一种探伤机检定方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施提供一种探伤机检定方法、装置及系统，探伤机检定方法包括确定工作平面，并在工作平面上确定至少两条等距间隔的测量轨迹；控制检定器沿测量轨迹移动并获取对应位置的辐射值，获取测量轨迹上的峰值辐射位置；根据峰值辐射位置的辐射峰值计算边界辐射值；根据边界辐射值，获取测量轨迹上分别位于峰值辐射位置沿测量轨迹的一侧的两个边界辐射位置；根据至少两条测量轨迹上的边界辐射位置，计算位于峰值辐射位置两侧的两条边界线；计算两条边界线的夹角，得到探伤机的辐射角。本发明专利技术实施例中的探伤机检定方法有利于减少运算过程中的工作量，对相关计算设备的运算处理低，有利于提高运算速度，提高了工作效率。提高了工作效率。提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种探伤机检定方法、装置及系统


[0001]本专利技术实施例涉及探伤
，具体涉及一种探伤机检定方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]探伤机是指用于工业产品部件无损检测的高能射线发生装置。它是通过发射高能射线穿透被检测的部件，并在胶片或其它成像装置上得到部件内部结构图像，从而判断被检部件有无结构缺陷的一种装置。探伤机已经被广泛应用于各类工业领域。
[0003]在探伤机完成生产以及经过一段时间的使用后，需要确定其所发出的高能射线的辐射范围以保证探伤机技术性能满足使用要求和安全要求。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例期望提供一种用于确定探伤机的辐射范围的探伤机检定方法、装置及系统。
[0005]为达到上述目的，本申请实施例的技术方案是这样实现的：
[0006]本专利技术实施例提供一种探伤机检定方法，包括：
[0007]确定工作平面，并在所述工作平面上确定至少两条等距间隔的测量轨迹；
[0008]控制检定器沿所述测量轨迹移动并获取对应位置的辐射值，获取所述测量轨迹上的峰值辐射位置；
[0009]根据所述峰值辐射位置的辐射峰值计算边界辐射值；
[0010]根据所述边界辐射值，获取所述测量轨迹上分别位于所述峰值辐射位置沿所述测量轨迹的一侧的两个边界辐射位置；
[0011]根据至少两条所述测量轨迹上的所述边界辐射位置，计算位于所述峰值辐射位置两侧的两条边界线；
[0012]计算两条所述边界线的夹角，得到探伤机的辐射角。
[0013]一些实施例中，所述的控制检定器沿所述测量轨迹移动，具体包括：
[0014]控制所述检定器沿所述测量轨迹单向移动。
[0015]一些实施例中，所述测量轨迹的两端距离所述探伤机的间距大于所述测量轨迹的最近端距离所述探伤机的间距。
[0016]一些实施例中，所述的控制检定器沿所述测量轨迹移动并获取对应位置的辐射值，获取所述测量轨迹上的峰值辐射位置，具体包括：
[0017]驱动检定器移动至位于所述测量轨迹一端的初始位置，开启所述检定器；
[0018]驱动所述检定器沿所述测量轨迹移动，获取所述检定器每移动预设采样距离所感应的辐射强度值，直至所述检定器移动至所述测量轨迹的终末位置；
[0019]比较各所述辐射强度值，筛选出所述辐射峰值，获得所述辐射峰值的位置为所述峰值辐射位置。
[0020]一些实施例中，在各所述测量轨迹之间，所述边界辐射值与所述辐射峰值的比值
相同。
[0021]一些实施例中，所述的获取每一所述测量轨迹上分别位于所述峰值辐射位置沿所述测量轨迹的一侧的两个边界辐射位置，具体包括：
[0022]根据所述峰值辐射位置的辐射峰值与预设边界比例，计算得到所述边界辐射值；
[0023]获取在所述测量轨迹上所测得的辐射强度值等于所述边界辐射值的备选位置；
[0024]确定分别位于所述峰值辐射位置两侧，且沿所述测量轨迹的距离所述峰值辐射位置最远的两个所述备选位置为所述边界辐射位置。
[0025]一些实施例中，所述的根据至少两条所述测量轨迹上的所述边界辐射位置，计算位于所述峰值辐射位置两侧的两条边界线，具体包括：
[0026]根据各所述测量轨迹上的所述峰值辐射位置拟合基准线；
[0027]拟合位于所述拟合基准线的同侧的各所述测量轨迹上的所述边界辐射位置，得到位于该侧的所述边界线。
[0028]一些实施例中，所述测量轨迹为直线，且所述测量轨迹的延长线与所述探伤机的辐射发射原点错开。
[0029]本专利技术实施例还提供一种探伤机检定装置，包括：
[0030]确定模块，用于确定工作平面和所述工作平面上的测量轨迹；
[0031]控制模块，用于控制检定器沿所述测量轨迹移动；
[0032]获取模块，用于获取所述测量轨迹上的峰值辐射位置和所述测量轨迹上分别位于所述峰值辐射位置沿所述测量轨迹的一侧的两个边界辐射位置；
[0033]计算模块，用于计算位于所述峰值辐射位置两侧的两条边界线和两条所述边界线的夹角。
[0034]本专利技术实施例还提供一种探伤机检定系统，用于检定探伤机，包括：
[0035]前述实施例中的所述探伤机检定装置；
[0036]检定器，用于感应所述探伤机发出的高能射线；
[0037]驱动组件，所述检定器设于所述驱动组件上，以驱动所述检定器移动；
[0038]所述探伤机检定装置分别与所述检定器和所述驱动组件电连接。
[0039]本专利技术实施例中的探伤机检定方法通过不同测量轨迹上的边界辐射位置获得辐射角的边界线，边界线之间的夹角能够直观反映出探伤机的辐射角的数值大小，其方法步骤简单，有利于减少运算过程中的工作量，对相关计算设备的运算处理低，有利于提高运算速度，便于更快捷地得到探伤机的辐射范围，提高了工作效率。
附图说明
[0040]图1为本专利技术一实施例中探伤机检定方法的流程图；
[0041]图2为本专利技术一实施例中在一工作平面上，测量轨迹、峰值辐射位置、边界辐射位置以及辐射角的相对位置示意图；
[0042]图3为本专利技术一实施例中探伤机检定装置的示意图。
[0043]附图标记说明
[0044]测量轨迹10；峰值辐射位置11；边界辐射位置12；边界线13；辐射角14；辐射分角141；基准线15；辐射发射原点16；探伤机检定装置20；确定模块21；控制模块22；获取模块
23；计算模块24
具体实施方式
[0045]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的技术特征可以相互组合，具体实施方式中的详细描述应理解为本申请宗旨的解释说明，不应视为对本申请的不当限制。
[0046]本专利技术实施例提供一种探伤机检定方法，该检定方法用于通过检定器对探伤机进行检定，以获取探伤机所发出的辐射范围大小。
[0047]参阅图1和图2，该探伤机检定方法具体包括如下步骤。
[0048]S10：确定工作平面，并在工作平面上确定至少两条等距间隔的测量轨迹10。
[0049]工作平面，指的是预先所划定的检定器的活动范围的二维平面，检定器的检定端在该二维平面上移动。
[0050]检定器用于感应探伤机发出的高能射线。
[0051]探伤机所发出的高能射线能够触发检定器，从而得到检定器所处位置的高能射线的辐射值大小。
[0052]检定器的具体类型不限，例如电离室等。
[0053]可以理解的是，各条测量轨迹10之间相对探伤机的位置由近及远布置。
[0054]各测量轨迹10之间等距间隔，一方面，避免相邻的两条测量轨迹10之间存在交点而造成后续测量的数据混乱；另一方面，相邻的两条测量轨迹10上的各位置之间等距，从而使得各位置之间辐射的衰减程度大致相同，有利于简化后续步骤的计算。
[0055]需要说明的是，在二维平面上规划物本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探伤机检定方法，其特征在于，包括：确定工作平面，并在所述工作平面上确定至少两条等距间隔的测量轨迹；控制检定器沿所述测量轨迹移动并获取对应位置的辐射值，获取所述测量轨迹上的峰值辐射位置；根据所述峰值辐射位置的辐射峰值计算边界辐射值；根据所述边界辐射值，获取所述测量轨迹上分别位于所述峰值辐射位置沿所述测量轨迹的一侧的两个边界辐射位置；根据至少两条所述测量轨迹上的所述边界辐射位置，计算位于所述峰值辐射位置两侧的两条边界线；计算两条所述边界线的夹角，得到探伤机的辐射角。2.根据权利要求1所述的探伤机检定方法，其特征在于，所述的控制检定器沿所述测量轨迹移动，具体包括：控制所述检定器沿所述测量轨迹单向移动。3.根据权利要求1所述的探伤机检定方法，其特征在于，所述测量轨迹的两端距离所述探伤机的间距大于所述测量轨迹的最近端距离所述探伤机的间距。4.根据权利要求1所述的探伤机检定方法，其特征在于，所述的控制检定器沿所述测量轨迹移动并获取对应位置的辐射值，获取所述测量轨迹上的峰值辐射位置，具体包括：驱动检定器移动至位于所述测量轨迹一端的初始位置，开启所述检定器；驱动所述检定器沿所述测量轨迹移动，获取所述检定器每移动预设采样距离所感应的辐射强度值，直至所述检定器移动至所述测量轨迹的终末位置；比较各所述辐射强度值，筛选出所述辐射峰值，获得所述辐射峰值的位置为所述峰值辐射位置。5.根据权利要求1所述的探伤机检定方法，其特征在于，在各所述测量轨迹之间，所述边界辐射值与所述辐射峰值的比值相同。6.根据权利要求1所述的探伤机检定方法，其特征在于，所述的获取每一所述测量轨迹上分...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨静，魏可新，王红玉，侯金兵，杭仲斌，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：