显示母板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种显示母板，其特征在于，包括：第一基板，第二基板，所述第二基板位于所述第一基板之上，所述第一基板和所述第二基板形成多个未切割的成阵列排列的液晶面板，每个所述液晶面板的第一基板朝向其对应的第二基板的表面设有第一测试端子；以及倒角，所述第二基板的倒角尺寸大于所述第一基板的倒角尺寸，以暴露出位于所述第一基板倒角处的第二测试端子；所述液晶面板的所述第一测试端子连接至所述第二测试端子，以接收测试信号，从而在显示母板未被切割的情况下对其包括的液晶面板进行测试。晶面板进行测试。晶面板进行测试。

【技术实现步骤摘要】
显示母板


[0001]本技术涉及显示
，特别涉及一种显示母板。

技术介绍

[0002]液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)是利用液晶分子的排列方向在电场的作用下发生变化的现象改变光源透光率的显示装置。由于具有显示质量好、体积小和功耗低的优点，液晶显示装置已经广泛地应用于诸如高清数字电视、台式计算机、笔记本电脑、平板电脑、手机、数码相机等电子设备中。
[0003]通常情况下，显示面板经各站点制程生产，如图1所示。图1示出了现有技术显示面板的各站点制程，包括PI(聚酰亚胺成膜)，Rubbing(PI膜配向)，ODF(OneDrop Fill，滴下式注入)，1
st
CUT(第一次切割)，2
nd
CUT(第二次切割)，POL(Polarizer，偏光片)安装和清洗，以及LOT1(Lighton Test,点灯测试)，周期(Cycletime)约需2天。为保证产品良率，需要行抽检，传统方案只能对单个液晶面板进行测试，因此要增加切割(cut)制程，将显示母板切割为多个液晶面板，再对液晶面板进行测试。这种方案存在诸多缺点，增加切割制程导致成本提高，测试结果时效性滞后，例如滞后两天，若有品质异常发生，风险(risk)区间较大。同时，因抽检而切割的多个液晶面板也不能像显示母板一样出货，只能入库后再寻找客户低价售卖，变相增加了生产成本。
[0004]针对UV照度异常等前程制光箱无法检出的品质问题，可以执行快跑模式验证，如图2所示。图2示出了快跑模式验证流程图，在快跑需求发出后，重新规划排程，后制程站点切换线配合，并进行良率追踪，该模式不仅耗费人力、设备稳定性低，周期也仍需一天。
[0005]因此，期待一种改进的显示母板，以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]鉴于上述问题，本技术的目的在于提供一种显示母板，能够在显示母板未被切割的情况下，对其包括的液晶面板进行测试。
[0007]根据本专利技术的一方面，提供一种显示母板，包括：第一基板；第二基板，所述第二基板位于所述第一基板之上，所述第一基板和所述第二基板形成多个未切割的液晶面板，每个所述液晶面板的第一基板朝向其对应的第二基板的表面设有第一测试端子；以及倒角，所述第二基板的倒角尺寸大于所述第一基板的倒角尺寸，以暴露出位于所述第一基板倒角处的第二测试端子；所述液晶面板的所述第一测试端子连接至所述第二测试端子，以接收测试信号。
[0008]可选地，还包括：中间引线，所述中间引线包括沿第一方向设置的多个第一引线段，以及沿垂直于第一方向的第二方向设置的多个第二引线段，所述第二引线段的数量与第一方向上液晶面板的数量对应；短接棒，所述短接棒配置为将每个所述液晶面板的所述第一测试端子连接至对应的第二引线段。
[0009]可选地，所述短接棒包括第一金属层、第二金属层，以及位于所述第一金属层和所
述第二金属层之间的绝缘层。
[0010]可选地，所述显示母板包括一个倒角，所述液晶面板包括多个第一测试端子，所述第一基板倒角处包括与所述多个第一测试端子对应的多个第二测试端子；所述中间引线的数量与所述多个第二测试端子对应，以将每个所述液晶面板的第一测试端子对应连接至所述第二测试端子。
[0011]可选地，每个所述液晶面板还包括第一控制端子，所述第一基板倒角处包括与所述液晶面板数量对应的多个第二控制端子，每个所述液晶面板的所述第一控制端子连接至对应的第二控制端子。
[0012]可选地，所述多个第二控制端子分别接收多个开关信号，以独立控制每个所述液晶面板是否接收所述测试信号。
[0013]可选地，每个所述液晶面板还包括第一控制端子，所述第一基板包括多个连片区域，所述第一基板倒角处包括与所述多个连片区域的数量对应的多个第二控制端子；每个连片区域包括多个液晶面板，所述连片区域包括的多个液晶面板的所述第一控制端子连接至公共节点，所述公共节点连接至对应的第二控制端子。
[0014]可选地，所述显示母板包括三个倒角，所述显示母板上的多个液晶面板被划分为三个测试区域，在每个测试区域中，所述液晶面板包括多个第一测试端子，所述第一基板倒角处包括与所述多个第一测试端子对应的多个第二测试端子；所述中间引线的数量与所述多个第二测试端子对应，以将所述测试区域中每个所述液晶面板的第一测试端子对应连接至所述第二测试端子。
[0015]可选地，每个所述测试区域包括多个液晶面板。
[0016]可选地，每个所述液晶面板还包括第一控制端子，每个测试区域的所述第一基板倒角处包括与所述测试区域中所述液晶面板数量对应的多个第二控制端子，所述测试区域中每个所述液晶面板的所述第一控制端子连接至对应的第二控制端子。
[0017]可选地，所述液晶面板包括显示区域和位于其边缘的检测区，所述第一控制端子以及所述第一测试端子位于所述检测区。
[0018]本申请提供的显示母板，将第二基板的倒角尺寸设置为大于第一基板的倒角尺寸，暴露出位于第一基板倒角处的第二测试端子，并将第一基板上每个液晶面板的第一测试端子连接至对应的第二测试端子，从而实现在显示母板未被切割的状态下对其包括的液晶面板进行测试。
[0019]可选地，采用本申请提供的显示母板在组立后即可进行点灯测试，大大缩短生产周期，有效降低成本。同时还能提升显示母板的检测效率，及时发现异常，避免前制程或者客户出货损失。
[0020]可选地，当显示母板包括的液晶面板较多时，第一基板的倒角处还包括与液晶面板数量对应的多个第二控制端子，每个液晶面板的第一控制端子连接至对应的第二控制端子以接收开关信号，从而在测试时独立地控制每个液晶面板是否接收测试信号，例如在测试时每次只开启一个或几个液晶面板，有效提高测试信号的驱动能力，避免出现过杀、漏检等问题。
[0021]可选地，本申请的显示母板还可以包括三个倒角，并将第一基板上的液晶面板划分为对应的三个测试区域，每个倒角处的第二测试端子只与对应测试区域的液晶面板连
接，减少与第二测试端子连接的液晶面板的数量可以提高测试信号的驱动能力，避免出现过杀、漏检等问题。在测试时可以同时向三个倒角的第二测试端子提供测试信号以同时测试三个测试区域的液晶面板，在保证测试信号驱动能力的同时还具备较高的检测效率。
[0022]可选地，当显示母板包括的液晶面板较多时，将第一基板上的液晶面板划分为多个连片区域，每个连片区域包括的液晶面板的第一控制端子连接至一公共节点，并通过该公共节点连接至倒角处对应的第二控制端子，有效避免了因显示母板包括的液晶面板数量过多，用于连接第一控制端子和第二控制端子的引线过多，导致的诸如引线占用过多空间、信号干扰等问题。
附图说明
[0023]通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0024]图1示出了现有技术显示面板的各站点制程；
[0025]图2示出了快跑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示母板，其特征在于，包括：第一基板；第二基板，所述第二基板位于所述第一基板之上，所述第一基板和所述第二基板形成多个未切割的成阵列排列的液晶面板，每个所述液晶面板的第一基板朝向其对应的第二基板的表面设有第一测试端子；以及倒角，所述第二基板的倒角尺寸大于所述第一基板的倒角尺寸，以暴露出位于所述第一基板倒角处的第二测试端子；所述液晶面板的所述第一测试端子连接至所述第二测试端子，以接收测试信号。2.根据权利要求1所述的显示母板，还包括：中间引线，所述中间引线包括沿第一方向设置的多个第一引线段，以及沿垂直于第一方向的第二方向设置的多个第二引线段，所述第二引线段的数量与第一方向上液晶面板的数量对应；短接棒，所述短接棒配置为将每个所述液晶面板的所述第一测试端子连接至对应的第二引线段。3.根据权利要求2所述的显示母板，所述短接棒包括第一金属层、第二金属层，以及位于所述第一金属层和所述第二金属层之间的绝缘层。4.根据权利要求2所述的显示母板，所述显示母板包括一个倒角，所述液晶面板包括多个第一测试端子，所述第一基板倒角处包括与所述多个第一测试端子对应的多个第二测试端子；所述中间引线的数量与所述多个第二测试端子对应，以将每个所述液晶面板的第一测试端子对应连接至所述第二测试端子。5.根据权利要求4所述的显示母板，每个所述液晶面板还包括第一控制端子，所述第一基板倒角处包括与所述液晶面板数量对应的多个第...

【专利技术属性】
技术研发人员：史正双，吕建奇，王玉生，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：