激光功率监测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种激光功率监测装置，第一高反射镜，用于对入射至其表面的激光进行反射和透射，一部分激光经由所述第一高反射镜反射后用于加工工件，另一部分激光经由所述第一高反射镜透射；第二高反射镜，用于对经由所述第一高反射镜透射后的激光进行反射和透射；探测器，用于检测经由所述第二高反射镜透射后的激光功率。本实用新型专利技术所提出的技术方案中，激光束的各偏振分量经过第一高反射镜与第二高反射镜后的总透过率相同，当激光束的偏振状态发生改变时，入射至探测器的激光束的功率不变，也即不会产生误检测，从而可提高激光功率检测结果的准确性。检测结果的准确性。检测结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
激光功率监测装置


[0001]本技术涉及激光器
，具体涉及一种激光功率监测装置。

技术介绍

[0002]随着高功率激光器技术的逐步成熟和成本的逐步降低，激光切割、焊接逐渐成为金属钣金加工中的一个重要加工手段。
[0003]在对加工质量一致性要求比较高的场景下，例如，新能源电池焊接，需要保证入射到工件上的激光功率保持恒定，这就需要对激光功率进行监测。在监测到激光功率超出预设功率范围时，发出报警信号以提醒工作人员注意，或者，自动对激光功率进行补偿。
[0004]目前，行业内的激光功率监测装置通常包括高反射镜、光阑、衰减片、滤光片和探测器，激光束经由高反射镜透射后，依次经由光阑、衰减片、滤光片，然后被探测器接收。但是，现有激光功率监测装置在对经传能光纤传输后的激光进行功率监测时，由于激光的强度分布、发散角、偏振态会受传能光纤盘绕半径的变化发生改变，因此，激光功率监测装置的探测器所接收到的激光功率发生改变，从而导致激光功率监测装置产生误检测，降低检测结果的准确性。

技术实现思路

[0005]本技术的主要目的在于提出一种激光功率监测装置，旨在解决现有激光功率监测装置存在误检测的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提出一种激光功率监测装置，包括：
[0007]第一高反射镜，用于对入射至其表面的激光进行反射和透射，一部分激光经由所述第一高反射镜反射后用于加工工件，另一部分激光经由所述第一高反射镜透射；
[0008]第二高反射镜，用于对经由所述第一高反射镜透射后的激光进行反射和透射；
[0009]探测器，用于检测经由所述第二高反射镜透射后的激光功率；
[0010]其中，所述第一高反射镜、第二高反射镜和探测器沿激光的透射方向依次设置，所述激光经由第一高反射镜和第二高反射镜透射后，所述激光的各偏振分量的总透过率相同。
[0011]在一些实施例中，所述激光功率监测装置还包括用于对经由所述第二高反射镜透射后的激光进行聚焦的聚焦镜，所述聚焦镜设于所述第二高反射镜与所述探测器之间。
[0012]在一些实施例中，所述探测器为光电探测器，所述探测器上的激光光束直径小于所述探测器的感应区直径。
[0013]在一些实施例中，所述激光功率监测装置还包括衰减片，所述衰减片设于所述聚焦镜与探测器之间，用于将聚焦后的激光功率衰减至所述探测器的功率探测范围。
[0014]在一些实施例中，所述激光功率监测装置还包括滤光片，所述滤光片设于所述衰减片与探测器之间。
[0015]在一些实施例中，所述激光功率监测装置还包括壳体，所述第一高反射镜、第二高
反射镜、探测器、聚焦镜、衰减片和滤光片设于所述壳体内；
[0016]所述壳体表面具有进光口和出光口，所述进光口用于供激光器产生的激光入射进入所述壳体内，所述出光口用于供经由所述第一高反射镜反射后的激光出射至所述壳体外。
[0017]在一些实施例中，所述第一高反射镜的入射光与所述第一高反射镜的夹角为45
°
。
[0018]本技术所提出的技术方案中，激光束的各偏振分量经过第一高反射镜与第二高反射镜后的总透过率相同，当激光束的偏振状态发生改变时，入射至探测器的激光束的功率不变，也即不会产生误检测，从而可提高激光功率检测结果的准确性。
附图说明
[0019]图1为本技术一实施例中激光功率监测装置的结构示意图。
[0020]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本技术中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]还需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件上时，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接另一个元件或者可能同时存在居中元件。
[0024]另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0025]请参见图1，本技术提出一种激光功率监测装置，包括：
[0026]第一高反射镜10，用于对入射至其表面的激光进行反射和透射，一部分激光经由所述第一高反射镜10后用于加工工件，另一部分激光经由所述第一高反射镜10透射至其背面；
[0027]第二高反射镜20，用于对经由所述第一高反射镜10透射后的激光进行二次反射和透射；
[0028]探测器30，用于检测经由所述第二高反射镜20透射后的激光功率；
[0029]其中，所述第一高反射镜10、第二高反射镜20和探测器30沿激光的透射方向依次设置，所述激光经由第一高反射镜10和第二高反射镜20透射后，所述激光的各偏振分量的
总透过率相同。
[0030]本实施例中，第一高反射镜10与第二高反射镜20为45
°
高反射镜，入射激光大部分经由第一高反射镜10反射，以用于对工件进行激光加工，比如，激光切割，激光焊接等。入射激光的其余部分则经由第一高反射镜10透射，透射后的激光经由第二高反射镜20进行二次反射和透射。其中，经由第二高反射镜20反射后的激光为无用光，而经由第二高反射镜20透射后的激光入射至探测器30的表面，以用于供探测器30检测激光功率。
[0031]可选地，第一高反射镜10与第二高反射镜20的光学特性相同，比如，透射率和反射率等，第二高反射镜20经由第一高反射镜10以Z轴为旋转轴旋转90
°
得到。如图1所示，假定激光束1具有两个偏振分量，分别为第一偏振分量11和第二偏振分量12，第一偏振分量11相对于第一高反射镜10为垂直偏振，而相对于第二高反射镜20为水平偏振。第二偏振分量12相对于第一高反射镜10为水平偏振，而相对于第二高反射镜20为垂直偏振。
[0032]其中，由于第一高反射镜10与第二高反射镜20的的光学特性相同，因此，假定第一高反射镜10与第二高反射镜20对垂直偏振光的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光功率监测装置，其特征在于，包括：第一高反射镜，用于对入射至其表面的激光进行反射和透射，一部分激光经由所述第一高反射镜反射后用于加工工件，另一部分激光经由所述第一高反射镜透射；第二高反射镜，用于对经由所述第一高反射镜透射后的激光进行二次反射和透射；探测器，用于检测经由所述第二高反射镜透射后的激光功率；其中，所述第一高反射镜、第二高反射镜和探测器沿激光的透射方向依次设置，所述激光经由第一高反射镜和第二高反射镜透射后，所述激光的各偏振分量的总透过率相同。2.根据权利要求1所述的激光功率监测装置，其特征在于，还包括用于对经由所述第二高反射镜透射后的激光进行聚焦的聚焦镜，所述聚焦镜设于所述第二高反射镜与所述探测器之间。3.根据权利要求2所述的激光功率监测装置，其特征在于，所述探测器为光电探测器，所述探测器上的激光光束直径小于所述探测器的感应区直径。4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：李闯，黄再福，陈燕，邓彩珍，刘梅军，
申请(专利权)人：深圳市吉祥云科技有限公司，
类型：新型
国别省市：