D-SPECT系统的动态质控方法技术方案

技术编号:39160865 阅读:11 留言:0更新日期:2023-10-23 15:02
本发明专利技术提供了一种D

【技术实现步骤摘要】
D

SPECT系统的动态质控方法


[0001]本专利技术涉及医学成像
,具体涉及一种D

SPECT系统的动态质控方法。

技术介绍

[0002]单光子发射计算机断层成像术((Single

Photon Emission Computed Tomography,SPECT)是一种重要的医学影像技术。传统SPECT常规的质量控制项目主要有固有空间分辨率、均匀性、平面灵敏度、固有空间线性、旋转中心漂移等,其中固有空间分辨率、固有空间线性、旋转中心漂移一般较稳定,但均匀性、能峰和分辨率容易出现变化,且传统SPECT进行质控需使用不同形状、离探测器不同距离的99锝标记药液源,还需更换不同形状的准直器,导致质控时间较长且过程繁琐,对质控操作员的辐射剂量也相对较高,也无法针对心脏动态采集进行专门的质控,而只能在心脏动态采集前进行常规质控,如无法更好地确认SPECT进行心脏动态采集前的性能状态,而这些因素都严重影响SPECT进行简洁有效的心脏动态采集前的性能状态质控扫描,进而严重影响到心脏动态采集的全过程以及造成临床影像结果的判读。
[0003]心脏对人体至关重要,作为人体最重要的器官之一,它通过血管泵血为人体的所有活动提供必须的能量,在此过程中,心脏本身也是需要血供的,如若心肌本身和/或为心肌供血的冠状动脉发生病变,则会严重影响心脏的供血功能,甚至危及人体生命。其中,以冠状动脉狭窄所致的心脏病及心脏微血管病变所致心脏病最为致命,这两种疾病会导致心肌本身血供出现严重缺损,因而出现严重的心脏不良事件,危及生命。因此,监测预防及精确诊断冠状动脉狭窄对心脏血供的影响及是否有微血管病变及病变对心肌血供的影响程度至关重要。
[0004]目前,国际最前沿的监测预防及诊断手段主要有正电子发射计算机断层显像(positron emission tomography,PET)及SPECT测定心肌血流储备能力(Myocardial Flow Reserve,MFR),也称为冠脉血流储备能力(Coronary Flow Reserve,CFR),其中,PET所需放射性核素(如18F标记氧水)需使用回旋加速器生产,成本较高,且半衰期短,运输及保存不易,而PET本身成本也过高。相比之下,SPECT使用99锝标记药物,半衰期较长,不论是成本还是运输及保存,都远远优于PET所需核素,且据相关文献报道,SPECT测定CFR值与PET具有很高相关性与一致性。因此,使用SPECT进行CFR测定是目前国内外心血管与核医学领域最为推荐的无创检查诊断手段之一。
[0005]为确保SPECT对心脏动态采集时性能的稳定性和影像结果的准确性,并缩短心脏动态质控采集的时间,提高心脏动态质控的效率,需要一种简洁、快速、结果准确度更高的SPECT心脏动态质控方法。
[0006]需要说明的是,上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0007]针对现有技术中的问题,本专利技术的目的在于提供一种D

SPECT系统的动态质控方法,通过D

SPECT系统对放射源模拟核素的扫描数据评估该系统的动态扫描质量,可以根据该动态扫描质量评估结果确定D

SPECT系统是否需要进一步的调整或是否满足对目标数据的要求。
[0008]本专利技术的实施例提供了一种D

SPECT系统的动态质控方法,所述D

SPECT系统包括设置有多个探测单元的L型断层成像探头、放射源模拟核素、可调节夹具以及处理单元;
[0009]所述可调节夹具的一端与所述L型断层成像探头连接;
[0010]所述可调节夹具的另一端与所述放射源模拟核素连接;
[0011]所述处理单元与所述L型断层成像探头连接,且接收所述L型断层成像探头对所述放射源模拟核素的光子扫描数据;
[0012]所述质控方法包括如下步骤:
[0013]多个所述探测单元获取所述放射源模拟核素在第一时长内的多个扫描数据,每一所述扫描数据分别包括时间信息和空间信息;
[0014]多个所述扫描数据按照时间信息划分为多个对应不同时间点的第一子数据集,和/或,每一所述扫描数据按照空间信息划分为对应不同位置的第二子数据集;
[0015]根据多个所述第一子数据集获得所述扫描数据的均匀性和/或分辨率,和/或,根据多个所述第二子数据集获得多个时间活度曲线;
[0016]所述根据所述扫描数据的均匀性、所述扫描数据的分辨率和/或多个所述时间活度曲线确定所述D

SPECT系统的动态扫描质量。
[0017]根据本专利技术的一些示例,所述放射源模拟核素与所述L型断层成像探头的折角处中心位置的距离可通过所述可调节夹具调节。
[0018]根据本专利技术的一些示例,所述多个所述探头获取所述放射源模拟核素在第一时长内的多个扫描数据前,所述质控方法还包括如下步骤:
[0019]根据应用参数调节所述放射源模拟核素与所述L型断层成像探头的折角处中心位置的距离。
[0020]根据本专利技术的一些示例,所述应用参数根据目标扫描对象确定。
[0021]根据本专利技术的一些示例,所述放射源模拟核素与所述L型断层成像探头的距离的的折角处中心位置的距离的取值范围为10cm至20cm。
[0022]根据本专利技术的一些示例,所述根据多个所述第二子数据集获得多个时间活度曲线步骤后,还包括:
[0023]根据所述时间活度曲线获得衰减率。
[0024]根据本专利技术的一些示例,所述根据多个所述第一子数据集获得所述扫描数据的均匀性和/或分辨率包括如下步骤:
[0025]根据各个时间点的所述第一子数据集获得所述放射源模拟核素的对应时间点的全景图;
[0026]根据各个时间点的所述全景图获得对应时间点的扫描数据的均匀性和/或分辨率。
[0027]根据本专利技术的一些示例,所述根据所述扫描数据的均匀性、所述扫描数据的分辨
率和/或多个所述时间活度曲线确定所述D

SPECT系统的动态扫描质量包括如下步骤:
[0028]判断所述均匀性是否大于第一阈值;
[0029]判断所述分辨率是否大于第二阈值;和/或
[0030]判断所述衰减率与所述放射源模拟核素的衰减率差值的绝对值是否大于第三阈值;
[0031]如满足以上一个条件或多个条件,则认为所述D

SPECT系统的动态扫描质量不满足设定要求。
[0032]根据本专利技术的一些示例,所述放射源模拟核素的放射源为Co

57,所述第一时长为390秒。
[0033]本专利技术的D

SPECT系统的动态质控方法通过对放射源模拟核素的扫描数据评估该系统的动态扫描质量,可以根据该动态扫描质量评本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种D

SPECT系统的动态质控方法,其特征在于,所述D

SPECT系统包括设置有多个探测单元的L型断层成像探头、放射源模拟核素、可调节夹具以及处理单元;所述可调节夹具的一端与所述L型断层成像探头连接;所述可调节夹具的另一端与所述放射源模拟核素连接;所述处理单元与所述L型断层成像探头连接,且接收所述L型断层成像探头对所述放射源模拟核素的光子扫描数据;所述质控方法包括如下步骤:多个所述探测单元获取所述放射源模拟核素在第一时长内的多个扫描数据,每一所述扫描数据分别包括时间信息和空间信息;多个所述扫描数据按照时间信息划分为多个对应不同时间点的第一子数据集,和/或,每一所述扫描数据按照空间信息划分为对应不同位置的第二子数据集;根据多个所述第一子数据集获得所述扫描数据的均匀性和/或分辨率,和/或,根据多个所述第二子数据集获得多个时间活度曲线;所述根据所述扫描数据的均匀性、所述扫描数据的分辨率和/或多个所述时间活度曲线确定所述D

SPECT系统的动态扫描质量。2.根据权利要求1所述的D

SPECT系统的动态质控方法,其特征在于,所述放射源模拟核素与所述L型断层成像探头的折角处中心位置的距离可通过所述可调节夹具调节。3.根据权利要求2所述的D

SPECT系统的动态质控方法,其特征在于,所述多个所述探测单元获取所述放射源模拟核素在第一时长内的多个扫描数据前,所述质控方法还包括如下步骤:根据应用参数调节所述放射源模拟核素与所述L型断层成像探头的折角处中心位置的距离。4.根据权利要求3所述的D

SPECT系统的动态质...

【专利技术属性】
技术研发人员:尤尔马治福杨志山张卓东
申请(专利权)人:上海光脉医疗科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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