一种建筑主体结构质量检测系统技术方案

本发明专利技术涉及建筑检测技术领域，具体涉及一种建筑主体结构质量检测系统，包括检测模块，检测模块包括测距单元、施振套、施振锤和探头，测距单元用于将所有的第一通道中平整度最好的第一通道和所有的第二通道中平整度最好的第二通道标记为待施振区域，施振套和建筑主体结构的表面之间具有预设距离且施振套的延伸方向和建筑主体结构的表面垂直设置，施振套能够在待施振区域内平动，施振锤能够沿施振套的延伸方向滑动地插装在施振套内，施振锤用于撞击在建筑主体结构的表面以产生振动波，探头用以接收穿过建筑主体结构并反射回来的振动波。通过设置施振锤在平整度最好的待施振区域内进行检测，减少了建筑结构主体表面的平整度对振动波的影响。振动波的影响。振动波的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种建筑主体结构质量检测系统


[0001]本专利技术涉及建筑检测
，特别是涉及一种建筑主体结构质量检测系统。

技术介绍

[0002]冲击回波法在建筑检测领域中具有广泛应用，属于非破坏性测试方法，可以用于建筑领域各种工程结构的评估和检测，它具有快速、灵敏且无需直接接触结构的优势，能够为结构工程师提供重要的信息和指导，在冲击回波法中，通过对待测结构施加冲击或振动力，分析和评估结构的性质和缺陷。
[0003]这种方法基于振动波在结构内传播时发生反射、衰减等变化的原理，具体步骤通常包括以下几个方面：冲击或振动：使用冲击锤、振动器等装置在待测结构上施加冲击或振动力，以此产生一个初始的振动波；回波信号记录：使用传感器或接收器记录从结构中返回的反射信号；数据处理与分析：将记录的回波信号进行信号处理和分析；结果解释与评估：根据数据处理和分析的结果，对结构进行解释和评估；最后根据结果确定结构的状态、存在的缺陷、损伤程度等信息，并进行相应的修复或监测措施。
[0004]在如今的对冲击回波法的应用中，常需要提高检测速度，如公开号为CN112684003A的中国专利技术专利公开了一种冲击回波法移动式快速检测装置，该冲击回波法移动式快速检测装置使用钢球作为激励源，通过人工推动支架移动，电机控制钢球敲击地面，从而达到快速检测的效果。
[0005]上述冲击回波法移动式快速检测装置在实际检测过程中的每一步骤均需要人工来进行，操作麻烦，且待检测表面存在不平整情况时，将导致激励源的起伏程度不同，从而导致对墙面造成的冲击强度不同，影响检测结果的准确性。

技术实现思路

[0006]基于此，有必要针对目前的建筑检测过程中所存在的操作麻烦、检测结果不够准确的问题，提供一种建筑主体结构质量检测系统。
[0007]上述目的通过下述技术方案实现：一种建筑主体结构质量检测系统，建筑主体结构的表面设置有待检测区域，沿所述待检测区域的宽度方向，所述待检测区域内并排设置有多个第一通道，沿所述待检测区域的长度方向，所述待检测区域内并排设置有多个第二通道；所述建筑主体结构质量检测系统包括：支座；检测模块，所述检测模块设置在所述支座上，所述检测模块包括测距单元、施振套、施振锤和探头，所述测距单元用于在检测前测量所有的所述第一通道和所有的所述第二通道对应的建筑主体结构的表面的平整度，并将所有的第一通道中平整度最好的第一通道和所有的第二通道中平整度最好的第二通道标记为待施振区域；所述施振套和建筑主体结构的表面之间具有预设距离且所述施振套的延伸方向和建筑主体结构的表面垂直设置，
所述施振套能够在所述待施振区域内平动；所述施振锤能够沿所述施振套的延伸方向滑动地插装在所述施振套内，所述施振锤用于撞击在建筑主体结构的表面以产生振动波；所述探头设置在所述施振套上，使用时，所述探头抵接在建筑主体结构的表面上并用以接收穿过建筑主体结构并反射回来的振动波。
[0008]进一步地，所述建筑主体结构质量检测系统还包括驱动模块，所述驱动模块用以提供所述施振套在所述待施振区域内平动的驱动力。
[0009]进一步地，所述驱动模块包括升降柱，所述升降柱设置在所述支座上且能够沿竖直方向上下伸缩，所述升降柱远离所述支座的一端设置有连接爪，所述连接爪能够以水平线和竖直线为轴转动，所述连接爪上设置有框架，所述施振套能够沿所述框架的长度方向和宽度方向滑动地设置在所述框架上。
[0010]进一步地，驱动所述施振锤撞击在建筑主体结构的表面的能量和建筑主体结构的厚度正相关。
[0011]进一步地，所述建筑主体结构的表面和水平面的夹角为锐角时，驱动所述施振锤撞击在建筑主体结构的表面的能量和该锐角的大小负相关。
[0012]进一步地，所述建筑主体结构的表面和水平面的夹角为钝角时，驱动所述施振锤撞击在建筑主体结构的表面的能量和该钝角的大小负相关。
[0013]进一步地，驱动所述施振锤撞击在建筑主体结构的表面的能量由驱动缸提供，所述驱动缸设置在所述施振套内部且所述驱动缸的输出轴的轴线和所述施振套的延伸方向平行设置，所述施振锤设置在所述驱动缸的输出轴上。
[0014]进一步地，所述施振锤在建筑主体结构的表面上的撞击时间为设定值。
[0015]进一步地，所述探头的数量为两个且分别设置在施振套的两侧。
[0016]进一步地，所述测距单元包括激光测距仪。
[0017]本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的一种建筑主体结构质量检测系统在检测前，通过测距单元测量所有的第一通道和所有的第二通道对应的建筑主体结构的表面的平整度，并将所有的第一通道中平整度最好的第一通道和所有的第二通道中平整度最好的第二通道标记为待施振区域，且设置施振套在待施振区域内平动，在施振套移动的过程中，施振锤撞击在建筑主体结构的表面并产生振动波，探头接收穿过建筑主体结构并反射回来的振动波。通过设置施振锤在平整度最好的待施振区域内进行撞击并产生振动波，减少了振动波在传播过程中发生反射、折射和散射的概率，使得振动波在建筑主体结构内部能够以正常的路径扩散，进而准确探测到建筑主体结构内部的缺陷和损伤，提高检测结果的准确性。
[0018]进一步的，通过设置施振锤在建筑主体结构的表面上的撞击时间为设定值，进而在建筑主体结构的检测过程中，一方面使得施振锤对建筑主体结构的表面的冲击力不会太大，避免对建筑主体结构造成损伤；另一方面使得施振锤撞击在建筑主体结构的表面能够产生足够的相同的振动波，使得探头能够接收到反射回来的振动波，同时避免因施振锤在建筑主体结构的表面上的撞击时间的不同带来的对检测结果的影响。
[0019]进一步的，通过在施振套的两侧分别设置两个探头，进而在建筑主体结构的检测过程中，两个探头能够同步接收到同一个施振锤撞击在建筑主体结构的表面产生的穿过建筑主体结构后反射回来的振动波，从而在分析数据时，两个探头得到的数据能够互相补充，
提高检测结果的准确性和可信度。
附图说明
[0020]图1为本专利技术一实施例提供的建筑主体结构质量检测系统的立体结构示意图；图2为本专利技术一实施例提供的去掉支座和升降柱的建筑主体结构质量检测系统的立体结构示意图；图3为本专利技术一实施例提供的去掉支座和升降柱的建筑主体结构质量检测系统的剖视结构示意图；图4为本专利技术一实施例提供的建筑主体结构质量检测系统的检测模块的立体结构示意图一；图5为本专利技术一实施例提供的建筑主体结构质量检测系统的检测模块的立体结构示意图二；图6为本专利技术一实施例提供的建筑主体结构质量检测系统的驱动缸的立体结构示意图；图7为本专利技术一实施例提供的建筑主体结构质量检测系统的驱动缸的剖视结构示意图。
[0021]其中：100、支座；110、升降柱；120、连接块；121、第一驱动电机；130、铰接块；131、第二驱动电机；132、第一环齿；140、连接爪；141、框架；1411、第一直齿；142、第二环齿；150、滑动架；151、第三驱动电机；152、第三齿轮；153、第二直齿；200、检测模块；210、施振套；21本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种建筑主体结构质量检测系统，其特征在于，建筑主体结构的表面设置有待检测区域，沿所述待检测区域的宽度方向，所述待检测区域内并排设置有多个第一通道，沿所述待检测区域的长度方向，所述待检测区域内并排设置有多个第二通道；所述建筑主体结构质量检测系统包括：支座；检测模块，所述检测模块设置在所述支座上，所述检测模块包括测距单元、施振套、施振锤和探头，所述测距单元用于在检测前测量所有的所述第一通道和所有的所述第二通道对应的建筑主体结构的表面的平整度，并将所有的第一通道中平整度最好的第一通道和所有的第二通道中平整度最好的第二通道标记为待施振区域；所述施振套和建筑主体结构的表面之间具有预设距离且所述施振套的延伸方向和建筑主体结构的表面垂直设置，所述施振套能够在所述待施振区域内平动；所述施振锤能够沿所述施振套的延伸方向滑动地插装在所述施振套内，所述施振锤用于撞击在建筑主体结构的表面以产生振动波；所述探头设置在所述施振套上，使用时，所述探头抵接在建筑主体结构的表面上并用以接收穿过建筑主体结构并反射回来的振动波。2.根据权利要求1所述的建筑主体结构质量检测系统，其特征在于，所述建筑主体结构质量检测系统还包括驱动模块，所述驱动模块用以提供所述施振套在所述待施振区域内平动的驱动力。3.根据权利要求2所述的建筑主体结构质量检测系统，其特征在于，所述驱动模块包括升降柱，所述升降柱设置在所述支座上且能够沿竖直方向上下伸缩，所述升降柱远离...

【专利技术属性】
技术研发人员：娄晓蕾，刘凤海，路风军，梁利婷，程海峰，冯俊，宋岩，
申请(专利权)人：陕西炬烽建筑劳务有限公司，
类型：发明
国别省市：