一种远程JTAG多路复用测试方法及系统技术方案

本申请公开了一种远程JTAG多路复用测试方法及系统，涉及电路测试技术领域，所述方法包括：提取集群板卡装置数据流转路径集合及板卡进程集合；根据集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，进行正样本分析生成物理状态基线集合；基于流转路径集合，进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；遍历引脚配置方案集合进行远程测试，并激活监测，获取物理状态序列集；对物理状态序列集和物理状态基线集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；结合板卡故障分析模块，基于状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。进而达成场景自适应、高度可迁移，测试标定积极更新的技术效果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
一种远程JTAG多路复用测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及电路测试
，特别涉及一种远程JTAG多路复用测试方法及系统。
技术背景
[0002]随着集成电路的发展与应用，集成电路系统的规模和复杂程度也日益增加，针对多CPU、FPGA、ASIC的集群板卡，在生命周期的生产、维修阶段，多发生BGA封装引脚漏焊脱焊、功能单元损坏、插接单元磨损变形等情况，现有的基于JTAG的测试技术往往预先设定阈值与测试程序，无法根据测试场景灵活配置，存在适应能力差、可迁移性弱，测试标定迭代更新滞后的技术问题。

技术实现思路

[0003]本申请的目的在于提供一种远程JTAG多路复用测试方法及系统。用以解决现有技术中适应能力差、可迁移性弱，测试标定迭代更新滞后的技术问题。
[0004]鉴于以上技术问题，本申请提供了一种远程JTAG多路复用测试方法及系统第一方面，本申请提供了一种远程JTAG多路复用测试方法，其中，所述方法包括：根据集群板卡装置，提取板卡进程集合，其中，所述板卡进程集合具有一一对应的数据流转路径集合；根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合；基于所述流转路径集合，对所述测试数据输入总线、所述测试数据输出总线、所述测试模式选择总线和所述测试时钟总线进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；遍历所述引脚配置方案集合进行远程测试，同时激活部署于所述集群板卡装置的状态交互设备监测物理状态序列集，其中，任意一个物理状态序列和一个引脚配置方案一一对应；对所述物理状态序列集和所述物理状态基线集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；结合板卡故障分析模块，基于所述状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。
[0005]第二方面，本申请还提供了一种远程JTAG多路复用测试系统，其中，所述系统包括：进程提取模块，所述进程提取模块用于根据集群板卡装置，提取板卡进程集合，其中，所述板卡进程集合具有一一对应的数据流转路径集合；状态分析模块，所述状态分析模块用于根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合；方案配置模块，所述方案配置模块用于基于所述流转路径集合，对所述测试数据输入总线、所述测试数据输出总线、所述测试模式选择总线和所述测试时钟总线进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；监测测试模块，所述监测测试模块用于遍历所述引脚配置方案集合进行远程测试，同时激活部署于所述集群板卡装置的状态交互设备监测物理状态序列集，其中，任意一个物理状态序列和一个引脚配置方案一一对应；偏离评估模块，所述偏离评估模块用于对所述物理状态序列集和所述物理状态基线
集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；测试标定模块，所述测试标定模块用于结合板卡故障分析模块，基于所述状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。
[0006]本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：根据集群板卡装置，提取具有一一对应的数据流转路径集合的板卡进程集合；根据集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合；基于流转路径集合，对测试数据输入总线、测试数据输出总线、测试模式选择总线和测试时钟总线进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；遍历引脚配置方案集合进行远程测试，并激活部署于集群板卡装置的状态交互设备监测物理状态序列集，其中，任意一个物理状态序列和一个引脚配置方案一一对应；对物理状态序列集和物理状态基线集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；结合板卡故障分析模块，基于状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。进而达成场景自适应、高度可迁移，测试标定积极更新的技术效果。
[0007]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚阐明本申请的技术手段，进而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述及其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0008]本专利技术的实施例及后述简单说明结合图示予以说明，附图说明如下：图1为本申请一种远程JTAG多路复用测试方法的流程示意图；图2为本申请一种远程JTAG多路复用测试方法中生成物理状态基线集合的流程示意图；图3为本申请一种远程JTAG多路复用测试系统的结构示意图；图4为本申请一种远程JTAG多路复用测试方法中的一种集群板卡装置的结构示意图；图5为本申请一种远程JTAG多路复用测试方法中的一种引脚配置示意图；附图标记说明：进程提取模块11、状态分析模块12、方案配置模块13、监测测试模块14、偏离评估模块15、测试标定模块16。
具体实施方式
[0009]本申请通过提供一种远程JTAG多路复用测试方法和系统，解决了现有技术面临的适应能力差、可迁移性弱，测试标定迭代更新滞后的技术问题。
[0010]本技术实施例中的方案，为解决上述问题，所采用的整体思路如下：根据集群板卡装置，提取具有一一对应的数据流转路径集合的板卡进程集合；根据集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合；基于流转路径集合，对测试数据输入总线、测试数据输出总线、测试模式选择总线和测试时钟总线进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；遍历引脚配置方案集合进行远程测试，并激活部署于集群板卡装置的状态交互设备监测物理状态序列集，其中，任意一个物理状态序列和一个引脚配置方案一一对应；对物理状态序列集和物理状态
基线集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；结合板卡故障分析模块，基于状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。进而达成场景自适应、高度可迁移，测试标定积极更新的技术效果。
[0011]为更好理解上述技术方案，下面将结合说明书附图和具体的实施方式来对上述技术方案进行详细的说明，需要说明的是，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是本申请的全部实施例，应理解，本申请不受这里描述的示例实施例的限制。基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部。
实施例一
[0012]如图1所示，本申请提供了一种远程JTAG多路复用测试方法，所述方法包括：S100：根据集群板卡装置，提取板卡进程集合，其中，所述板卡进程集合具有一一对应的数据流转路径集合；集群板卡装置是一种包括CPU，GPU，FPGA，ASIC等多种处理单元，由多个板卡组成的计算资源集群，用于执行计算任务或处理数据。这些板卡通常具有并行处理能力，可用于高性能计算或大规模数据处理。其中，集群板卡装置根据用途将板卡分为多组，多组板卡本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种远程JTAG多路复用测试方法，其特征在于，应用于远程JTAG多路复用测试系统，所述系统包括板卡故障分析模块，所述系统和JTAG多路复用器通信连接，所述JTAG多路复用器包括测试数据输入总线、测试数据输出总线、测试模式选择总线和测试时钟总线，所述JTAG多路复用器部署于集群板卡装置，所述方法执行步骤包括：根据集群板卡装置，提取板卡进程集合，其中，所述板卡进程集合具有一一对应的数据流转路径集合；根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合；基于所述流转路径集合，对所述测试数据输入总线、所述测试数据输出总线、所述测试模式选择总线和所述测试时钟总线进行引脚配置，生成引脚配置方案集合；遍历所述引脚配置方案集合进行远程测试，同时激活部署于所述集群板卡装置的状态交互设备监测物理状态序列集，其中，任意一个物理状态序列和一个引脚配置方案一一对应；对所述物理状态序列集和所述物理状态基线集合进行偏离度评估，生成状态偏离系数；结合板卡故障分析模块，基于所述状态偏离系数、偏离状态属性和偏离进程类型进行板卡故障标定，生成故障类型标定结果，添加进远程测试结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成物理状态基线集合，包括：根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成电流状态基线集合；根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成电压状态基线集合；根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成温度状态基线集合；根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成湿度状态基线集合；将所述电流状态基线集合、所述电压状态基线集合、所述温度状态基线集合和所述湿度状态基线集合，添加进所述物理状态基线集合。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述集群板卡装置的拓扑结构特征和板卡型号特征，遍历所述板卡进程集合进行正样本分析，生成电流状态基线集合，包括：根据所述板卡进程集合，获取第一板卡进程，结合所述拓扑结构特征和所述板卡型号特征，基于板卡测试大数据进行正样本采集，生成多个电流特征值时序信息；对所述多个电流特征值时序信息进行时序分割，生成第一时序电流特征值集合、第二时序电流特征值集合直到第N时序电流特征值集合；遍历所述第一时序电流特征值集合、所述第二时序电流特征值集合直到所述第N时序电流特征值集合进行集中区间分析，生成第一时序特征值集中区间、第二时序特征值集中区间直到第N时序特征值集中区间；根据所述第一时序特征值集中区间、所述第二时序特征值集中区间直到所述第N时序
特征值集中区间，构建第一板卡进程电流状态基线集合，添加进所述电流状态基线集合。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述第一时序电流特征值集合进行集中区间分析，生成第一时序特征值集中区间，包括：获取所述第一时序电流特征值集合的临界特征值和中位特征值；基于所述临界特征值自近至远，筛选k个邻域特征值；基于所述中位特征值，遍历所述k个邻域特征值求取距离再求均值，生成第一基准距离；基于所述临界特征值，遍历所述k个邻域特征值求取距离再求均值，生成第一比对距离；求取所述第一基准距离和所述第一比对距离的比值，生成第一集中系数；当所述第一集中系数小于或等于集中系数阈值，将所述临界特征值从所述第一时序电流特征值集合清洗；迭...

【专利技术属性】
技术研发人员：辛大勇，黎小兵，王维，何建伟，陈小兵，
申请(专利权)人：江苏嘉擎信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：