用于被空间子采样的图像的样本水平变化制造技术

本发明专利技术涉及用于被空间子采样的图像的样本水平变化。这里描述了一种用于执行对不规则样本的样本水平变化的方法。样本的初始样本水平值被确定。样本的影响区域被计算，该影响区域包括如下像素：样本是这些像素的预测中的因子。影响区域中的像素的预测误差被计算，还基于像素的预测误差来计算样本的预测误差。如果样本的预测误差超过了预测误差阈值，则仅基于像素的预测误差来计算样本的样本水平改变。如果样本水平改变小于水平改变阈值，则基于样本水平改变来指派新的样本水平值给样本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于执行对不规则空间样本的样本水平变化的计算机化的方法，包括：　确定样本的初始样本水平值；　计算所述样本的影响区域，所述影响区域包括如下像素：所述样本是这些像素的预测中的因子；　计算所述影响区域中的像素的预测误差；　 　从所述像素的预测误差中计算所述样本的预测误差；　如果所述样本的预测误差超过了预测误差阈值，则仅基于所述像素的预测误差来计算所述样本的样本水平改变；以及　如果所述样本水平改变小于水平改变阈值，则基于所述样本水平改变来指派新的样 本水平值给所述样本。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：马克帕尼科尼，
申请(专利权)人：索尼株式会社，索尼电子有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]