一种像素数据的校正方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请实施例提供的一种像素数据的校正方法，其特征在于，至少包括如下步骤：通过每个像素的光子数以及光生电子数获取每个像素的量子效率；通过所述量子效率的众数与所述量子效率获取校正系数；通过所述校正系数与所述像素的本底电子数获取本底校正值；通过所述校正系数与所述本底校正值获取校正值，通过本发明专利技术的方案，可以校正占空比不一致在测距过程中导致的测距准度降低的问题，以提高测距准度。以提高测距准度。以提高测距准度。

【技术实现步骤摘要】
一种像素数据的校正方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及探测
，特别涉及一种像素数据的校正方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]作为一种在场景中测量与物体相距距离的方法，飞行时间(TOF)技术被开发出来。这种TOF技术可以应用于各种领域，如汽车工业、人机界面、游戏、机器人和安防等等。一般来说，TOF技术的工作原理是用光源发出的已调制光照射场景，并观察场景中物体反射的反射光。而在现有探测系统中为了保证探测过程中可以获得更高的探测效率同时也保证探测系统具有更宽广的视野，目前采用较多的是一种阵列型接收模块，阵列型接收模块中可以有成千上万的像素单元，每个像素单元可以为电荷耦合半导体 CCD或者互补金属氧化物半导体CMOS型等等类型的二极管，此处并不限定只以此两种类型二极管组成阵列型接收模块。
[0003]为了获得距离信息，在TOF进行探测中的间接先获得发射光和返回光的延时信息，进而获得延时相位或者称为相位偏移，再将相位偏移转化为最终的结果信息，这种方法将被探测物的距离信息转化为返回光和发射光相位偏移而非直接给出距离结果，此方案称为间接飞行时间测距(ITOF)。在实际的使用中可以使用互补相位接收返回光信号，进而获得距离信息此种方法称为两相位方案，也有利用四相位0
°
、90
°
、180
°
和270
°
的四相位获取目标距离的方案，当然也有文献尝试3相位甚至5相位方案获取被探测物距离的方案，获得相位偏移的电信号，需要对于该电信号经过处理单元进行处理得到最终的距离信息。但是在多相位接收的时候，不同相位的理想接收波形应该为占空比相同的方波，但是因为设计因素或者电信号的不稳定性，导致不同相位接收信号的方波波形占空比不一致，这就会影响探测的准度，如果消除不同相位接收信号的方波波形占空比不一致是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种像素数据的校正方法、装置、设备及介质，以校正占空比不一致在测距过程中导致的测距准度降低的问题，以提高测距准度。
[0005]为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：
[0006]本申请实施例提第一方面供了一种像素数据的校正方法，其特征在于，至少包括如下步骤：
[0007]通过每个像素的光子数以及光生电子数获取每个像素的量子效率；
[0008]通过所述量子效率的众数与所述量子效率获取校正系数；
[0009]通过所述校正系数与所述像素的本底电子数获取本底校正值；
[0010]通过所述校正系数与所述本底校正值获取校正值。
[0011]可选地，所述量子效率、所述校正系数、以及所述校正值分别与不同相位差对应。
[0012]可选地，所述校正系数为所述量子效率的众数与所述量子效率的比值。
[0013]可选地，所述本底电子数通过将无光条件下的电子值转换为ADC输出量化值得到。
[0014]可选地，所述本底校正值通过所述校正系数与所述本底电子数相乘获得。
[0015]可选地，所述校正值通过将所述像素的电子数与所述系统相乘减去所述所述本底校正值获得。
[0016]可选地，所述像素接收的光为未经过镜头的均匀光。
[0017]本申请实施例的第二方面提供了一种像素数据的校正系统，其特征在于，包括：光源发射模块，用于发射均匀探测光；像素接收单元，用于接收未经过镜头的均匀探测光；数据处理单元，用于处理并校正所述像素单元接收到的信号。
[0018]本申请实施例的第三方面还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的像素数据的校正方法的步骤。
[0019]本申请的有益效果是：
[0020]本申请实施例提供的一种像素数据的校正方法，其特征在于，至少包括如下步骤：
[0021]通过每个像素的光子数以及光生电子数获取每个像素的量子效率；
[0022]通过所述量子效率的众数与所述量子效率获取校正系数；
[0023]通过所述校正系数与所述像素的本底电子数获取本底校正值；
[0024]通过所述校正系数与所述本底校正值获取校正值，通过本专利技术的方案，可以校正占空比不一致在测距过程中导致的测距准度降低的问题，以提高测距准度。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0026]图1为现有技术提供的一种探测系统工作原理的示意图；
[0027]图2示意了一种发射波为方波的示意图；
[0028]图3为本申请实施例提供的一种四相位接收示意图；
[0029]图4为本申请实施例提供的一种占空比不一致情况下的测距误差示意图；
[0030]图5为本申请实施例提供的一种不同相位占空比接收到的电子数比值的示意图；
[0031]图6为本申请实施例提供的一种校正后的测距误差示意图；
[0032]图7为本申请实施例提供的一种占空比校正的流程示意图。
具体实施方式
[0033]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0034]因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0035]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0036]目前采用的探测系统基本包括：光发射模块、处理模块、以及光接收模块，此处以ITOF测距为例进行说明，光发射模块包括但不仅限于半导体激光器、固体激光器、也可包括其他类型的激光器，当采用半导体激光器作为光源时，可以采用垂直腔面发射激光器VCSEL(Vertical
‑
cavitysurface
‑
emittinglaser)或者边发射半导体激光器EEL(edge
‑
emittinglaser)，此处仅为示例性说明并不作具体限定，光发射模块发射出正弦波或者方波或者三角波等等，在测距应用中多为具有一定波长的激光，例如950nm等等的红外激光(最优地为近红外本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种像素数据的校正方法，其特征在于，至少包括如下步骤：通过每个像素的光子数以及光生电子数获取每个像素的量子效率；通过所述量子效率的众数与所述量子效率获取校正系数；通过所述校正系数与所述像素的本底电子数获取本底校正值；通过所述校正系数与所述本底校正值获取校正值。2.如权利要求1所述的像素数据的校正方法，其特征在于，所述量子效率、所述校正系数、以及所述校正值分别与不同相位差对应。3.如权利要求1所述的像素数据的校正方法，其特征在于，所述校正系数为所述量子效率的众数与所述量子效率的比值。4.如权利要求1所述的像素数据的校正方法，其特征在于，所述本底电子数通过将无光条件下的电子值转换为ADC输出量化值得到。5.如权利要求1述的像素数据的校正方法，其特征在于，所述本底校正值通过所述校正系数与所述本底电子数相乘获得。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷述宇，
申请(专利权)人：宁波飞芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：