测试机触发系统及芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种测试机触发系统及芯片测试系统，包括：触发源结构、通信板卡和被触发结构，通信板卡分别与触发源结构和被触发结构连接；其中，触发源结构内具有若干个触发通道，所述触发源结构用于生成第一触发信号，第一触发信号携带有触发编码，触发编码与已导通的触发通道数之间存在映射关系；通信板卡用于解析第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至被触发结构；被触发结构用于根据第二触发信号控制被测芯片执行对应的目标操作。本实用新型专利技术可以较好地适用于多种类型的触发场景，显著提高了触发板卡的通用性。显著提高了触发板卡的通用性。显著提高了触发板卡的通用性。

【技术实现步骤摘要】
测试机触发系统及芯片测试系统


[0001]本技术涉及通信
，尤其是涉及一种测试机触发系统及芯片测试系统。

技术介绍

[0002]在测试领域中，对于芯片等器件的测试，通常采用自动测试设备(ATE，Automatic Test Equipment)实现，现有的自动测试设备的触发方式(ATE trigger)包括背板与插接在背板卡槽上的测试板卡之间的触发、不同自动测试设备的背板之间的触发这两种触发方式。对于第一种触发方式，由于自动测试设备中包含多种类型的测试板卡，因此伴随着较多类型的触发场景，然而现有自动测试设备仅支持一种触发场景，导致仅可触发一种类型的测试板卡，进而导致现有自动测试设备针对触发场景存在通用性较差的问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种测试机触发系统及芯片测试系统，可以较好地适用于多种类型的触发场景，显著提高了触发板卡的通用性。
[0004]第一方面，本技术实施例提供了一种测试机触发系统，包括：
[0005]触发源结构、通信板卡和被触发结构，所述通信板卡分别与所述触发源结构和所述被触发结构连接；其中，
[0006]所述触发源结构内具有若干个触发通道，所述触发源结构用于生成第一触发信号，所述第一触发信号携带有触发编码，所述触发编码与已导通的触发通道数之间存在映射关系；
[0007]所述通信板卡用于解析所述第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至所述被触发结构；
[0008]所述被触发结构用于根据所述第二触发信号控制被测芯片执行对应的目标操作。
[0009]在一种实施方式中，所述触发源结构包括若干个数字测试板卡，每一所述数字测试板卡上均配置有所述触发通道。
[0010]在一种实施方式中，多个所述第一触发信号组成触发信号集；所述测试机触发系统还包括背板，所述背板设置有第一触发总线和第二触发总线；其中，
[0011]所述第一触发总线用于将所述触发信号集传输至所述通信板卡；
[0012]所述第二触发总线用于将解析后生成的第二触发信号传输至所述被触发结构。
[0013]在一种实施方式中，还包括：
[0014]第一连接器，用于将所述数字测试板卡中每个所述触发通道连接至所述第一触发总线。
[0015]在一种实施方式中，还包括：
[0016]第二连接器，用于将所述通信板卡分别连接至所述第一触发总线和所述第二触发总线。
[0017]在一种实施方式中，所述被触发结构包括多个资源板卡，每个所述资源板卡均设置有第一控制器；所述测试机触发系统还包括每个所述资源板卡分别对应的第三连接器；其中，
[0018]所述第三连接器，用于将所述第一控制器连接至所述第二触发总线。
[0019]在一种实施方式中，所述数字测试板卡设置有第二控制器，所述第二控制器用于生成第一触发信号。
[0020]在一种实施方式中，所述数字测试板卡还设置有每个所述触发通道对应的通道开关，所述通道开关用于在闭合状态下导通对应的触发通道。
[0021]在一种实施方式中，所述通道开关包括继电器，所述第一控制器和所述第二控制器均包括FPGA芯片。
[0022]第二方面，本技术实施例还提供一种芯片测试系统，包括：第一方面提供的任一项所述的测试机触发系统以及与所述通信板卡连接的上位机。
[0023]上述技术实施例提供的测试机触发系统，在触发源结构中每个数字测试板卡配置若干个触发通道，数字测试板卡生成携带有触发编码的第一触发信号，该触发编码与数字测试板卡中已导通的触发通道数之间存在映射关系，再通过通信板卡解析第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至被触发结构，即可使被触发结构根据第二触发信号控制被测芯片执行对应的目标操作，本技术实施例可以较好地提高被触发结构的触发及时性和触发多样性，显著丰富了结构之间的触发模式，从而可以较好地适用于多种类型的触发场景，显著提高了触发通用性，进而可以通过被触发结构较好地对被测芯片执行相应的目标操作。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本技术实施例提供的一种测试机触发系统的结构示意图；
[0026]图2为本技术实施例提供的另一种测试机触发系统的结构示意图；
[0027]图3为本技术实施例提供的另一种测试机触发系统的结构示意图；
[0028]图4为本技术实施例提供的一种芯片测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0029]下面将结合实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]目前，现有数字测试机针对触发场景存在通用性较差的问题，基于此，本技术实施例提供了一种测试机触发系统及芯片测试系统，可以较好地适用于多种类型的触发场景，显著提高了触发板卡的通用性。
[0031]为便于对本实施例进行理解，首先对本技术实施例所公开的一种测试机触发系统进行详细介绍。
[0032]本技术实施例提供了一种测试机触发系统，图1示意出了一种测试机触发系统的结构示意图，测试机触发系统包括触发源结构1、通信板卡2和被触发结构3，通信板卡2分别与触发源结构1和被触发结构3连接。
[0033]在一种实施方式中，触发源结构1内具有若干个触发通道，所述触发源结构用于生成第一触发信号，第一触发信号携带有触发编码，触发编码与已导通的触发通道数之间存在映射关系。其中，触发通道可以作为Trigger的触发源，每一个触发通道都可以对应传输一个第一触发信号，多个第一触发信号均具有触发编码，多个第一触发信号组成触发信号集，多个触发编码形成一串触发命令，以触发被触发结构3，被触发结构3接收不同配置的触发命令实现不同的硬件动作。
[0034]在实际应用中，允许用户配置已导通的触发通道数，以及配置不同触发通道数对应的触发编码，从而在后续应用过程中直接按照触发通道数，选择相应的触发编码。在实际应用中，触发通道数和触发编码均可基于实际需求进行设置，本技术实施例对此不再进行赘述。
[0035]在一种实施方式中，通信板卡2用于解析第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至被触发结构。其中，通信板卡2也即DTI板卡，用于实现触发源结构1与被触发结构3之间的数据交互，通信板卡接收第一触发信号并对其进行解析，再将解析后生成的第二触发信号发送至被触发结构3。其中，第一触发信号和对应的第二触发信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试机触发系统，其特征在于，包括：触发源结构、通信板卡和被触发结构，所述通信板卡分别与所述触发源结构和所述被触发结构连接；其中，所述触发源结构内具有若干个触发通道，所述触发源结构用于生成第一触发信号，所述第一触发信号携带有触发编码，所述触发编码与已导通的触发通道数之间存在映射关系；所述通信板卡用于解析所述第一触发信号，并将解析后生成的第二触发信号发送至所述被触发结构；所述被触发结构用于根据所述第二触发信号控制被测芯片执行对应的目标操作。2.根据权利要求1所述的测试机触发系统，其特征在于，所述触发源结构包括若干个数字测试板卡，每一所述数字测试板卡上均配置有所述触发通道。3.根据权利要求2所述的测试机触发系统，其特征在于，多个所述第一触发信号组成触发信号集；所述测试机触发系统还包括背板，所述背板设置有第一触发总线和第二触发总线；其中，所述第一触发总线用于将所述触发信号集传输至所述通信板卡；所述第二触发总线用于将解析后生成的第二触发信号传输至所述被触发结构。4.根据权利要求3所述的测试机触发系统，其特征在于，还包括：第一连接器，用于将所述数字测试板卡中每个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：