栓和样品垫片台，其中底座侧视呈“U”形，底座的两侧壁向内设有两根平行的固定支杆，载物台沿固定支杆的轨迹滑动；两侧壁均通过螺纹连接安装有一根固定螺栓，固定螺栓与同侧的载物台接触连接；
[0005]所述样品垫片台包括：两条滑轨和一对收缩支杆，两收缩支杆的中部通过螺钉相连，每根收缩支杆的两端下方均设有凸起且两个凸起分别在不同滑轨中的腰型孔中滑动。
[0006]所述载物台包括：一体构成载物台座和薄片台，其中载物台座和薄片台均为长方体结构，载物台座在载物台移动方向上的尺寸大于薄片台从而形成一个台阶，薄片台的顶面两侧分别开有大异形卡槽和小异形卡槽，大异形卡槽和小异形卡槽的槽底面齐平，滑轨的顶部和上方一根收缩支杆的顶部齐平，且与大异形卡槽和小异形卡槽的高度均齐平；载物台座上开有两轨道通孔，轨道通孔沿固定支杆滑动。
[0007]所述滑轨的侧视呈“L”形。
[0008]所述滑轨的外侧设有防滑层。
[0009]所述薄片台的高度为6mm～8mm。
[0010]所述大异形卡槽和所述小异形卡槽的形状均为倒有圆角的三角形，深度为1mm～3mm。
[0011]样品垫片台、固定支杆、载物台和底座均为硬质材料。
[0012]本技术的有益效果在于：实现了薄片样品的夹持，解决了微/纳米力学测试中薄片样品难以稳定夹持和容易弯曲变形的问题。
附图说明
[0013]图1为本技术一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置实施例的结构示意图。
[0014]其中：1—固定支杆，2—载物台，3—底座，4—固定螺母，5—固定螺栓，6—样品垫片台，7—滑轨，8—收缩支杆，21—载物台座，22—薄片台，23—大异形卡槽，24—小异形卡槽，25—轨道通孔，71—腰型孔。
具体实施方式
[0015]以下结合附图对本技术作进一步的详细说明。
[0016]如图1所示的本技术实施例，包括：固定支杆1、两个载物台2、底座3、固定螺母4、固定螺栓5和样品垫片台6，其中底座3侧视呈“U”形，底座3的两侧壁31向内设有两根平行的固定支杆1，载物台2沿固定支杆1的轨迹滑动；两侧壁31均通过螺纹连接安装有一根固定螺栓5，固定螺栓5与同侧的载物台2的外侧接触连接，通过旋转固定螺栓5调整载物台2和底座3之间的相对位置以及两载物台2之间的相对位置；两个固定支杆1穿过载物台2和底座3并使用固定螺母4(通过开在侧壁31上的螺纹孔)固定；安装后，在底座3的侧壁31上方采用四个固定螺母4锁紧固定支杆1的位置，底座3侧边的采用固定螺栓5顶住并调整载物台2在载物台移动反向上的位置。
[0017]如图1所示的样品垫片台6包括：两条滑轨7和一对收缩支杆8，两收缩支杆8的中部通过螺钉(图中被遮挡未示出)相连，从而形成可以自由调整角度的“X”形，并在使用时拧紧，每根收缩支杆8的两端下方均设有凸起(图中被遮挡未示出)且分别在不同滑轨7的腰型孔71中滑动；滑轨7的侧视呈“L”形；安装后的滑轨7的顶部和上方一根收缩支杆8的顶部齐平，且与载物台2上薄片台22的大异形卡槽23和小异形卡槽24的高度均齐平；通过滑轨的设计可根据样品的大小自由调节样品垫片台6的尺寸，从而实现不同尺寸薄片样品的支撑。
[0018]载物台2上的薄片台22的高度为6mm～8mm；大异形卡槽23和小异形卡槽24的形状均为三角形，深度为1mm～3mm；可夹持样品的宽度或直径为10mm
‑
35mm；样品垫片台6、固定支杆1、载物台2和底座3均为硬质材料；
[0019]在本实施例中，大异形卡槽23和小异形卡槽24的倒有圆角；
[0020]在本实施例中，样品垫片台6、固定支杆1、载物台2和底座3均为不锈钢材质，固定支杆1和底座3的长度均为78mm，载物台2上的薄片台22的高度为7.5mm，异形卡槽的深度为2.5mm，滑轨7的高度为5mm，收缩支杆8的宽度为5mm，每根收缩支杆8的厚度均为2mm。
[0021]载物台2可拆卸，载物台2包括：一体构成载物台座21和薄片台22，其中载物台座21和薄片台22均为长方体结构，载物台座21在载物台移动方向上的尺寸大于薄片台22从而形成一个台阶，薄片台22的顶面两侧(载物台移动反向的两侧)分别开有大异形卡槽23和小异形卡槽24，大异形卡槽23和小异形卡槽24的槽底面齐平；载物台座21上开有两轨道通孔25，其中轨道通孔25沿固定支杆1滑动。
[0022]载物台2两边设计了不同大小的卡槽，可通过拆卸固定支杆1来更换在两载物台2之间用于夹持微/纳米力学测试中薄片样品的卡槽(大异形卡槽23或小异形卡槽24)；载物台2在夹持样品的时候采用固定螺栓5确定在载物台移动方向位置，固定支杆1采用固定螺母4固定，从而确定载物台2在其他方向的位置(除载物台移动方向之外其他方向的位置)。
[0023]本实施例工作时，以陶瓷薄片样品的大小为10cm*10cm(常规形状)，厚度为2cm为例，根据陶瓷薄片样品的形状和大小选择小异形卡槽24作为样品的夹持卡槽；调整好载物台2的方向后插入两根固定支杆1并拧紧固定螺母4，随后旋转固定螺栓5使得两载物台2的间距接近夹持位置；
[0024]再按照两载物台2的间距调节样品垫片台6的长度，稍微拧紧中央的螺钉；随后将样品垫片台6和陶瓷薄片样品放置在载物台2上；最后通过再次拧紧固定螺栓5夹紧薄片样品，从而进行微/纳米力学测试，如仪器化压入和划入测试。
[0025]对于夹持位置的选择，如果是正方形的陶瓷薄片样品，可以将陶瓷薄片样品仅放置在样品垫片台6上，使用两薄片台22的内侧进行夹紧；如果是异形陶瓷薄片样品，可以将异形突出的部分伸入大异形卡槽23或小异形卡槽24；样品垫片台6拥有支撑陶瓷薄片样品的形状并维持不变形从而可以进行测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置，其特征在于，包括：固定支杆(1)、两个载物台(2)、底座(3)、固定螺母(4)、固定螺栓(5)和样品垫片台(6)，其中底座(3)侧视呈“U”形，底座(3)的两侧壁(31)向内设有两根平行的固定支杆(1)，载物台(2)沿固定支杆(1)的轨迹滑动；两侧壁(31)均通过螺纹连接安装有一根固定螺栓(5)，固定螺栓(5)与同侧的载物台(2)接触连接；所述样品垫片台(6)包括：两条滑轨(7)和一对收缩支杆(8)，两收缩支杆(8)的中部通过螺钉相连，每根收缩支杆(8)的两端下方均设有凸起且两个凸起分别在不同滑轨(7)中的腰型孔(71)中滑动。2.根据权利要求1所述的一种微/纳米力学测试用薄片样品夹持装置，其特征在于，所述载物台(2)包括：一体构成载物台座(21)和薄片台(22)，其中载物台座(21)和薄片台(22)均为长方体结构，载物台座(21)在载物台移动方向上的尺寸大于薄片台(22)从而形成一个台阶，薄片台(22)的顶面两侧分别开有大异形卡槽(23)和小异形卡槽(24...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶司彤，卢硕，翟亚楠，
申请(专利权)人：国合通用测试评价认证股份公司，
类型：新型
国别省市：
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