一种产品智能加工质检方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种产品智能加工质检方法及系统，涉及数据处理技术领域，该方法包括：通过获取产品的加工步骤，以及质检项。基于过去时间内的加工和质检数据，分析加工步骤与质检项的影响度，获得影响度参数集合。分析质检项对于产品质量的重要性，获得重要性系数。随后，获得综合影响度参数，并输入加工步骤检测调整分析模型内，获得检测抽样调整系数和检测要求调整系数。采用检测抽样调整系数，对加工步骤进行抽样质检的比例进行调整，采用检测要求调整系数，对加工步骤进行质检的合格要求范围进行调整。解决了现有技术中产品加工质检方法的智能化较低，导致产品加工质检结果获取效率低，检测准确度低的技术问题。检测准确度低的技术问题。检测准确度低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种产品智能加工质检方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据处理领域，尤其涉及一种产品智能加工质检方法及系统。

技术介绍

[0002]随着智能化的发展，越来越多的产品加工厂采用智能化生产设备进行产品的生产。然而，对于生产产品的加工质检方法智能化较低，通常则采用固定的检测参数或检测手段，并通过抽样进行加工质检，无法根据产品的质量检测数据对检测参数进行优化调整，导致产品加工质检效率低，准确度低的问题。
[0003]因此，在现有技术中产品加工质检方法的智能化较低，导致产品加工质检结果获取效率低，检测准确度低的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请通过提供一种产品智能加工质检方法及系统，解决了在现有技术中产品加工质检方法的智能化较低，导致产品加工质检结果获取效率低，检测准确度低的技术问题。
[0005]本申请提供一种产品智能加工质检方法，所述方法包括：获取目标产品进行加工的M个加工步骤，以及在加工完成后，对所述目标产品进行质检的N个质检项，M和N均为大于1的整数；基于所述目标产品过去时间内的加工和质检数据，分析所述M个加工步骤与所述N个质检项的影响度，获得M个影响度参数集合，每个影响度参数集合内包括一个加工步骤对N个质检项的影响度参数；分析所述N个质检项对于所述目标产品的质量的重要性，获得N个重要性系数；根据所述N个重要性系数，分别对所述M个影响度参数集合内的N个影响度参数进行加权计算，获得M个综合影响度参数；将所述M个综合影响度参数输入加工步骤检测调整分析模型内，获得M个检测抽样调整系数和M个检测要求调整系数；采用所述M个检测抽样调整系数，对所述M个加工步骤进行抽样质检的比例进行调整，采用所述M个检测要求调整系数，对所述M个加工步骤进行质检的合格要求范围进行调整。
[0006]本申请还提供了一种产品智能加工质检系统，所述系统包括：质检项目获取模块，用于获取目标产品进行加工的M个加工步骤，以及在加工完成后，对所述目标产品进行质检的N个质检项，M和N均为大于1的整数；影响度参数获取模块，用于基于所述目标产品过去时间内的加工和质检数据，分析所述M个加工步骤与所述N个质检项的影响度，获得M个影响度参数集合，每个影响度参数集合内包括一个加工步骤对N个质检项的影响度参数；重要性系数获取模块，用于分析所述N个质检项对于所述目标产品的质量的重要性，获得N个重要性系数；综合影响度获取模块，用于根据所述N个重要性系数，分别对所述M个影响度参数集合内的N个影响度参数进行加权计算，获得M个综合影响度参数；调整系数获取模块，用于将所述M个综合影响度参数输入加工步骤检测调整分析模型内，获得M个检测抽样调整系数和M个检测要求调整系数；质检调整模块，用于采用所述M个检测抽样调整系数，对所述M个加工步骤进行抽样质检的比例进行调整，采用所述M个检测要求调整系数，对所述M个加工步骤进行质检的合格要求范围进行调整。
[0007]本申请还提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储可执行指令；处理器，用于执行所述存储器中存储的可执行指令时，实现本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法。
[0008]本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，该程序被处理器执行时,实现本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法。
[0009]拟通过本申请提出的一种产品智能加工质检方法及系统，通过获取产品的加工步骤，以及质检项。基于过去时间内的加工和质检数据，分析加工步骤与质检项的影响度，获得影响度参数集合。分析质检项对于产品质量的重要性，获得重要性系数。随后，获得综合影响度参数，并输入加工步骤检测调整分析模型内，获得检测抽样调整系数和检测要求调整系数。采用检测抽样调整系数，对加工步骤进行抽样质检的比例进行调整，采用检测要求调整系数，对加工步骤进行质检的合格要求范围进行调整。根据历史加工数据对质量检测参数的优化调整，实现了产品加工质检参数的智能化调整，提高了产品加工质检的效率以及检测准确度。解决了现有技术中产品加工质检方法的智能化较低，导致产品加工质检结果获取效率低，检测准确度低的技术问题。
[0010]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案,下面将对本公开实施例的附图作简单地介绍。明显地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例,而非对本公开的限制。
[0012]图1为本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法的流程示意图；图2为本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法获取影响度参数集合的流程示意图；图3为本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法获取重要性系数的流程示意图；图4为本申请实施例提供的一种产品智能加工质检方法的系统的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种产品智能加工质检方法的系统电子设备的结构示意图。
[0013]附图标记说明：质检项目获取模块11，影响度参数获取模块12，重要性系数获取模块13，综合影响度获取模块14，调整系数获取模块15，质检调整模块16，处理器31，存储器32，输入装置33，输出装置34。
具体实施方式
[0014]实施例1为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述,所描述的实施例不应视为对本申请的限制,本领域普通技术人员在没有
做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
[0015]在以下的描述中，涉及到“一些实施例”,其描述了所有可能实施例的子集,但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集,并且可以在不冲突的情况下相互结合。
[0016]除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的。
[0017]虽然本申请对根据本申请的实施例的系统中的某些模块做出了各种引用,然而，任何数量的不同模块可以被使用并运行在用户终端和/或服务器上，所述模块仅是说明性的,并且所述系统和方法的不同方面可以使用不同模块。
[0018]本申请中使用了流程图来说明根据本申请的实施例的系统所执行的操作。应当理解的是,前面或下面操作不一定按照顺序来精确地执行。相反，根据需要,可以按照倒序或同时处理各种步骤。同时,也可以将其他操作添加到这些过程中,或从这些过程移除某一步或数步操作。
[0019]如图1所示，本申请实施例提供了一种产品智能加工质检方法，所述方法包括：S10：获取目标产品进行加工的M个加工步骤，以及在加工完成后，对所述目标产品进行质检的N个质检项，M和N均为大于1的整数；S20：基于所述目标产品过去时间内的加工和质检数据，分析所述M个加工步骤与所述N个质检项的影响度，获得M个影响度参数集合，每个影响度参数集合内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品智能加工质检方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标产品进行加工的M个加工步骤，以及在加工完成后，对所述目标产品进行质检的N个质检项，M和N均为大于1的整数；基于所述目标产品过去时间内的加工和质检数据，分析所述M个加工步骤与所述N个质检项的影响度，获得M个影响度参数集合，每个影响度参数集合内包括一个加工步骤对N个质检项的影响度参数；分析所述N个质检项对于所述目标产品的质量的重要性，获得N个重要性系数；根据所述N个重要性系数，分别对所述M个影响度参数集合内的N个影响度参数进行加权计算，获得M个综合影响度参数；将所述M个综合影响度参数输入加工步骤检测调整分析模型内，获得M个检测抽样调整系数和M个检测要求调整系数；采用所述M个检测抽样调整系数，对所述M个加工步骤进行抽样质检的比例进行调整，采用所述M个检测要求调整系数，对所述M个加工步骤进行质检的合格要求范围进行调整。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述目标产品过去时间内的加工和质检数据，分析所述M个加工步骤与所述N个质检项的影响度，包括：基于所述目标产品过去预设时间范围内的加工和质检数据，获取出现质检不合格的多个加工质检数据，每个质检数据内包括所述M个加工步骤是否出现加工不合格的检测数据，以及所述N个质检项是否出现质检不合格的检测数据；根据所述多个加工质检数据，分析获取所述M个加工步骤出现不合格的比例，获得M个第一影响度参数；根据所述多个加工质检数据，分析获取所述M个加工步骤对所述N个质检项的M个第二影响度参数集合；分别对所述M个第二影响度参数集合和所述M个第一影响度参数进行加权计算，获得所述M个影响度参数集合。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述多个加工质检数据，分析获取所述M个加工步骤对所述N个质检项的M个第二影响度参数集合，包括：将所述M个加工步骤和所述N个质检项进行组合，获得M*N个组合；分别获取所述M*N个组合在所述多个加工质检数据内同时出现加工不合格和质检不合格的数量，获得M*N个数量信息，以及总数量信息；计算所述M*N个数量信息和所述总数量信息的比值，获得M*N个第二影响度参数；按照所述M个加工步骤，对所述M*N个第二影响度参数进行划分，获得所述M个第二影响度参数集合。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分析所述N个质检项对于所述目标产品的质量的重要性，获得N个重要性系数，包括：基于所述目标产品过去预设时间范围内的质检数据，获取出现质检不合格的多个质检数据；获取所述多个质检数据内所述N个质检项出现质检不合格的次数，获得N个质检不合格次数，以及总不合格次数；计算所述N个质检不合格次数与所述总不合格次数的比值，获得所述N个重要性系数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述N个重要性系数，分别对所述M个影响度参数集合内的N个影响度参数进行加权计算，获得M个综合影响度参数，包括：根据所述N个重要性系数，进行权重分配，获得权重分配结果；采用所述权重分配结果，分别对所述M个影响度参数集合内的N个影响度...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁哲凯，张进，李龙飞，宋明刚，
申请(专利权)人：苏州卓晟裕智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：