本实用新型专利技术公开了一种半导体测试机校准装置，包括测试平台，限位板，支撑架，限位底座，调节杆，以及卡锁；通过设置在测试机内的测试平台承接待检测的半导体元件，通过调节杆带动支撑架抬升，并且使限位板从测试平台上的开孔中伸出，使限位板包裹在待测半导体元件的周围，之后通过将卡锁将调节杆的位置固定，从而通过限位板对待测半导体元件进行限位，防止在调节校准测试平台的过程中待测半导体元件产生晃动和偏移，影响操作效率，之后拔出卡锁，即可使调节杆解除固定，使限位板下降收纳到测试平台内，防止限位板阻挡测试仪器，影响测试效果，从而达到在校准过程中在不影响测试效果的情况下防止半导体元件偏移的技术效果。情况下防止半导体元件偏移的技术效果。情况下防止半导体元件偏移的技术效果。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试机校准装置
[0001]本技术涉及半导体测试机领域，特别是涉及一种半导体测试机校准装置。
技术介绍
[0002]半导体(指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件；半导体测试机通常指测试半导体器件的电路功能、电性能参数,具体涵盖直流参数(电压、电流)、交流参数(时间、占空比、总谐波失真、频率等)、功能测试等的设备仪器。
[0003]在对半导体进行测试时，通常需要将半导体元件放置在测试机内的测试平台上，通常为了使测试结果更精准，测试平台通常设置为可移动校准的活动平台，在校准过程中为了保持半导体材料不会因测试平台的移动产生晃动和偏移，传统的方式通常为在测试平台上固定有夹具，通过夹具对半导体元件进行夹持和固定，因此在测试过程中夹具往往不能取出，由于在待测半导体元件的周边存在夹具的干扰，对测试结果往往会造成一定的影响，为改善这一问题，因此提出一种半导体测试机校准装置。
技术实现思路
[0004]为了克服现有技术的不足，本技术提供一种半导体测试机校准装置，产生了在校准过程中在不影响测试效果的情况下防止半导体元件偏移的技术效果。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试机校准装置，包括测试平台，所述测试平台上开设有通孔，通孔内安装有限位板，所述限位板底部固定有支撑架，所述测试平台外侧固定有限位底座，所述限位底座内开设有通孔，并且限位底座内穿插有调节杆，以及所述调节杆上插接有卡锁。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述限位板设置有大小和距离不同的三组，每组限位板均设置有四处，并且每组限位板均设置为正方形排布。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述支撑架设置有大小不同的三处，三处支撑架由大到小嵌套安装，并且每一处支撑架均对应相同限位板的大小和距离，所述支撑架与对应的一组限位板固定。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述调节杆设置有长度不同的三处，所述调节杆包括连杆，以及固定在连杆末端的挡板，所述连杆穿过开设在限位底座侧面的开孔，并且所述连杆的末端与支撑架的侧面固定连接。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述挡板的宽度大于开设在限位底座侧面的开孔宽度，以及所述挡板的顶部开设有长条形开孔。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述卡锁包括固定块，以及固定在固定块末端的拉扣，所述固定块穿过挡板顶部的开孔，并且所述固定块的末端与开设在限位底座侧面靠近顶部的锁槽卡接。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述拉扣的宽度大于固定块的宽度，并且所述拉扣的底部开设有凹槽。
[0012]与现有技术相比，本技术能达到的有益效果是：
[0013]1、本技术通过设置在测试机内的测试平台承接待检测的半导体元件，通过移动调节杆，使调节杆带动支撑架抬升，并且使限位板从测试平台上的开孔中伸出，使限位板包裹在待测半导体元件的周围，之后通过将卡锁与限位底座上开设的卡槽卡接，将调节杆的位置固定，从而通过限位板对待测半导体元件进行限位，防止在调节校准测试平台的过程中待测半导体元件产生晃动和偏移，影响操作效率，之后拔出卡锁，即可使调节杆解除固定，使限位板下降收纳到测试平台内，防止限位板阻挡测试仪器，影响测试效果，从而达到在校准过程中在不影响测试效果的情况下防止半导体元件偏移的技术效果；
[0014]2、本技术通过卡锁，卡锁包括固定块，以及固定在固定块末端的拉扣，固定块穿过挡板顶部的开孔，并且固定块的末端与开设在限位底座侧面靠近顶部的锁槽卡接，通过固定块卡接到限位底座的锁槽内，使挡板与限位底座位置固定，拉扣的宽度大于固定块的宽度，并且拉扣的底部开设有凹槽，方便拉出固定块，锁定结构简单，达到方便操作不易损坏的技术效果。
附图说明
[0015]图1为本技术的完整结构示意图；
[0016]图2为本技术的局部爆炸视图；
[0017]图3为本技术的局部顶视截面图。
[0018]其中：1、测试平台；2、限位板；3、支撑架；4、限位底座；5、调节杆；6、卡锁；51、连杆；52、挡板；61、固定块；62、拉扣。
具体实施方式
[0019]为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本技术，但下述实施例仅仅为本技术的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本技术的保护范围。下述实施例中的实验方法，如无特殊说明，均为常规方法，下述实施例中所用的材料、试剂等，如无特殊说明，均可从商业途径得到。
[0020]实施例:
[0021]如图1
‑
3所示，一种半导体测试机校准装置，包括测试平台1，测试平台1上开设有通孔，通孔内安装有限位板2，限位板2底部固定有支撑架3，测试平台1外侧固定有限位底座4，限位底座4内开设有通孔，并且限位底座4内穿插有调节杆5，以及调节杆5上插接有卡锁6；使用时通过设置在测试机内的测试平台1承接待检测的半导体元件，通过移动调节杆5，使调节杆5带动支撑架3抬升，并且使限位板2从测试平台1上的开孔中伸出，使限位板2包裹在待测半导体元件的周围，之后通过将卡锁6与限位底座4上开设的卡槽卡接，将调节杆5的位置固定，从而通过限位板2对待测半导体元件进行限位，防止在调节校准测试平台1的过程中待测半导体元件产生晃动和偏移，影响操作效率，之后拔出卡锁6，即可使调节杆5解除
固定，使限位板2下降收纳到测试平台1内，防止限位板2阻挡测试仪器，影响测试效果。
[0022]在其他实施例中，限位板2设置有大小和距离不同的三组，每组限位板2均设置有四处，并且每组限位板2均设置为正方形排布，根据待测半导体元件的尺寸大小不同，选择对应位置的限位板2进行限位。
[0023]在其他实施例中，支撑架3设置有大小不同的三处，三处支撑架3由大到小嵌套安装，并且每一处支撑架3均对应相同限位板2的大小和距离，支撑架3与对应的一组限位板2固定，支撑架3位于测试平台1的底部，通过支撑架3将每组限位板2连接固定，使调节过程中每组限位板2可以同时抬升和下降。
[0024]在其他实施例中，调节杆5设置有长度不同的三处，调节杆5包括连杆51，以及固定在连杆51末端的挡板52，连杆51穿过开设在限位底座4侧面的开孔，并且连杆51的末端与支撑架3的侧面固定连接，通过连杆51在限位底座4的开孔中移动，带动支撑架3移动。
[0025]在其他实施例中，挡板52的宽度大于开设在限位底座4侧面的开孔宽度，以及挡板52的顶部开设有长条形开孔，通过挡板52对连杆51的末端进行限位。
[0026]在其他实施例中，卡锁6包括固定块61，以及固定本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试机校准装置，包括测试平台(1)，其特征在于：所述测试平台(1)上开设有通孔，通孔内安装有限位板(2)，所述限位板(2)底部固定有支撑架(3)，所述测试平台(1)外侧固定有限位底座(4)，所述限位底座(4)内开设有通孔，并且限位底座(4)内穿插有调节杆(5)，以及所述调节杆(5)上插接有卡锁(6)。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述限位板(2)设置有大小和距离不同的三组，每组限位板(2)均设置有四处，并且每组限位板(2)均设置为正方形排布。3.根据权利要求1所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述支撑架(3)设置有大小不同的三处，三处支撑架(3)由大到小嵌套安装，并且每一处支撑架(3)均对应相同限位板(2)的大小和距离，所述支撑架(3)与对应的一组限位板(2)固定。4.根据权利要求1所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述调节杆...
【专利技术属性】
技术研发人员：李国琪，
申请(专利权)人：无锡光磊电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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