一种矢量微波模块调测装置及调测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种矢量微波模块调测装置及调测方法，属于矢量微波模块调测技术领域。包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元；主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至信号源生成单元和程控微波开关；信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，以生成待测试信号；程控微波开关用于根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入测试单元；测试单元用于对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数能够实现参考信号发生模块的自动化测试。能够提高自动化测试效率，减少测量结果误差；解决了现有技术中存在的人工测试效率低且质量差的问题。存在的人工测试效率低且质量差的问题。存在的人工测试效率低且质量差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种矢量微波模块调测装置及调测方法


[0001]本专利技术涉及矢量微波模块调测
，特别是涉及一种矢量微波模块调测装置及调测方法。

技术介绍

[0002]本部分的陈述仅仅是提到了与本专利技术相关的
技术介绍
，并不必然构成现有技术。
[0003]微波信号发生器中设置有20GHz矢量微波模块和45GHz矢量微波模块(以下简称模块)，其主要功能是提供整机输出的4.2GHz
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45 GHz矢量信号和4.2GHz
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45 GHz模拟信号；矢量微波模块的输出端口测试指标众多、电缆连接复杂，调测技术实现复杂。
[0004]目前，同类型矢量微波模块调测没有专用工装，多临时搭建平台进行调试，以手动调试为主，调测效率低且可调测质量与人员素质关系较大，无法形成固定、高效的调测工艺。
[0005]矢量微波模块的测试一般需要2台信号源、1台函数发生器、1台加电测试平台、1台FSW频谱仪，还需要输出信号幅度大小在一定范围内。因此具有以下缺点：
[0006](1)每测试一个点，都需要通过函数发生器外加模拟的直流信号进行幅度调制，极大的降低测试效率，单套测试时间长。
[0007](2)测试时由于外加信号源输入信号的平坦度和仪器内部前端输入的信号平坦度不同，造成整件测试完成放入整机后，部分指标不符合整机指标，与整机配合度差。
[0008](3)测试设备：外加基带信号需要1台R&S的矢量信号源和1台模拟信号源，1台函数发生器及FSW频谱仪，这些仪器设备价格太昂贵，测试系统搭建耗时且费力。

技术实现思路

[0009]为了解决现有技术的不足，本专利技术提供了一种矢量微波模块调测装置及调测方法，提高测试全过程输入信号匹配性和测试数据指标的高效性和准确性。
[0010]第一方面，本专利技术提供了一种矢量微波模块调测装置；
[0011]一种矢量微波模块调测装置，包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元；
[0012]所述主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至所述信号源生成单元和所述程控微波开关；所述信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，以生成待测试信号；所述程控微波开关用于根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入所述测试单元；所述测试单元用于对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数。
[0013]进一步的，所述主控单元分别与所述信号源生成单元和所述程控微波开关通信连接，所述信号源生成单元与所述待调测矢量微波模块的输入端通过测试电缆连接，所述待调制矢量微波模块的输出端与所述程控微波开关通过测试电缆连接，所述程控微波开关与所述测试单元的输入端连接。
[0014]进一步的，所述待测试信号类型包括模拟信号和矢量信号。
[0015]进一步的，所述主控单元为主控计算机，所述信号源生成单元为前一级矢量微波模块，所述测试单元为FSW频谱仪。
[0016]进一步的，所述主控单元还用于发出控制指令至信号源生成单元和测试单元，以校准测试电缆插损误差。
[0017]第二方面，本专利技术提供了一种矢量微波模块调测方法；
[0018]一种矢量微波模块调测方法，基于上述矢量微波模块调测装置，包括如下步骤：
[0019]S1、主控单元获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至信号源生成单元和程控微波开关，其中，待测试信号类型由作业人员输入；
[0020]S2、信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，待调测矢量微波模块生成待测试信号；程控微波开关根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入测试单元；
[0021]S3、测试单元对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数并发送至主控单元。
[0022]进一步的，在步骤S1之前还包括：
[0023]主控单元分别发出控制指令至信号源生成单元和测试单元，信号源生成单元和测试单元根据控制指令，校准测试电缆插损误差。
[0024]进一步的，在步骤S1之前还包括：
[0025]将信号源生成单元与待调测矢量微波模块的输入端连接，待调测矢量微波模块的输出端与测试单元连接。
[0026]进一步的，所述调测参数包括模拟信号的幅度数据和矢量信息的幅度数据和去基准后的一致性数据。
[0027]进一步的，还包括：
[0028]主控单元生成测试表格并将调测参数保存至测试表格。
[0029]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0030]1、本专利技术提供的技术方案，通过将被测试模块接入整机平台，利用平台的ALC控制，模拟和矢量信号，实现了自动化测试。
[0031]2、本专利技术提供的技术方案，可以利用平台双通道设计，分别提供模拟通路信号和IQ矢量信号，同时利用ALC系统对模块进行稳幅控制，提高自动化测试效率；采用信号源平台自身模拟信号最大程度的匹配前端输入的信号平坦度，减少测量结果误差，测试全过程输入信号匹配性得到很大提高，测试数据EVM/ACPR指标的准确性和高效性得到了极大的提升。
附图说明
[0032]构成本专利技术的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。
[0033]图1为本专利技术实施例提供的双通道输入示意图；
[0034]图2为本专利技术实施例提供的矢量微波模块调测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0035]应该指出，以下详细说明都是示例性的，旨在对本专利技术提供进一步的说明。除非另有指明，本专利技术使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0036]在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0037]实施例一
[0038]结合图1
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图2，本专利技术提供了一种矢量微波模块调测装置，该矢量微波模块调测装置包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元；主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至信号源生成单元和程控微波开关；信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，以生成待测试信号；程控微波开关用于根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入测试单元；测试单元用于对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数。
[0039]主控单元分别与信号源生成单元、测试单元和程控微波开关通信连接，信号源生成单元与待调测矢量微波模块的输入端通过测试电缆连接，待调制矢量微波模块的输出端与程控微波开关通过测试电缆连接，程控微波开关与测试单元的输入端连接。信号源生成单元提供模拟通路信号与矢量基带3G
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WCDMA和5GNR格式矢量信号模式给待调测矢量微波模块，这两种格式矢量信号通过待调测矢量微波模块进行混频、放大、滤波、调制，最后将待调测矢量微波模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种矢量微波模块调测装置，其特征是，包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元；所述主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至所述信号源生成单元和所述程控微波开关；所述信号源生成单元根据待测试信号类型，生成信号源并输入待调测矢量微波模块，以生成待测试信号；所述程控微波开关用于根据待测试信号类型，采集待测试信号并输入所述测试单元；所述测试单元用于对待测试信号进行测试，获取待调测矢量微波模块的调测参数。2.如权利要求1所述的矢量微波模块调测装置，其特征是，所述主控单元分别与所述信号源生成单元和所述程控微波开关通信连接，所述信号源生成单元与所述待调测矢量微波模块的输入端通过测试电缆连接，所述待调制矢量微波模块的输出端与所述程控微波开关通过测试电缆连接，所述程控微波开关与所述测试单元的输入端连接。3.如权利要求1所述的矢量微波模块调测装置，其特征是，所述待测试信号类型包括模拟信号和矢量信号。4.如权利要求1所述的矢量微波模块调测装置，其特征是，所述主控单元为主控计算机，所述信号源生成单元为前一级矢量微波模块，所述测试单元为FSW频谱仪。5.如权利要求1所述的矢量微波模块调测装置，其特征是，所述主控单元还用于发出控制指令至信号源生成单元和测试单元，以校准测试电缆插损误差。6.一种矢量...

【专利技术属性】
技术研发人员：王涛，赵习智，马骏，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：