一种数显式单通道主动测量仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种数显式单通道主动测量仪，包括LVDT传感器，LVDT传感器连接有ARM芯片，ARM芯片连接有激励输出电路和检波电路，激励输出电路与LVDT传感器的输入端电性连接，LVDT传感器的输入端连接有运放电路，运放电路连接检波电路后连接有滤波电路，滤波电路连接有放大电路和零位调整电路，放大电路的输出端连接有输出电路，输出电路连接有AD转换电路，AD转换电路与ARM芯片电性连接；运放电路、检波电路、滤波电路、放大电路、零位调整电路和输出电路连接后构成信号处理电路；ARM芯片通信连接有触摸屏。本实用新型专利技术采用一个ARM芯片通过信号处理电路实现主动检测功能，极大的缩小了硬件电路的体积。硬件电路的体积。硬件电路的体积。

【技术实现步骤摘要】
一种数显式单通道主动测量仪


[0001]本技术涉及磨削检测控制领域，具体涉及一种数显式单通道主动测量仪。

技术介绍

[0002]在磨削过程中，测量装置不断对工件进行尺寸测量，当工件的尺寸变化时测量装置的测臂产生位移，测量装置中的差动变压器式电感测头（LVDT传感器）将测臂产生的位移量转换为电感量，差动变压器式电感测头的工作原理是利用电磁感应中的互感现象，将被测位移量转换成电信号，测量装置设置有主动测量仪，主动测量仪对电信号进行处理，处理后的电信号与测量装置的测臂位移量成比例，对电信号进行放大后通过主动测量仪的表头可以看到磨削作业过程中工件的尺寸值。其中主动测量仪可以输出粗磨、精磨、光磨和尺寸到的信号。该信号用于内、外圆磨床砂轮头进给量的改变，从而按既定标准自动完成零件的磨削加工，实现100%检验。
[0003]但现有的主动测量仪硬件电路结构复杂，如CN218776394U，一种基于双ARM芯片的指针式测量仪，从而要求测量仪的体积较大。随着作业的精细化要求提高主动测量仪的尺寸越小越好，从而大体积的测量仪将妨碍测量装置工作。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数显式单通道主动测量仪，包括LVDT传感器（1），所述LVDT传感器（1）连接有ARM芯片（2），其特征在于，所述ARM芯片（2）连接有激励输出电路（3）和检波电路（4），所述激励输出电路（3）与LVDT传感器（1）的输入端电性连接，所述LVDT传感器（1）的输入端连接有运放电路（5），所述运放电路（5）连接检波电路（4）后连接有滤波电路（6），所述滤波电路（6）连接有放大电路（7）和零位调整电路（8），所述放大电路（7）的输出端连接有输出电路（10），所述输出电路（10）连接有AD转换电路（9），所述AD转换电路（9）与ARM芯片（2）电性连接；运放电路（5）、检波电路（4）、滤波电路（6）、放大电路（7）、零位调整电路（8）和输出电路（10）连接后构成信号处理电路；ARM芯片（2）通信连接有触摸屏（11）。2.根据权利要求1所述的一种数显式单通道主动测量仪，其特征在于，所述激励输出电路（3）包括第一运放芯片（12）和正弦波输出芯片，所述ARM芯片（2）的PWM输出端电性连接第一运放芯片（12），所述第一运放芯片（12）输出端连接正弦波输出芯片，所述正弦波输出芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵大强，蔡安平，赵渊，
申请(专利权)人：三门峡中原精密有限公司，
类型：新型
国别省市：