【技术实现步骤摘要】
一种集成电路静态测量快速扫描器
[0001]本专利技术涉及检测
，特别是涉及一种集成电路静态测量快速扫描器。
技术介绍
[0002]静态测量是集成电路在线检测的一种常用检测方法，即，测量集成电路中各元件对应的静态阻值，并将测量得到的静态阻值与对应的元件正常阻值进行比较，从而查找集成电路中故障点的一种方法。在集成电路板的检修过程中，通过静态测量可以缩小故障查找范围，也能降低不必要的重复焊接，以降低对电路板的损伤。在实际工作中，技术人员通常采用万用表的欧姆档进行静态测量，测量过程中必须进行一测一读的操作，即，测量元件的一个引脚读一次数据；对于中等规模以上的集成电路而言，由于集成在电路板上的元器件很多，故采用万用表测量的方式就会导致工作效率非常低的问题。
[0003]用万用表欧姆档进行静态电路测量时，一般采用一测一读的方法，即测一个引脚读一次数据，对于测试大规模集成电路来说，工作效率非常低。本装置利用比较器原理，配合声光报警装置，可实现被测电路的快速扫描测试。
[0004]由此可见，在现有技术中，尚无一种检测...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述扫描器包括：用于为低阻检测模块（2）、高阻检测模块（3）供电的电源模块（1），用于检测集成电路中正常阻值小于或等于N欧姆的元器件状态的低阻检测模块（2），用于检测集成电路中正常阻值大于N欧姆的元器件状态的高阻检测模块（3）；其中，N为实数；电源模块（1）的第一输出端连接低阻检测模块（2）的电源正极性端，电源模块（1）的第二输出端连接高阻检测模块（3）的电源正极性端；电源模块（1）的输入端连接低阻检测模块（2）的电源负极性端、高阻检测模块（3）的电源负极性端。2.根据权利要求1所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述电源模块（1）包括：直流电源（Vcc）、按钮开关（S1）、单刀双掷开关（S2）；其中，直流电源（Vcc）正极性端连接单刀双掷开关（S2）的固定端，直流电源（Vcc）负极性端连接按钮开关（S1）一端，单刀双掷开关（S2）的第一切换端作为电源模块（1）的第一输出端，单刀双掷开关（S2）的第二切换端作为电源模块（1）的第二输出端，按钮开关（S1）另一端作为电源模块（1）的输入端。3.根据权利要求1或2所述的一种集成电路静态测量快速扫描器，其特征在于，所述低阻检测模块（2）包括：第一运算放大器（W1）、第一探针（TZ1）、第一电阻至第八电阻（R1~R8）、第一可变电阻器（RP1）、第一档位开关（SA1）、第一发光二极管（VD1）、第一蜂鸣器（LS1），其中，第一运算放大器（W1）第3引脚连接第三电阻（R3）一端、第四电阻（R4）一端，第三电阻（R3）另一端连接第一电阻（R1）一端、第一探针（TZ1）正极性端，第四电阻（R4）另一端连接第二电阻（R2）一端、第五电阻（R5）一端、第六电阻（R6）一端、第七电阻（R7）一端、第一可变电阻器（RP1）一端；第一运算放大器（W1）第2引脚连接第一探针（TZ1）负极性端、第一档位开关（SA1）固定端（O），第一档位开关（SA1）第一切换位（1Ⅰ）连接第五电阻（R5）另一端，第一档位开关（SA1）第二切换位（1Ⅱ）连接第六电阻（R6）另一端，第一档位开关（SA1）第三切换位（1Ⅲ）连接第七电阻（R7）另一端，第一档位开关（SA1）第四切换位（1Ⅳ）连接第一可变电阻器（RP1）另一端；第一可变电阻器（RP1）控制端连接第一可变电阻器（RP1）一端；第一运算放大器（W1）第1引脚连接第一发光二极管（VD1）阴极、第一蜂鸣器（LS1）负极性端，第一发光二极管（VD1）阳极连接第八电阻（R8）一端；第一电阻（R1）...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋林涛，顾荣军，周志增，徐超，张新锋，徐少坤，吴志建，高磊，梁译文，左志力，吴力华，张再展，赵高玄，惠志红，张松立，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三八八九部队，
类型：新型
国别省市：
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