【技术实现步骤摘要】
一种精密存放架失效检验治具
[0001]本技术涉及精密存放架检验
,尤其是一种精密存放架失效检验治具。
技术介绍
[0002]精密存放架主要用于半导体封装测试产线中,是料片的容器,精密存放架的稳定可靠决定了封装芯片的质量及产量,异常的精密存放架会影响产品的品质。通常对于精密存放架的检测大致分为外观检测,主要是通过肉眼查看是都带有毛刺、边角是否变形等大尺寸异常,若无大尺寸的异常,曾通过工具对内部的沟槽进行检测,检测是否有异常,同时对是否外扩或者内凹导致外形超差等无法用肉眼看的出来的小尺寸异常,因此导致工作量大,需多次测量,耗时长;并且测量、合格与否都是由人工操作和判定的,容易造成较大的误差,从而增加次品生产率
技术实现思路
[0003]为了解决现有技术中检验过程中耗费时间长并且认为因素误差大的问题,本技术提供了一种精密存放架失效检验治具。
[0004]本技术的技术方案为:一种精密存放架失效检验治具,包括底座、平行设置于底座上表面的滑轨、滑动设置滑轨上端的托盘、设置于底座上表面左右两侧对称的外形检测件、 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种精密存放架失效检验治具,其特征在于,包括底座(1)、平行设置于底座(1)上表面的滑轨(2)、滑动设置滑轨(2)上端的托盘(3)、设置于底座(1)上表面左右两侧对称的外形检测件、设置于底座(1)上端的支架组件、设置于支架组件左右两端侧的内槽检测板(4),所述内槽检测板(4)与外形检测件相互平行且之间留有间距,所述托盘(3)用于放置存放架(5)。2.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具,其特征在于,所述外形检测件为竖直平面检测板(6),所述竖直平面检测板(6)通过支脚(7)固定安装于底座(1)上表面。3.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具,其特征在于,所述内槽检测板(4)的侧面设置有与存放架(5)内侧壁上的沟槽相匹配的齿缘(8)。4.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具,其特征在于,所述托盘(3)下表面设置有限位板(9),所述底座(1)上方设置有两个与限位板(9)处于一条直线上的限位座(10),两个所述限位座(10)的连线与滑轨(2)平行。5.根据权利要求1所述的精密存放架失效检验治具,其特征在于,所述支架组件包括支撑座(11)、滑板(12)与T型...
【专利技术属性】
技术研发人员:伍文杰,
申请(专利权)人:无锡捷荣精密机械有限公司,
类型:新型
国别省市:
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