一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法技术

本申请公开了一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，包括如下步骤：对SCI模块内输入环境参数数据信号生成指令，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的数字信号；对所述D/A模块进行初始化，并将所述数字信号输入所述D/A模块，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的模拟信号；对被测设备的各硬件资源进行初始化，并将所述模拟信号输入至所述被测设备，以获取所述被测设备对相应环境参数数据对应的环境因素的耐受范围。该测试方法操作更为简便且效率更高。该测试方法操作更为简便且效率更高。该测试方法操作更为简便且效率更高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法


[0001]本申请一般涉及设备测试
，尤其涉及一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法、介质和系统。

技术介绍

[0002]在一些大型设备内部某些功能模块对于环境因素影响较为敏感，比如温度、湿度或压力等，因此需要再设备应用中设置相应的数据获取和判断机制，以保证整体设备的正常运行。设备出厂前往往需要对上述情况进行检测，以验证该设备标称的对特定环境因素的耐受力范围，其中被输入设备内应用程序的用于表征环境参数数据的信号一般需要为模拟量。现有的测试方案一般为将设备整体至于真实的测试环境中，不断改变上述环境因素，并利用相应传感器对该环境因素改变后的参数数据进行测量，并将测量的数据信号输入设备的应用中，以获得设备在确保正常工作前提下对于该环境因素的耐受力范围。这样在操作上较为繁琐，且效率低下，亟待改进。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种操作更为简便且效率高的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法。
[0004]具体技术方案如下：
[0005]第一方面
[0006]本申请提供一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，包括如下步骤：
[0007]对SCI模块内输入环境参数数据信号生成指令，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的数字信号；
[0008]对所述D/A模块进行初始化，并将所述数字信号输入所述D/A模块，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的模拟信号；
[0009]对被测设备的各硬件资源进行初始化，并将所述模拟信号输入至所述被测设备，以获取所述被测设备对相应环境参数数据对应的环境因素的耐受范围。
[0010]作为本申请的进一步限定，还包括如下步骤：
[0011]测量所述模拟信号设定物理量的数值，记为第一数值，其中所述设定物理量为能够影响所述被测设备应用对环境因素耐受力判断的物理量；
[0012]将所述第一数值与所述环境参数数据信号生成指令用于表征的第二数值进行对比；
[0013]当判断所述第一数值与所述第二数值的差距大于设定值时，对所述第一数值进行调整，直至所述差距小于或等于所述设定值。
[0014]作为本申请的进一步限定，对SCI模块内输入环境参数数据信号生成指令，以获取，所述数字信号，具体包括如下步骤：
[0015]对SCI模块进行初始化；
[0016]通过SCI模块接收应用层发送的环境参数档位号；
[0017]根据档位号查找该档位预存的模拟环参数据；
[0018]将环参数据：压力、温度、湿度三个值进行合法性判定，合法后进行下一步，否则报错退出；
[0019]判断当前通过SPI模块发送的数据类别。
[0020]作为本申请的进一步限定，所述将所述数字信号输入所述D/A模块，以获取所述模拟信号，具体括如下步骤：
[0021]拉低D/A模块对应通道的片选，即将对应的GPIO管脚的数据寄存器写入0；
[0022]通过SPI模块发送压力或者温度、湿度数据：循环检测SPI模块的缓冲区标志是否为1，如果是继续循环，如果不是进行下一步；
[0023]将环参数据写入到SPI模块的发送缓冲区并延时1ms；
[0024]释放对D/A模块通道的片选，即将对应的GPIO管脚的数据寄存器写入1；
[0025]延时4ms。
[0026]作为本申请的进一步限定，所述对所述D/A模块进行初始化，具体包括如下步骤：
[0027]使用GPIO的数据寄存器，对应协议中约定的管脚号，将该管脚的数据寄存器写入0，即对D/A模块进行片选；
[0028]对D/A模块的控制寄存器进行设置，将SPI模块的发送缓冲区写入基准电压值，写完后延时1ms；
[0029]使用GPIO的数据寄存器，对应协议中约定的管脚号，将该管脚的数据寄存器写入1，即释放对D/A模块的片选。
[0030]作为本申请的进一步限定，所述对被测设备的各硬件资源进行初始化，具体包括如下步骤：
[0031]初始化系统资源，其中包括时钟、定时器、中断的设置。其次是D/A模块转化需要使用的SPI模块进行初始化。具体步骤如下：
[0032]设置系统时钟；
[0033]设置板卡的GPIO开关量，其中包括SCI模块和SPI模块的输入输出引脚设置；
[0034]初始化SPI模块，其中包括SPI模块的波特率、接收发送设置、模块使能；
[0035]初始化板卡主频，启动定时器；
[0036]设置中断向量表和中断入口函数。
[0037]第二方面
[0038]本申请提供一种用于测试环境因素对设备运行产生影响的介质，用于实现如上所述的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法。
[0039]第三方面
[0040]本申请提供一种用于测试环境因素对设备运行产生影响的系统，包括如上所述的D/A模块和SCI模块，并用于实现所述基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法。
[0041]本申请有益效果在于：
[0042]在本方案中，可通过测试主机将与某环境因素对应的信号生成指令输入至所述SCI模块中，其中所述环境因素可以为温度、湿度、压力等，下边以温度为例，所述信号生成
指令中具有上述环境因素的某项数值。所述SCI模块在收到上述指令后，随即生成与之相应的数字信号，其中所述数字信号中用于对被测设备产生影响，从而使其确定耐受力范围的物理量可以为电压，也可以为电流。然后将所述数字信号输入至所述D/A模块中，由所述D/A模块将其转化为相应的模拟信号，其中所述模拟信号的电压可以为经过某种倍率的放大或缩小后的数值。将上述模拟信号输入至被测设备中，其应用程序可将该模拟信号放入其对环境因素耐受度的判断中，以得到其在该环境因素的对应取值下，是否能够正常工作的判断结果。变化生成指令，即可得到所述被测设备对相应环境参数数据对应的环境因素的耐受范围。与现有技术相比，本方案采用模拟仿真的方式完成对环境因素检测信号的生成和输入，无需再在测试前营造相应的环境设施，且无需在被测设备上设置传感器，因此大幅度提升了测试的便利性和效率。
附图说明
[0043]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0044]图1为本申请实施例提供的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法的步骤流程图。
具体实施方式
[0045]下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。
[0046]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，其特征在于，包括如下步骤：对SCI模块内输入环境参数数据信号生成指令，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的数字信号；对所述D/A模块进行初始化，并将所述数字信号输入所述D/A模块，以获取与所述环境参数数据信号生成指令相应的，用于表征环境参数数据的模拟信号；对被测设备的各硬件资源进行初始化，并将所述模拟信号输入至所述被测设备，以获取所述被测设备对相应环境参数数据对应的环境因素的耐受范围。2.根据权利要求1所述的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，其特征在于，还包括如下步骤：测量所述模拟信号设定物理量的数值，记为第一数值，其中所述设定物理量为能够影响所述被测设备应用对环境因素耐受力判断的物理量；将所述第一数值与所述环境参数数据信号生成指令用于表征的第二数值进行对比；当判断所述第一数值与所述第二数值的差距大于设定值时，对所述第一数值进行调整，直至所述差距小于或等于所述设定值。3.根据权利要求1所述的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，其特征在于，对SCI模块内输入环境参数数据信号生成指令，以获取，所述数字信号，具体包括如下步骤：对SCI模块进行初始化；通过SCI模块接收应用层发送的环境参数档位号；根据档位号查找该档位预存的模拟环参数据；将环参数据：压力、温度、湿度三个值进行合法性判定，合法后进行下一步，否则报错退出；判断当前通过SPI模块发送的数据类别。4.根据权利要求1所述的基于D/A模块的针对环境因素影响的设备测试方法，其特征在于，所述将所述数字信号输入所述D/A模块，以获取所述模拟信号，具体括如下步骤：拉低D/A模块对应通道的片选，即将对应的GPIO管脚的数据寄存器写入0；通过SPI模块发送压力或者温度、...

【专利技术属性】
技术研发人员：高娟，
申请(专利权)人：天津津航计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：