一种航天设备阻抗测试装置及测试方法制造方法及图纸

本申请公开了一种航天设备阻抗测试装置及测试方法，属于航天设备测试领域，包括阻抗测试单元、供电单元以及若干控制开关单元，所述控制开关单元包括ARM处理器以及控制开关，其中：所述阻抗测试单元，连接所述控制开关单元，用于进行阻抗测试；所述控制开关单元，用于连接待测设备，并通过控制开关的通断将不同的测试点连接至所述阻抗测试单元；所述ARM处理器用于对阻抗测试通道的分配、阻抗测试数据的读取、转存以及通信；所述供电单元，用于为所述阻抗测试单元以及所述控制开关单元供电。基于ARM处理器加控制开关设计而成控制开关单元，支持一次性不少于700个测试点的接入，实现对接入设备所有测试点的导通阻抗测试和绝缘阻抗测试。抗测试。抗测试。

【技术实现步骤摘要】
一种航天设备阻抗测试装置及测试方法


[0001]本申请属于航天设备测试领域，特别涉及一种航天设备阻抗测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]随着航天技术的进步，我国航天领域的设施设备越来越智能，越来越复杂，保障航天设备安全上电、稳定运行的第一步就是要确保其各接口阻抗值的正确性，进而判断上电前航天设备内各模块的状态，因此对航天设备繁杂接口的阻抗值测试显得尤为重要。
[0003]常用的阻抗测试设备主要是基于电缆、印制板产品的阻抗测试，其产品接口单一、测量通道数量较少、手动测试耗时且不精准，且采用高压测试方法，对产品或设备、尤其是庞大的复杂型航天设备上信号间进行阻抗测试时会产生损坏，造成不可估量的经济损失。
[0004]因此，需要一种针对航天设备的阻抗测试装置，能够适应航天设备复杂且庞大的接口特点，进行信号间的阻抗测试。

技术实现思路

[0005]为了解决所述现有技术的不足，本申请提供了一种航天设备阻抗测试装置以及测试方法，基于ARM处理器加控制开关设计而成控制开关单元，对外为不少于700芯的连接器，支持一次性不少于700个测试点的接入。经ARM处理器对阻抗测试模块、控制开关的高效控制，实现对接入设备所有测试点完成一次性可自由切换的导通阻抗测试和绝缘阻抗测试。
[0006]本申请所要达到的技术效果通过以下方案实现：根据本申请的第一方面，提供一种航天设备阻抗测试装置，包括阻抗测试单元、供电单元以及若干控制开关单元，所述控制开关单元包括ARM处理器以及控制开关，其中：所述阻抗测试单元，连接所述控制开关单元，用于进行阻抗测试；所述控制开关单元，用于连接待测设备，并通过控制开关的通断将不同的测试点连接至所述阻抗测试单元；所述ARM处理器用于对阻抗测试通道的分配、阻抗测试数据的读取、转存以及通信；所述供电单元，用于为所述阻抗测试单元以及所述控制开关单元供电。
[0007]优选地，还包括背板，所述阻抗测试单元、所述控制开关单元以及所述供电单元均连接至所述背板上，所述背板上设置有若干接口，所述接口用于连接测试点。
[0008]优选地，所述控制开关单元为插卡式结构，所述控制开关单元与所述背板插拔式连接。
[0009]优选地，所述控制开关为继电器，所述继电器的线圈上并联有用于电路续流的二极管；所述继电器的线圈上连接有开关驱动电路。
[0010]优选地，所述ARM处理器通过I2C总线连接有接口扩展模块，所述接口扩展模块采用TCA9555专用芯片作为主控芯片。
[0011]优选地，所述阻抗测试单元由DAQ970A数据采集仪+DAQM901A多路复用模块构成，
支持20通道的2线制和10通道的4线制的阻抗测试。其中所述2线制的阻抗测试电路用于进行高阻值的阻抗测试，所述4线制的阻抗测试电路用于进行高精度导通阻抗测试。
[0012]优选地，所述ARM处理器上连接有网络通讯接口，所述网络通讯接口用于实现上位机的阻抗测试控制。
[0013]根据本申请的第二方面，提供一种采用上述航天设备阻抗测试装置的测试方法，包括如下步骤：步骤1：上位机接收自动阻抗测试请求或手动阻抗测试请求；步骤21：若为自动阻抗测试请求，控制开关单元控制继电器启闭，控制阻抗测试单元形成2线制的阻抗测试电路或4线制的阻抗测试电路，并依次对各个测试点进行测试；步骤22：当测试点的自动测试结果与设计值不一致时，针对该测试点自动进行排故测试；步骤31：若为手动阻抗测试请求，在软件界面自行选择两个测试点间的导通测试、对地测试和/或绝缘测试进行测试。
[0014]优选地，在步骤22中，排故测试的具体方式为：依次进行导通测试、对地测试以及绝缘测试。
[0015]优选地，对测试点进行测试时，进行至少三次阻抗测试，当且仅当至少三次阻抗测试的测试结果偏差不大于10%时则认为测试结果正确并进行记录。
[0016]采用本申请的航天设备阻抗测试装置或测试方法，其有益效果在于，本装置基于ARM处理器加控制开关的阻抗测试，通过上位机控制，搭载专用测试软件，可实现自动阻抗测试、手动定位阻抗测试，同时自动保存数据。阻抗测试设备替代了原有的手动测试方案，支持自动测试和手动定位排故，对航天设备繁杂的接口信号间的阻抗测试具有高可靠、高精准的测试功能。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例或现有的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请一实施例中一种航天设备阻抗测试装置的结构框图；图2为图1中控制开关单元的连接结构框图；图3为图2中控制开关的结构示意图；图4为图2中驱动电路的电路原理图；图5为图2中扩展电路的电路原理图；图6为图1中阻抗测试单元与控制开关的连接结构示意图；图7为本申请一实施例中一种航天设备阻抗自动测试方法的流程图；图8为本申请一实施例中一种航天设备阻抗手动测试方法的流程图。
具体实施方式
[0019]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合具体实施例及相应的
附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]如图1和图2所示，本申请一实施例中的航天设备阻抗测试装置，包括阻抗测试单元200、供电单元300以及若干控制开关单元100，控制开关单元100包括ARM处理器110以及控制开关120，其中：阻抗测试单元200，连接控制开关单元100，用于进行阻抗测试；控制开关单元100，用于连接待测设备，并通过控制开关120的通断将不同的测试点连接至阻抗测试单元200；ARM处理器110用于对阻抗测试通道的分配、阻抗测试数据的读取、转存以及通信；采用ARM处理器110，利用其丰富的接口、体积小、功耗低以及控制能力强等优势，对控制开关120的通断可实现繁杂接口的阻抗测试功能。
[0021]供电单元300，用于为阻抗测试单元200以及控制开关单元100供电。
[0022]该实施例中的ARM处理器110为STM32系列ARM处理器110，主要负责阻抗测试设备内阻抗测试通道的高效分配、阻抗测试数据读取、转存及与上位机500通信等功能。在其最小系统功能电路（电源、时钟、复位、存储及调试）基础上，如图5所示，ARM处理器110通过I2C总线连接有接口扩展模块122，接口扩展模块122采用TCA9555专用芯片作为主控芯片，通过挂在I2C总线上的TCA9555专用芯片对ARM处理器110进行IO扩展，便于控制开关单元100能够稳定的、最大包络的挂在ARM处理器110接口上，进而达到处理器对阻抗通道的可靠分配。通过专用网络PHY芯片及国产变压器扩展了ARM处本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种航天设备阻抗测试装置，其特征在于，包括阻抗测试单元、供电单元以及若干控制开关单元，所述控制开关单元包括ARM处理器以及控制开关，其中：所述阻抗测试单元，连接所述控制开关单元，用于进行阻抗测试；所述控制开关单元，用于连接待测设备，并通过控制开关的通断将不同的测试点连接至所述阻抗测试单元；所述ARM处理器用于对阻抗测试通道的分配、阻抗测试数据的读取、转存以及通信；所述供电单元，用于为所述阻抗测试单元以及所述控制开关单元供电。2.根据权利要求1所述的航天设备阻抗测试装置，其特征在于，还包括背板，所述阻抗测试单元、所述控制开关单元以及所述供电单元均连接至所述背板上，所述背板上设置有若干接口，所述接口用于连接测试点。3.根据权利要求2所述的航天设备阻抗测试装置，其特征在于，所述控制开关单元为插卡式结构，所述控制开关单元与所述背板插拔式连接。4.根据权利要求1所述的航天设备阻抗测试装置，其特征在于，所述控制开关为继电器，所述继电器的线圈上并联有用于电路续流的二极管；所述继电器的线圈上连接有开关驱动电路。5.根据权利要求2所述的航天设备阻抗测试装置，其特征在于，所述ARM处理器通过I2C总线连接有接口扩展模块，所述接口扩展模块采用TCA9555芯片作为主控芯片。6.根据权利要求1所述的航天设备阻抗测试装置，其特征在于，所述阻抗测试单元采用DA...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘超，杨春峰，张洋，冯笑，孙静生，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十五研究所，
类型：发明
国别省市：