电子设备的抗干扰测试设备制造技术

本申请实施例提供了一种电子设备的抗干扰测试设备，其中，包括：信号发射器和控制器，其中，控制器和信号发射器连接；信号发射器，用于向待测试的电子设备发射目标电磁信号，其中，目标电磁信号用于在电子设备的电路回路中产生瞬态脉冲群干扰；控制器，用于根据电子设备的设备属性控制目标电磁信号的目标信号参数，该方法包括：通过本申请，可以解决相关技术中的对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试的测试效率较低的问题，达到提高对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试的测试效率的效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
电子设备的抗干扰测试设备


[0001]本申请实施例涉及设备测试领域，具体而言，涉及一种电子设备的抗干扰测试设备。

技术介绍

[0002]随着信息化时代的进程不断加快，各类IT(Information Technology，信息技术)产品不断更新换代，蓬勃发展。尤其是云时代的来临，对服务器的性能要求越来越高。高性能、高配置服务器的需求越来越大。伴随服务器性能的不断提高，高功耗、大功率服务器逐渐成为服务器市场的主流。
[0003]服务器的应用越来越广泛,随之质量管控也越来越严格,不论是国内市场的3C认证，还是军工产品的环境实验都包括EFT/B(Electrical Fast Transient/Burst，电快速瞬变脉冲群)抗干扰测试，EFT/B抗干扰测试是电子产品必须要通过的测试项目，同时其也是电子产品的设计和整改的难点。相关技术中，EFT/B抗干扰测试是通过EFT/B发生器实现的，其原理是产生电压脉冲干扰，通过与待测试设备的供电线耦合的方式，在待测试设备的电路回路上耦合上电压脉冲干扰。EFT/B发生器虽然精度高，但是该发生器体量庞大，需要设置特定的实验室，并且操作难度大，不利于电子设备的EFT/B测试。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种电子设备的抗干扰测试设备，以至少解决相关技术中对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试的测试效率较低问题。
[0005]根据本申请的一个实施例，提供了一种电子设备的抗干扰测试设备，包括：信号发射器和控制器，其中，所述控制器和所述信号发射器连接；所述信号发射器，用于向待测试的电子设备发射目标电磁信号，其中，所述目标电磁信号用于在所述电子设备的电路回路中产生瞬态脉冲群干扰；
[0006]所述控制器，用于根据所述电子设备的设备属性控制所述目标电磁信号的目标信号参数。
[0007]可选的，所述信号发射器，包括：N个信号发射单元，其中，N个所述信号发射单元分别与所述控制器连接，N个所述信号发射单元部署在所述电子设备周围的不同位置处；所述信号发射单元，用于向所述电子设备上目标位置发射子电磁信号，其中，所述目标位置为所述电子设备上与所述信号发射单元对应的位置，所述目标电磁信号包括所述子电磁信号；所述控制器，用于根据所述电子设备的所述设备属性控制所述子电磁信号的子信号参数，其中，所述目标信号参数包括所述子信号参数。
[0008]可选的，所述信号发射单元，包括：电源、开关和电磁线圈，其中，所述电源的第一端和所述开关的第一端连接，所述电源的第二端和所述电磁线圈的第一端连接，所述开关的第二端和所述电磁线圈的第二端连接，所述控制器和所述开关连接；所述电源，用于为所述电磁线圈供电；所述开关，用于调节所述电源和所述电磁线圈之间形成的目标电路的通
断状态；所述电磁线圈，用于生成射在所述目标位置上的所述子电磁信号；所述控制器，用于通过控制所述开关调节所述目标电路的通断状态频率的方式，控制所述子电磁信号的目标信号频率，其中，所述子信号参数包括所述目标信号频率。
[0009]可选的，所述信号发射单元还包括：线圈调节部件，其中，所述线圈调节部件与所述控制器连接；所述线圈调节部件，用于调节所述目标电路中所述电磁线圈的线圈匝数；所述控制器，用于通过控制所述线圈调节部件调节所述目标电路中所述电磁线圈的线圈匝数的方式，控制所述子电磁信号的目标信号强度，其中，所述子信号参数包括所述目标信号强度。
[0010]可选的，所述线圈调节部件，包括：连接线，其中，所述连接线的第一端固定在所述电磁线圈上的第一位置处，所述连接线的第二端与所述电磁线圈连接，并且所述连接线的第二端被配置为允许在所述电磁线圈上移动；所述连接线，用于通过将所述第一位置和第二位置之间的线圈断路的方式调节所述电磁线圈的线圈匝数，所述第二位置为所述连接线的第二端与所述电磁线圈接触的位置。
[0011]可选的，所述目标电路中还串联了目标耗电元件，其中，所述目标耗电元件用于控制所述目标电路中形成耗电回路。
[0012]可选的，所述电子设备的抗干扰测试设备，还包括：处理器，其中，所述处理器用于与所述电子设备连接；
[0013]所述处理器，还用于获取所述电子设备的目标运行状态，其中，所述目标运行状态用于表征所述电子设备在所述目标电磁信号所产生的瞬态脉冲群干扰下的设备运行情况；根据所述目标运行状态确定所述电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰性能。
[0014]可选的，所述处理器还与所述控制器连接，其中，所述处理器还用于：在确定所述电子设备的所述电快速瞬变脉冲群抗干扰性能的性能等级低于目标等级的情况下，向所述控制器发送目标指令，其中，所述目标指令用于指示所述控制器调整控制所述信号发射器发射的所述目标电磁信号的所述目标信号参数；获取所述电子设备在所述目标电磁信号的所述目标信号参数变化过程中的运行状态信息；根据所述运行状态信息确定所述电子设备上的目标部件，其中，所述目标部件为导致所述电子设备的所述性能等级低于所述目标等级的部件。
[0015]可选的，所述处理器还用于：控制所述控制器按照目标顺序依次调整控制N个信号发射单元输出的子电磁信号的子信号参数，其中，所述信号发射器包括N个所述信号发射单元，N个所述信号发射单元部署在所述电子设备周围的不同位置处。
[0016]可选的，所述处理器还用于：在所述电子设备的所述运行状态信息发生变化的情况下，确定当前输出的所述子电磁信号的所述子信号参数处于被调整状态的目标信号发射单元；将所述电子设备上所述目标信号发射单元对应的部件确定为所述目标部件。
[0017]通过本申请，由于电子设备的抗干扰测试设备包括：信号发射器和控制器，由信号发射器向待测电子设备发射目标电磁信号，通过该目标电磁信号在电子设备的电路回路中产生瞬态脉冲群干扰，并通过控制器根据电子设备的设备属性控制信号发射器发射的目标电磁信号的目标信号参数，从而实现通过对不同设备属性的电子设备发送不同信号参数的电磁信号的方式，从而在待测试的电子设备的电路回路中产生瞬态脉冲群干扰，实现了通过简单的测试设备完成对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试。因此，可以解决相关
技术中的对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试的测试效率较低的问题，达到提高对电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰测试的测试效率的效果。
附图说明
[0018]图1是根据本申请实施例的电子设备的抗干扰测试设备的示意图；
[0019]图2是根据本申请实施例的一种可选的移动装置示意图；
[0020]图3是根据本申请实施例的一种可选的抗干扰测试设备结构图；
[0021]图4是根据本申请实施例的一种可选的线圈调节部件示意图一；
[0022]图5是根据本申请实施例的一种可选的线圈调节部件示意图二；
[0023]图6是根据本申请实施例的一种可选的干扰测试流程图；
[0024]图7是根据本申请实施例的一种可选的电子元件检测流程图。
具体实施方式
[0025]下文中将参本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备的抗干扰测试设备，其特征在于，包括：信号发射器和控制器，其中，所述控制器和所述信号发射器连接；所述信号发射器，用于向待测试的电子设备发射目标电磁信号，其中，所述目标电磁信号用于在所述电子设备的电路回路中产生瞬态脉冲群干扰；所述控制器，用于根据所述电子设备的设备属性控制所述目标电磁信号的目标信号参数。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述信号发射器，包括：N个信号发射单元，其中，N个所述信号发射单元分别与所述控制器连接，N个所述信号发射单元部署在所述电子设备周围的不同位置处；所述信号发射单元，用于向所述电子设备上目标位置发射子电磁信号，其中，所述目标位置为所述电子设备上与所述信号发射单元对应的位置，所述目标电磁信号包括所述子电磁信号；所述控制器，用于根据所述电子设备的所述设备属性控制所述子电磁信号的子信号参数，其中，所述目标信号参数包括所述子信号参数。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述信号发射单元，包括：电源、开关和电磁线圈，其中，所述电源的第一端和所述开关的第一端连接，所述电源的第二端和所述电磁线圈的第一端连接，所述开关的第二端和所述电磁线圈的第二端连接，所述控制器和所述开关连接；所述电源，用于为所述电磁线圈供电；所述开关，用于调节所述电源和所述电磁线圈之间形成的目标电路的通断状态；所述电磁线圈，用于生成射在所述目标位置上的所述子电磁信号；所述控制器，用于通过控制所述开关调节所述目标电路的通断状态频率的方式，控制所述子电磁信号的目标信号频率，其中，所述子信号参数包括所述目标信号频率。4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述信号发射单元还包括：线圈调节部件，其中，所述线圈调节部件与所述控制器连接；所述线圈调节部件，用于调节所述目标电路中所述电磁线圈的线圈匝数；所述控制器，用于通过控制所述线圈调节部件调节所述目标电路中所述电磁线圈的线圈匝数的方式，控制所述子电磁信号的目标信号强度，其中，所述子信号参数包括所述目标信号强度。5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述线圈调节部件，包括：连接线，其中，所述连接线的第一端固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：高富利，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：