一种低压直流断路器试验方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种低压直流断路器试验方法及装置，属于电力检测领域，所述方法包括：S1、建立充电回路，设置输出电压；S2、建立测试回路，设置电容组电容和电感组电感的数量关系；S3、对电容组进行充电；S4、输出冲击电流，对直流断路器进行测试；S5、检测当前时间常数、冲击电流下的直流断路器端口电压和电流波形，基于时间常数、直流断路器端口电压和电流波形得到直流断路器的性能参数；S6、通过限流电阻释放电容残压；S7、重复执行S2～S6，依次增加冲击电流、时间常数的取值，得到不同时间常数和冲击电流下的直流断路器的性能参数。本方案通过对电流非零情况下的直流断路器的性能参数进行测试，显著提高了低压直流断路器的评估准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种低压直流断路器试验方法及装置


[0001]本专利技术涉及电力检测
，尤其是一种低压直流断路器试验方法及装置。

技术介绍

[0002]直流配电相较于交流配电具有输电容量大、供电可靠性高、电能质量好等优点，目前已应用于诸如航天、船舶、轨道交通、新能源分布式发电等领域。低压直流断路器作为直流配电系统中最关键的开关设备，起着分断闭合系统的控制作用和保证配电网安全可靠运行的保护作用，因此直流断路器的状态直接影响直流配电系统的稳定运行。低压直流断路器作为一种电气设备，机械部件多，很难从外观上直接观测断路器的状态进而去评估断路器是否出现劣化或故障，使得配网系统存在较大的安全隐患。
[0003]中国专利，公开号：CN114814559A，公开日：2022年7月29日，公开了一种中低压直流断路器在线检测方法及系统，包括：利用设置于所述中低压直流断路器灭弧室边缘的出气孔中的光纤传感器探头采集灭弧室内的工作状态信息；基于所述工作状态信息和设定的灭弧室工作参数比较确定中低压直流断路器工作状态。有利于在中低压直流断路器的灭弧室结构紧凑出气孔尺寸狭小下对中低压直流断路器的工作状态进行检测。此方法存在以下问题：采用振荡电流过零点灭弧方法对低压直流断路器进行测试，没有考虑低压直流断路器电流非零的情况，评估准确性低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是解决现有技术中低压直流断路器试验方法缺乏测试低压直流断路器在电流非零情况下的性能参数的问题，提供一种低压直流断路器试验方法及装置，通过充电回路对电容组充电，基于电容组和电感组输出冲击电流测试直流断路器的灭弧性能，得到低压直流断路器的性能参数，通过改变电容组电容数量和电感组电感数量实现不同的冲击电流对低压直流断路器进行测试，得到低压直流断路器在不同时间常数和不同冲击电流下的性能参数，采用冲击电流可调节的测试回路，通过测试低压直流断路器在电流非零情况下的性能参数，可以显著提高低压直流断路器的评估准确性。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种低压直流断路器试验方法，包括如下步骤：S1、建立充电回路，设置所述充电回路的输出电压；S2、建立测试回路，设置所述测试回路中电容组电容数量和电感组电感数量；S3、基于所述充电回路对所述电容组进行充电；S4、基于所述电容组和所述电感组输出冲击电流，基于所述冲击电流对直流断路器进行测试；S5、检测当前时间常数、冲击电流下的直流断路器端口电压和电流波形，基于所述时间常数、直流断路器端口电压和电流波形得到直流断路器的性能参数；S6、断开所述充电回路、导通所述测试回路，通过限流电阻释放电容残压；
S7、重复执行S2～S6，依次增加冲击电流、时间常数的取值，得到不同时间常数和冲击电流下的直流断路器的性能参数。
[0006]本方案中，通过建立充电回路和测试回路，基于充电回路对测试回路的电容组进行充电，基于电容组和电感组输出冲击电流对直流断路器进行测试，得到直流断路器的性能参数，通过调整电容电感的数量关系，得到不同时间常数和冲击电流下的直流断路器的性能参数，可以实现直流断路器在电流非零情况下的性能测试，以及直流断路器在不同时间常数、不同冲击电流下的性能测试。
[0007]优选的，所述S1包括如下步骤：设置直流电源输出直流电压，设置限流电阻对所述直流电压产生的电流进行限制，设置电源开关控制线路的开断状态；基于所述直流电源、限流电阻和电源开关建立充电回路；将充电回路中的直流电源输出电压设定为直流断路器的额定电压。
[0008]本方案中，通过直流电源、限流电阻和电源开关建立充电回路，不需要外置电源，实用性、便捷性好；设置直流电源的输出电压与直流断路器的额定电压相同，可避免因直流电源输出电压过大烧坏直流断路器。
[0009]优选的，所述S2包括如下步骤：设置用于输出冲击电流的电容组和电感组，设置控制开关控制线路的开断状态，设置反向二极管控制冲击电流流向；基于所述电容组、电感组、控制开关与直流断路器共同建立测试回路；根据所需的冲击电流值调整电容组电容数量和电感组电感数量。
[0010]本方案中，通过设置可调节的电容组和电感组，可输出同样可调节的冲击电流，方便对不同参数的直流断路器进行测试，或者测试同一直流断路器在不同冲击电流下的性能参数，通过控制开关来控制测试回路的开断，避免在其他回路进行操作时对测试回路的影响，通过反向二极管可截止冲击电流反复振荡的现象，将直流电源输出电压设定与直流断路器的额定电压相同，可以避免直流电源输出电压过大烧坏直流断路器。
[0011]优选的，所述S3包括如下步骤：导通所述充电回路，断开所述测试回路；检测所述充电回路对所述电容组的充电量；若所述充电量达到直流断路器的额定电压，则断开所述充电回路电源开关，导通所述测试回路控制开关，反之继续对电容组充电。
[0012]本方案中，通过控制充电回路导通，测试回路断开可将电路状态调整到电容组充电状态，通过检测电容组充电量来判断是否对其进行继续充电，提高了电容组充电量的准确率，同时也提高了电容组输出的冲击电流的准确率。
[0013]优选的，所述S4还包括通过反向二极管防止发生反复振荡现象。
[0014]本方案中，利用反向二极管截止冲击电流的反向流向，避免了冲击电流易发生反复振荡的现象，防止因冲击电流反复振荡对测试结果的影响。
[0015]优选的，所述性能参数包括开断时间、开断电压和开断电流。
[0016]本方案中，通过开断时间、开断电压和开断电流可以更具体地体现直流断路器的性能指标。
[0017]优选的，S6所述释放电容残压，具体表现为基于限流电阻将电容组上的电容残压逐步减小为零。
[0018]本方案中，通过限流电阻可以将电容组上残留的电压逐步消除到零，避免了电流残压对电路的影响。
[0019]一种低压直流断路器试验装置，包括测试回路，所述测试回路包括电容组、电感组、控制开关、反向二极管和直流断路器，所述电容组用于输出冲击电流，与控制开关串联连接；所述控制开关用于控制测试回路的开断状态，与电感组串联连接；所述电感组用于阻止频率信号对测试回路的干扰，与反向二极管串联连接；所述反向二极管用于控制冲击电流流向，防止发生反复振荡，与直流断路器串联连接；所述直流断路器与电容组串联连接。
[0020]本方案中，通过设置可调节的电容组和电感组，可以实现冲击电流的自由调控；通过设置反向二极管进行限流，可以防止冲击电流反复振荡的现象；通过控制开关控制测试回路的开断，可实现对控制回路的自由控制，避免了对电容组充电时电容组出现放电的现象。
[0021]优选的，还包括充电回路，所述充电回路用于为所述测试回路的电容组进行充电，与测试回路的电容组并联连接。
[0022]本方案中，通过设置充电回路对测试回路的电容组进行充电，可以实现不需要外置电源即可进行充电，实用性、便捷性好。
[0023]优选的，所述充电回路包括直流电源、限流电阻和电源开关，所述直流电源用于输出直流电压，与限流电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低压直流断路器试验方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、建立充电回路，设置所述充电回路的输出电压；S2、建立测试回路，设置所述测试回路中电容组电容数量和电感组电感数量；S3、基于所述充电回路对所述电容组进行充电；S4、基于所述电容组和所述电感组输出冲击电流，基于所述冲击电流对直流断路器进行测试；S5、检测当前时间常数、冲击电流下的直流断路器端口电压和电流波形，基于所述时间常数、直流断路器端口电压和电流波形得到直流断路器的性能参数；S6、断开所述充电回路、导通所述测试回路，通过限流电阻释放电容残压；S7、重复执行S2～S6，依次增加冲击电流、时间常数的取值，得到不同时间常数和冲击电流下的直流断路器的性能参数。2.根据权利要求1所述的一种低压直流断路器试验方法，其特征在于，所述S1包括如下步骤：设置直流电源输出直流电压，设置限流电阻对所述直流电压产生的电流进行限制，设置电源开关控制线路的开断状态；基于所述直流电源、限流电阻和电源开关建立充电回路；将充电回路中的直流电源输出电压设定为直流断路器的额定电压。3.根据权利要求1所述的一种低压直流断路器试验方法，其特征在于，所述S2包括如下步骤：设置用于输出冲击电流的电容组和电感组，设置控制开关控制线路的开断状态，设置反向二极管控制冲击电流流向；基于所述电容组、电感组、控制开关与直流断路器共同建立测试回路；根据所需的冲击电流值调整电容组电容数量和电感组电感数量。4.根据权利要求1所述的一种低压直流断路器试验方法，其特征在于，所述S3包括如下步骤：导通所述充电回路，断开所述测试回路；检测所述充电回路对所述电容组的充电量；若所述充电量达到直...

【专利技术属性】
技术研发人员：高一波，徐鑫森，徐习东，郑志曜，冯亮，徐童佳，杨瀚鹏，林建钦，李佳玲，梁家鸣，马振宇，
申请(专利权)人：浙江华电器材检测研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：