一种电性能测试气路控制系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种电性能测试气路控制系统，涉及电性能测试技术领域；包括上位机控制单元，所述上位机控制单元包括40通道信号测试器单元、低差压逻辑控制单元以及高静压逻辑控制器单元，所述40通道信号测试器单元为40个差压芯体提供激励电源，所述上位机控制单元控制切换电流激励和电压激励。该电性能测试气路控制系统，实现电气性能测试，差压芯体无需加压或施加零压情况，测试二极管正向压降、二极管反向压降、输入阻抗、输出阻抗；实现基础性能测试：在零静压、模拟低差压状态下，测试差压芯体的非线性、零点温漂、满点温漂、温度迟滞、压力迟滞和低温响应时间。压力迟滞和低温响应时间。压力迟滞和低温响应时间。

【技术实现步骤摘要】
一种电性能测试气路控制系统


[0001]本技术涉及电性能测试
，具体为一种电性能测试气路控制系统。

技术介绍

[0002]随着国内经济的发展，压力变送器市场发展面临巨大机遇与挑战。在市场竞争方面，压力变送器企业数量越来越多，市场正面临供给与需求的不对称，压力变送器行业有进一步洗牌的强烈要求，但是在一些压力变送器细分市场仍有较大的发展空间，信息化技术将成为核心竞争力；
[0003]单晶硅压力/差压变送器用于测量液体、气体或蒸汽的液位、密度、压力，然后将其转变成4
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20mAHART电流信号输出，也可与HART375或BST Modem相互通信，通过他们进行参数设定、过程控制。与传统压力变送器的区别在于它使用的是纳米单晶硅作为传感器材料。
[0004]单晶硅压力/差压变送器在进行制备研发的过程中，需要对其相应的数据参数进行实时的监控和测量，以保证生产出的单晶硅压力/差压变送器的质量，一般需要通过多设备多次的对单晶硅压力变送器的多组数据分别多次进行测量，且测量过程中还存在温度不同导致检测结果受到影响；鉴于此，我们提出了一种电性能测试气路控制系统。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种电性能测试气路控制系统，解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0006]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种电性能测试气路控制系统，包括上位机控制单元，所述上位机控制单元包括40通道信号测试器单元、低差压逻辑控制单元以及高静压逻辑控制器单元，所述40通道信号测试器单元为40个差压芯体提供激励电源，所述上位机控制单元控制切换电流激励和电压激励，所述上位机控制单元还包括数据采集单元、工控交换单元、高压压力控制器以及低压压力控制器。
[0007]可选的，所述低差压逻辑控制单元包括低差压安全阀单元、低差压压力控制器单元、二位二通电磁阀S1、二通电磁阀S2和二通电磁阀S3。
[0008]可选的，所述低差压安全阀系统对低差压压力控制器单元进行保护，所述二位二通电磁阀S1用于接通低差压压力控制器单元，所述三通电磁阀S2三通电磁阀S2和二通电磁阀S3用于切换测试逻辑，施加负压时，S2通大气，S3通压力控制器单元；施加正压时，S2通压力控制器单元，S3通大气。
[0009]可选的，所述低差压逻辑控制单元包括高差压安全阀单元、高差压压力控制器单元、二位二通电磁阀S4、二通电磁阀S5和二通电磁阀S6。
[0010]可选的，所述高差压安全阀单元对高差压压力控制器单元进行保护，所述二位二通电磁阀S4用于接通高差压压力控制器单元，所述三通电磁阀S5和二通电磁阀S6用于切换测试逻辑，施加负压时，三通电磁阀S5通大气，二通电磁阀S6通压力控制器单元；施加正压时，三通电磁阀S5通压力控制器单元，二通电磁阀S6通大气。
[0011]可选的，所述高静压逻辑控制器内部设置手控阀位置反馈信号单元，所述手控阀位置反馈信号单元对手控阀位置状态信息进行监控，当位置状态信息符合预设的测试流程时，测试流程正常运行；当手控阀位置状态信息不符合预设的测试流程时，上位机软件发出提示和告警信号，同时测试流程处于等待状态并不断监控手控阀的位置状态信号，直至符合预设测试流程，流程自动继续执行，无需人工干预。
[0012]可选的，所述40通道信号测试器单元包括激励电路，所述激励电路负责差压芯体激励、测试采集信号的调度，所述激励电路包括继电器S1、继电器S2以及继电器S3，所述继电器S1切换数据采集端与惠斯登电桥的输入端或输出端相连；继电器S2切换数据采集器的电压通道和电阻通道。
[0013]本技术提供了一种电性能测试气路控制系统。具备以下有益效果：
[0014]1、该电性能测试气路控制系统，实现电气性能测试，差压芯体无需加压或施加零压情况，测试二极管正向压降、二极管反向压降、输入阻抗、输出阻抗；实现基础性能测试：在零静压、模拟低差压状态下，测试差压芯体的非线性、零点温漂、满点温漂、温度迟滞、压力迟滞和低温响应时间。
[0015]2、该电性能测试气路控制系统，实现保护功能测试：在单端高静压或两端高静压状态下，测试差压芯体的静压影响、单压影响、常温保护倍数和高温保护倍数。
附图说明
[0016]图1为本技术的系统结构示意图；
[0017]图2为本技术低差压测试原理图；
[0018]图3为本技术高差压测试原理图；
[0019]图4为本技术惠斯登电桥性能测试示意图；
[0020]图5为本技术继电器S4切换二极管恒流源的示意图。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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图5，本技术提供一种技术方案：1.一种电性能测试气路控制系统，包括上位机控制系统，上位机控制系统包括40通道信号测试器、低差压逻辑控制器以及高静压逻辑控制器，40通道信号测试器为40个差压芯体提供激励电源，上位机控制系统控制切换电流激励和电压激励。
[0023]本实施例中，低差压逻辑控制器包括低差压安全阀单元、低差压压力控制器单元、二位二通电磁阀S1、二通电磁阀S2和二通电磁阀S3。低差压安全阀单元对低差压压力控制器单元进行保护，低差压逻辑控制单元用于完成差压芯体电气性能和基础性能测试过程中的压力逻辑控制，低差压测试原理图如图2所示，二位二通电磁阀S1用于接通低差压压力控制器单元，三通电磁阀S2三通电磁阀S2和二通电磁阀S3用于切换测试逻辑，施加负压时，S2通大气，S3通压力控制器；施加正压时，S2通压力控制器，S3通大气。低差压逻辑控制单元包
括高差压安全阀单元、高差压压力控制器单元、二位二通电磁阀S4、二通电磁阀S5和二通电磁阀S6。
[0024]其中，高差压安全阀系统对高差压压力控制器单元进行保护，高静压测试如图3所示，二位二通电磁阀S4用于接通高差压压力控制器单元，三通电磁阀S5和二通电磁阀S6用于切换测试逻辑，施加负压时，三通电磁阀S5通大气，二通电磁阀S6通压力控制器；施加正压时，三通电磁阀S5通压力控制器，二通电磁阀S6通大气。高静压逻辑控制器单元内部设置手控阀位置反馈信号单元，手控阀位置反馈信号单元对手控阀位置状态信息进行监控，当位置状态信息符合预设的测试流程时，测试流程正常运行；当手控阀位置状态信息不符合预设的测试流程时，上位机软件发出提示和告警信号，同时测试流程处于等待状态并不断监控手控阀的位置状态信号，直至符合预设测试流程，流程自动继续执行，无需人工干预。
[0025]如图4所示，40通道信号测试器单元包括激励电路，激励电路负责差压芯体激励、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电性能测试气路控制系统，其特征在于：包括上位机控制单元，所述上位机控制单元包括40通道信号测试器单元、低差压逻辑控制单元以及高静压逻辑控制器单元，所述40通道信号测试器单元为40个差压芯体提供激励电源，所述上位机控制单元控制切换电流激励和电压激励，所述上位机控制单元还包括数据采集单元、工控交换单元、高压压力控制器以及低压压力控制器。2.根据权利要求1所述的一种电性能测试气路控制系统，其特征在于：所述低差压逻辑控制单元包括低差压安全阀单元、低差压压力控制器单元、二位二通电磁阀S1、二通电磁阀S2和二通电磁阀S3。3.根据权利要求2所述的一种电性能测试气路控制系统，其特征在于：所述低差压安全阀系统对低差压压力控制器单元进行保护，所述二位二通电磁阀S1用于接通低差压压力控制器单元，所述三通电磁阀S2和二通电磁阀S3用于切换测试逻辑。4.根据权利要求1所述的一种电性能测试气路控制系统，其特征在于：所述低差压逻辑控...

【专利技术属性】
技术研发人员：裴鹤岩，李响，张丽丽，王海峰，
申请(专利权)人：威海汉唐测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：