检测光源的选用方法及其系统技术方案

本发明专利技术揭示一种检测光源的选用方法及其系统，此系统包含一光源驱动模块、一扫描模块以及一推论模块。检测光源的选用方法由光源驱动模块提供多个测试光源投射于一待测物上；由扫描模块对待测物线形扫描形成对应所述多个测试光源的多个图像；推论模块记录有待测物的缺陷数据，并根据一分析法则将各图像与缺陷数据比对以产生对应各图像的品质分数，以从各品质分数分析并挑选出最适用于检测待测物的检测光源。本发明专利技术可适用于多种类型的生产线。厂商作测试前的系统调整作业时，可以找到最适用于待测物的检测光源，求取最大的检测良率。当厂商可大幅降低因设备更换而产生的成本，并能应用于多种不同产线，实用性甚高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测待测物的扫描光源选用系统，特别是指一种具有选出最适用 于当前待测物进行检测作业的检测光源的选用方法及其系统。
技术介绍
请参照图1，其为现有技术的光源驱动、扫描与待测物缺陷检查系统。此待测物可 为硬性电路板、软性电路板、软性材料、卷带1…等不同材料、特性的物件，在此以配置有印 刷电路的卷带1作为解说。现有技术所述的系统包含一物件传输机构110、一扫描机构120 及一控制机构130。物件传输机构110包含一供料端111与一收料端112，供料端111会释 放卷带1的料带，并与收料端112以同一方向实质上同步卷动以传输卷带1至收料端112， 由收料端112将料带卷收。扫描机构120包含一个光学摄影机121与一投光模块122，投光 模块122在卷带1的传输路径上投射一光源，以形成投射区域，光学摄影机121用以扫描或 拍摄进入投射区域的印刷电路，以产生各印刷电路的图像。控制机构130包含一机构控制 模块131与一图像辨析模块132，机构控制模块131控制物件传输机构110以传输卷带1， 命令投光模块122进行投光以形成上述的投射区域，并取得光学摄影机121的镜头所拍摄 出的即时画面，以通过即时画面的变化来判断料带上的印刷电路进入投射区域时，对印刷 电路进行扫描或拍摄形成上述的图像。图像辨析模块132内存储有关于印刷电路的至少一 缺陷数据，所谓缺陷数据包含缺陷电路图形或数值化的电路配线规格。图像辨析模块132 为取得光学摄影机121所产生的图像，将其与缺陷数据匹配，判断印刷电路是否正确，或印 刷出的电路配线是否符合布线规格。然而，当前的缺陷检查系统的投光模块多配置单一光源，然每一种待测物有其适 用的检测光源，因此厂商在建立生产线前，需得知被测试的待测物所适用的检测光源，再购 买或配置包含此检测光源的缺陷检查系统。其次，厂商作测试前的系统调整作业时，也仅能 就现有的检测光源进行调整，以求取最大的检测良率，就实际应用上而言，相当的不便。再 者，当厂商欲改变生产线类型时，原有的缺陷检查系统所提供的光源不见得适用于新类型 的产品，必要时需整个生产设备尽数更新，除大幅提升设备成本，更突显了现行缺陷检查系 统无法变换于多种不同产线，应用性甚低的问题。因此，如何使缺陷检查系统具有可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待 测物的投射光源，乃为厂商应思考的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待测物 的投射光源的选用系统与选用方法。本专利技术所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一传输模块、一光 源驱动模块、一控制模块、一扫描模块与一推论模块。此传输模块用以传输一个以上的待测物，光源驱动模块提供多个相异波长的测试4光源，扫描模块用以在待测物经过投射区域时线形扫描待测物，以产生待测物分别受各光 源照射且被扫描形成的多个图像。控制模块控制光源驱动模块照射至少任一种测试光源于 待测物的传输路径上以形成一投射区域，并取得扫描模块拍摄的即时图像，以根据即时图 像判断待测物进入投射区域时令扫描模块对待测物进行扫描，且判断待测物通过投射区域 后切换光源驱动模块投射的光源。推论模块包含有各待测物的一个以上的缺陷数据，推论 模块会根据一分析法则将每一图像与相关的缺陷数据相比对，计算出每一图像的一品质分 数，从各品质分数选出一最佳品质分数所属图像对应的光源，令光源驱动模块将此光源设 为一检测用光源。本专利技术所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用方法，提供至少一待测物，从 多个测试光源中，选择一测试光源照射于被传输至少一待测物上，以形成一投射区域。线形 扫描待测物，以产生待测物受测试光源照射且扫描而成的对应测试光源的一图像。根据一 分析法则计算出此图像的一品质分数，并在所有测试光源已全数进行照射后，根据每一图 像的品质分数，选出一最佳品质分数所属的图像对应的测试光源作为扫描待测物的检测用 光源。本专利技术所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一光源驱动模块、 一扫描模块与一推论模块。光源驱动模块包含多个相异波长的光源，以形成多个测试光源，该光源驱动模块 提供所述多个测试光源照射于一待测物上。扫描模块线形扫描待测物，以产生待测物分别 受各测试光源照射且被扫描形成的多个图像给予推论模块。推论模块包含有待测物的一个 以上的缺陷数据，推论模块会根据一分析法则将每一图像与相关的缺陷数据相比对，计算 出每一图像的一品质分数，从各品质分数选出一最佳品质分数所属图像对应的测试光源， 令光源驱动模块将此测试光源设为一检测用光源。此外，本专利技术所揭示的系统还包含一控 制模块用以切换上述光源驱动模块的测试光源，且驱动扫描模块线形扫描待测物。本专利技术所揭示的检测光源的选用系统与选用方法，提供多个用于测试待测物的测 试光源，通过扫描方法可轻易选择出各种待测物所适用的检测光源，因此，具有本专利技术技术 的缺陷检查系统可适用于多种类型的生产线。其次，厂商作测试前的系统调整作业时，可通 过多种不同的测试光源进行比较，以找到最适用于待测物的检测光源，求取最大的检测良 率。而且，当厂商欲改变生产线类型时，只须将原有的缺陷检查系统所提供的光源模块局部 更换并进行参数设定后即可应用于新类型的待测物检测作业，可大幅降低因设备更换而产 生的成本，并能应用于多种不同产线，实用性甚高。附图说明图1为现有技术的待测物缺陷检查系统示意图；图2为本专利技术检测光源的选用系统的一实施例的方框图；图3为本专利技术检测光源的选用系统的一实施例的架构图；图4为本专利技术实施例的第二待测物进入投射区域示意图；图5为本专利技术实施例的第三待测物进入投射区域示意图；图6为本专利技术检测光源的选用系统另一实施例的架构图；图7为本专利技术检测光源的选用系统另一实施例的方框图；以及5图8为本专利技术检测光源的选用方法实施例的流程图, 上述附图中的附图标记说明如下 现有技术 1卷带110物件传输机构111供料端112收料端120扫描机构121光学摄影机122投光模块130控制机构131机构控制模块132图像辨析模块本专利技术技术10卷带11第一待测物12第二待测物13第三待测物20硬式电路板210光源驱动模块211红光源模块212蓝光源模块213绿光源模块214线形光源投射机构215光纤管216光耦合器220传输模块221供料模块222收料模块223置物模块224传送带230控制端231控制模块232推论模块240扫描模块251红光投射区域252蓝光投射区域253绿光投射区域具体实施例方式为使对本专利技术的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，配合相关实施例及附 图详细说明如下请参照图2、图3、图4与图5，图2为本专利技术检测光源的选用系统的一实施例的方 框图，图3为本专利技术实施例的架构图，图4为本专利技术实施例的第二待测物进入投射区域示意 图，图5为本专利技术实施例的第三待测物进入投射区域示意图。本实施例的待测物为卷带10 上多个相同的印刷电路配线图或图案(该卷带10也可为其它软性电路板、配置有图案的软 性薄膜等)。本实施例所述的系统包含有一传输模块220、一光源驱动模块210、一扫描模块 240与一控制端230，其中控制端230包含一控制模块231与一推论模块232。传输模块220包含有一供本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测光源的选用系统，其包含：一传输模块，用以传输至少一待测物；一光源驱动模块，包含多个相异波长的测试光源，并将所述多个测试光源的一测试光源照射于所述至少一待测物的传输路径上，以形成一投射区域；一扫描模块，用以在所述至少一待测物经过该投射区域时线形扫描所述至少一待测物，以产生所述至少一待测物分别受各所述测试光源照射且扫描而成的多个图像；一控制模块，于所述至少一待测物经过该投射区域时令该扫描模块扫描所述至少一待测物，且判断所述至少一待测物通过该投射区域后，切换该光源驱动模块投射的测试光源；以及一推论模块，包含所述至少一待测物的至少一缺陷数据，该推论模块根据一分析法则将每一所述图像与所述至少一缺陷数据相比对，以计算出每一所述图像的一品质分数，从所述品质分数选出一最佳品质分数所属的该图像对应的该测试光源为一检测用光源。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：钟政英，林长庆，曾健明，
申请(专利权)人：财团法人金属工业研究发展中心，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]