配件在位检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种配件在位检测系统，包括电子设备和吸附配件。电子设备包括第一吸附组件、磁力计以及处理器。吸附配件包括第二吸附组件，第二吸附组件用于和第一吸附组件吸附，使吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备上。磁力计还用于当吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备时，受第一吸附组件和第二吸附组件的磁场共同触发输出磁场强度信息。处理器用于在磁场强度信息满足预设条件时，输出第一指示信息指示吸附配件吸附固定到位，并在磁场强度信息不满足预设条件时，输出第二指示信息，第二指示信息用于指示吸附配件吸附固定不到位。该发明专利技术可以有效降低现有吸附检测方案的耗材成本。现有吸附检测方案的耗材成本。现有吸附检测方案的耗材成本。

【技术实现步骤摘要】
配件在位检测系统


[0001]本申请涉及吸附检测的
，尤其涉及一种配件在位检测系统。

技术介绍

[0002]随着市场对电子设备的性能和高用户体验的追求，越来越多的电子设备配备有吸附配件。该吸附配件(如手写笔)可以通过吸附的方式固定在电子设备(如平板电脑)上，也可以脱离电子设备而独立存在。
[0003]电子设备通常具有对吸附配件是否吸附固定到位的情况进行检测的功能，以便于基于此开展一些功能，如平板电脑对手写笔进行充电的功能。然而，目前的吸附检测方案的检测原理，导致其耗材存在成本高的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种配件在位检测系统、吸附配件及电子设备，用于目前吸附检测方案的检测原理，导致其耗材存在成本高的问题。
[0005]为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：
[0006]一种配件在位检测系统，包括：电子设备，包括第一吸附组件、磁力计以及处理器；其中，磁力计用于获取并输出所处位置的磁场强度信息。吸附配件，包括第二吸附组件；第二吸附组件用于和第一吸附组件吸附，使吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备上。磁力计还用于当吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备时，受第一吸附组件和第二吸附组件的磁场共同触发输出第一磁场强度信息。处理器与磁力计连接，用于接收磁场强度信息，并在接收到第一磁场强度信息时，输出第一指示信息，第一指示信息用于指示吸附配件吸附固定到位。
[0007]应理解，吸附配件从吸附固定不到位的状态变成吸附固定到位的状态，第二吸附组件和第一吸附组件将在磁力计所处位置产生两个不同大小的磁场。基于此，本实施例提供的配件在位检测系统中，通过磁力计获取所处位置的磁场强度信息，并通过处理器对磁力计检测的磁场强度信息的强弱进行区分，从而判断吸附配件是否吸附固定在电子设备上。可见，本实施例可以准确地判断吸附配件是否吸附固定到位。
[0008]本实施例中，吸附配件可以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备上。为了实现两个朝向的吸附情况的检测，本实施例中，第二吸附组件和第一吸附组件能够在吸附配件分别以两个朝向吸附固定在电子设备时，触发磁力计输出能够使处理器输出第一指示信息的第一磁场强度信息，从而实现两个朝向的吸附固定到位时的检测。
[0009]可见，通过在电子设备内设置一个磁力计，并利用吸附配件内已有的第二吸附组件和电子设备内已有的第一吸附组件，实现了吸附组件在以第一朝向或第二朝向吸附固定到位时的检测。相比于在电子设备内设置两个霍尔器件，并在吸附配件内设置一个磁铁，以实现吸附配件在正向吸附到位或反向吸附固定到位时的检测方案而言，增加了一个磁力计，但却节省了一个磁铁和两个霍尔器件的开支，极大地降低了耗材成本。此外，霍尔器件
需要使吸附配件内的磁铁磁力线垂直穿过霍尔器件的霍尔片，从而需要将霍尔器件立起来固定以使霍尔片垂直于主板。在此情况下，霍尔器件将通过弹片等器件和主板进行连接。因此，本实施例中，由于磁力计无需磁力线穿过，从而无需辅助器件进行转接，因此节省了这些辅助器件的耗材成本。
[0010]在一些实施例中，磁力计受第一吸附组件的磁场触发输出的磁场强度信息为第二磁场强度信息。处理器用于在磁场强度信息大于第一预设阈值时，输出第一指示信息；并在磁场强度信息小于第一预设阈值时，输出第二指示信息，第二指示信息用于指示吸附配件吸附固定不到位。第一预设阈值是基于第二磁场强度信息得到的。
[0011]应理解，若第一吸附组件和第二吸附组件在吸附固定时磁场合成叠加，那么第一吸附组件和第二吸附组件的综合体在磁力计处产生的磁场强度，会比单个第一吸附组件在磁力计处产生的磁场强度大，因此，第一磁场强度信息将比第二磁场强度信息大。基于此，当吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在电子设备时，第一吸附组件和第二吸附组件将使得磁力计输出大于第二磁场强度信息的第一磁场强度信息。处理器将接收到比第二磁场强度信息大的第一磁场强度信息。由于第一预设阈值是基于第二磁场强度信息得到的，因此，第一磁场强度信息将大于第一预设阈值，从而处理器将输出第一指示信息，来提示吸附配件吸附固定到位。
[0012]可见，该实施例中，当第一预设阈值基于第二磁场强度信息获得时，可以保证磁力计在吸附组件吸附固定时，输出大于第一预设阈值的第一磁场强度信息，从而实现吸附配件吸附固定到位的检测。
[0013]在另一些实施例中，磁力计在吸附配件错位吸附在电子设备时，输出的磁场强度信息为第三磁场强度信息。处理器用于在磁场强度信息大于第二预设阈值时，输出第一指示信息；并在磁场强度信息小于第二预设阈值时，输出第二指示信息，第二指示信息用于指示吸附配件吸附固定不到位。第二预设阈值是基于磁力计在吸附配件刚好错位吸附在电子设备时，输出的第三磁场强度信息确定的。
[0014]需要说明的是，相比于错位吸附状态而言，当吸附配件吸附固定在电子设备时，第二吸附组件与第一吸附组件之间错开的间距更小，距离磁力计更近。此时，第二吸附组件和第一吸附组件在磁力计处产生的第一磁场强度信息，将比第三磁场强度信息更大。基于此，当吸附配件吸附固定在电子设备时，处理器将接收到比第二预设阈值更大的第一磁场强度信息，从而输出第一指示信息，来指示吸附配件吸附固定到位。
[0015]此外，相比于错位吸附状态而言，当吸附配件处于未吸附状态时，第二吸附组件与第一吸附组件之间错开的间距更大，距离磁力计更远。此时，第二吸附组件和第一吸附组件在磁力计处产生的第四磁场强度信息，将比第三磁场强度信息更小。基于此，当吸附配件未吸附在电子设备时，处理器将接收到比第二预设阈值更小的第四磁场强度信息，从而输出第二指示信息，来指示吸附配件吸附固定不到位，此时，吸附配件未吸附。基于此，第二指示信息不仅用于指示吸附配件吸附固定不到位，进一步地，还可以用于指示手写笔未吸附，即处于未吸附状态。
[0016]可见，该实施例中，当第二预设阈值基于吸附配件刚错位吸附时的第三磁场强度信息得到时，可以保证磁力计在吸附组件吸附固定时，输出大于第二预设阈值的第一磁场强度信息，从而实现吸附配件吸附固定到位的检测；还可以保证磁力计在吸附组件未吸附
时，输出小于第二预设阈值的第四磁场强度信息，从而实现吸附配件吸附固定不到位的检测。
[0017]在另一些实施例中，处理器用于在磁场强度信息大于第三预设阈值时，输出第一指示信息；并在磁场强度信息小于第三预设阈值时，输出第二指示信息，第二指示信息用于指示吸附配件吸附固定不到位。第三预设阈值是基于磁力计在吸附配件刚好吸附固定在电子设备时，输出的第一磁场强度信息确定的。
[0018]需要说明的是，相比于刚好吸附固定的状态而言，当吸附配件吸附固定在电子设备时，第二吸附组件与第一吸附组件之间错开的间距更小，距离磁力计更近。此时，第二吸附组件和第一吸附组件在磁力计处产生的第一磁场强度信息，将比刚好吸附固定时的第一磁场强度信息更大。基于此，当吸附配件吸附固定在电子设备时，处理器将接收到比第三预设阈值更大的第一磁场强度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种配件在位检测系统，其特征在于，包括：电子设备，包括第一吸附组件、磁力计以及处理器；其中，所述磁力计用于获取并输出所处位置的磁场强度信息；吸附配件，包括第二吸附组件；所述第二吸附组件用于和所述第一吸附组件吸附，使所述吸附配件以第一朝向或第二朝向吸附固定在所述电子设备上；所述磁力计还用于当所述吸附配件以所述第一朝向或所述第二朝向吸附固定在所述电子设备时，受所述第一吸附组件和所述第二吸附组件的磁场共同触发输出第一磁场强度信息；所述处理器与所述磁力计连接，用于接收所述磁场强度信息，并在接收到所述第一磁场强度信息时，输出第一指示信息，所述第一指示信息用于指示所述吸附配件吸附固定到位。2.根据权利要求1所述的配件在位检测系统，其特征在于，所述磁力计受所述第一吸附组件的磁场触发输出的所述磁场强度信息为第二磁场强度信息；所述处理器用于在所述磁场强度信息大于第一预设阈值时，输出所述第一指示信息；并在所述磁场强度信息小于第一预设阈值时，输出第二指示信息，所述第二指示信息用于指示所述吸附配件吸附固定不到位；所述第一预设阈值是基于所述第二磁场强度信息得到的。3.根据权利要求1所述的配件在位检测系统，其特征在于，所述磁力计在所述吸附配件错位吸附在所述电子设备时，输出的所述磁场强度信息为第三磁场强度信息；所述处理器用于在所述磁场强度信息大于第二预设阈值时，输出所述第一指示信息；并在所述磁场强度信息小于第二预设阈值时，输出第二指示信息，所述第二指示信息用于指示所述吸附配件吸附固定不到位；所述第二预设阈值是基于所述磁力计在所述吸附配件刚好错位吸附在所述电子设备时，输出的所述第三磁场强度信息确定的。4.根据权利要求1所述的配件在位检测系统，其特征在于，所述处理器用于在所述磁场强度信息大于第三预设阈值时，输出所述第一指示信息；并在所述磁场强度信息小于第三预设阈值时，输出第二指示信息，所述第二指示信息用于指示所述吸附配件吸附固定不到位；所述第三预设阈值是基于所述磁力计在所述吸附配件刚好吸附固定在所述电子设备时，输出的所述第一磁场强度信息确定的。5.根据权利要求4所述的配件在位检测系统，其特征在于，所述磁力计在所述吸附配件错位吸附在所述电子设备时，输出的所述磁场强度信息为第三磁场强度信息；当所述磁场强度信息小于所述第三预设阈值，且大于第二预设阈值时，所述第二指示信息还用于指示所述吸附配件错位吸附；当所述磁场强度信息小于所述第二预设阈值时，所述第二指示信息还用于指示所述吸附配件未吸附；其中，所述第二预设阈值是基于所述磁力计在所述吸附配件刚好错位吸附在所述电子设备时，输出的所述第三磁场强度信息确定的。6.根据权利要求1至5任一项所述的配件在位检测系统，其特征在于，所述第一吸附组
件包括间隔对称排布的第一吸附件和第二吸附件；所述第二吸附组件包括间隔对称排布的第三吸附件以及第四吸附件；其中，当所述第一吸附件和所述第三吸附件吸附，所述第二吸附件和所述第四吸附件吸附时，所述吸附配件以第一朝吸附固定在所述电子设备上；当所述第一吸附件和所述第四吸附件吸附，所述第二吸附件和所述第三吸附件吸附时，所述吸附配件以第二朝吸附固定在所述电子设备上。7.根据权利要求6所述的配...

【专利技术属性】
技术研发人员：张武甲，张友军，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：发明
国别省市：