X荧光试样检测装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术的实施例提供了一种X荧光试样检测装置及系统，涉及X

【技术实现步骤摘要】
X荧光试样检测装置及系统


[0001]本专利技术涉及X
‑
荧光检测领域，具体而言，涉及一种X荧光试样检测装置及系统。

技术介绍

[0002]X
‑
荧光仪是一种用于化学领域的分析仪器。X
‑
荧光仪对金属片进行检测时通常对金属片试样的双面均进行检测，在现有的自动化检测线中，常用外部机器人去完成金属片试样的上下料、翻面等动作，在金属片试样通过荧光仪完成检测的过程中，外部机器人面对一台荧光仪的检测需完成多组动作，当多个工位分别设置荧光仪需同时进行检测时，机器人无法同时完成多组动作，一些工位的荧光仪则需要等待，各工位无法同步工作，降低整条检测线的工作效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的包括，例如，提供了一种X荧光试样检测装置，其能够改善X荧光仪对金属片进行检测效率不高的问题。
[0004]本专利技术的目的还包括，提供了一种X荧光试样检测系统，其能够改善X荧光仪对金属片进行检测效率不高的问题。
[0005]本专利技术的实施例可以这样实现：
[0006]本专利技术的实施例提供了一种X荧光试样检测装置，用于与机器人配合使用，所述X荧光试样检测装置包括待料装置、运输装置、荧光仪以及翻转装置；所述待料装置用于定位放置金属样片；所述运输装置设置在所述待料装置与荧光仪之间，所述运输装置用于承接机器人从所述待料装置上吸取的金属样片并将金属样片输送到所述荧光仪内进行检测或者将金属样片从所述荧光仪送出；所述翻转装置设置在所述运输装置的一侧，所述翻转装置用于夹住机器人从所述运输装置上吸取的金属样片并对金属样片进行翻面。
[0007]另外，本专利技术的实施例提供的X荧光试样检测装置还可以具有如下附加的技术特征：
[0008]可选地，所述待料装置包括平台、定位销座以及规整件；所述定位销座设置在所述平台的第一工位上，所述规整件设置在所述平台的第二工位上；所述定位销座用于与样杯底部的定位口配合，以对所述样杯相对所述平台的位置进行定位，所述样杯用于层叠装纳金属样片；所述规整件设置有柱状的导正空间，所述导正空间用于接纳并限位机器人从所述样杯吸取的金属样片，以调整金属样片相对机器人的位置。
[0009]可选地，所述定位销座包括圆柱形的定位部以及锥形的导入部，所述导入部设置在所述定位部的顶部，所述导入部用于引导样杯底部的定位口装配在所述定位部上。
[0010]可选地，所述规整件包括间隔设置在所述平台的所述第二工位上的至少三个导正销，至少三个所述导正销围成所述导正空间。
[0011]可选地，至少三个所述导正销的顶端均设置有呈锥形的导入尖端，所述导入尖端用于引导金属样片滑入所述导正空间内。
[0012]可选地，所述导正销均为圆柱状；所述导正销的表面用于金属样片的边沿接触。
[0013]可选地，所述运输装置包括驱动机构以及料杯；所述驱动机构与所述料杯连接，所述驱动机构用于驱动所述料杯沿所述待测装置到所述荧光仪的方向来回往复移动，所述料杯用于容置金属样片。
[0014]可选地，所述运输装置还包括滑轨；所述滑轨沿所述待测装置到所述荧光仪的方向延伸，所述料杯滑动设置在所述滑轨上；所述驱动机构为气缸，所述气缸与所述料杯连接。
[0015]可选地，所述翻转装置包括机架、翻转气缸以及夹钳，所述机架设置在所述荧光仪的一侧，所述翻转气缸设置在所述机架上，所述夹钳设置在所述翻转气缸的一端，所述翻转气缸用于驱动所述夹钳转动，所述夹钳用于夹住金属样片。
[0016]本专利技术的实施例还提供了一种X荧光试样检测系统。所述X荧光试样检测系统包括机器人以及多个X荧光试样检测装置；多个所述X荧光试样检测装置环绕所述机器人的四周设置。
[0017]本专利技术实施例的X荧光试样检测装置及系统的有益效果包括，例如：
[0018]X荧光试样检测装置，包括待料装置、运输装置、荧光仪以及翻转装置；待料装置用于定位放置金属样片；运输装置设置在待料装置与荧光仪之间，运输装置用于承接机器人从待料装置上吸取的金属样片并将金属样片输送到荧光仪内进行检测或者将金属样片从荧光仪送出；翻转装置设置在运输装置的一侧，翻转装置用于夹住机器人从运输装置上吸取的金属样片并对金属样片进行翻面。
[0019]金属样片在待料装置与运输装置，运输装置与翻转装置之间的转移需借助机器人完成，其余的动作则分别由待料装置、运输装置以及荧光仪分别完成，这样单台荧光仪检测工作的上下料及翻转动作均可以独立完成，减少机器人的工作量，在多工位的荧光仪同时进行工作时确保单台机器人就能满足各台荧光仪的上下料、翻转以及测试的同时完成，降低成本，确保了自动线的工作效率。
[0020]X荧光试样检测系统，包括多个上述的X荧光试样检测装置，能够改善X荧光仪对金属片进行检测效率不高的问题。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]图1为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置的轴侧视图；
[0023]图2为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置的主视图；
[0024]图3为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置的俯视图；
[0025]图4为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置中的待料装置的结构示意图；
[0026]图5为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置中的运输装置的结构示意图；
[0027]图6为本专利技术实施例提供的X荧光试样检测装置中的翻转装置的结构示意图。
[0028]图标：10
‑
X荧光试样检测装置；11
‑
支架组件；100
‑
待料装置；110
‑
平台；120
‑
定位
销座；121
‑
定位部；122
‑
导入部；130
‑
规整件；131
‑
导正销；132
‑
导正空间；133
‑
导入尖端；200
‑
运输装置；210
‑
驱动机构；220
‑
料杯；230
‑
滑轨；400
‑
翻转装置；410
‑
机架；420
‑
翻转气缸；430
‑
夹钳。
具体实施方式
[0029]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0030]因此本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X荧光试样检测装置，用于与机器人配合使用，其特征在于，所述X荧光试样检测装置包括：待料装置(100)、运输装置(200)、荧光仪以及翻转装置(400)；所述待料装置(100)用于定位放置金属样片；所述运输装置(200)设置在所述待料装置(100)与荧光仪之间，所述运输装置(200)用于承接机器人从所述待料装置(100)上吸取的金属样片并将金属样片输送到所述荧光仪内进行检测或者将金属样片从所述荧光仪送出；所述翻转装置(400)设置在所述运输装置(200)的一侧，所述翻转装置(400)用于夹住机器人从所述运输装置(200)上吸取的金属样片并对金属样片进行翻面。2.根据权利要求1所述的X荧光试样检测装置，其特征在于：所述待料装置(100)包括平台(110)、定位销座(120)以及规整件(130)；所述定位销座(120)设置在所述平台(110)的第一工位上，所述规整件(130)设置在所述平台(110)的第二工位上；所述定位销座(120)用于与样杯底部的定位口配合，以对所述样杯相对所述平台(110)的位置进行定位，所述样杯用于层叠装纳金属样片；所述规整件(130)设置有柱状的导正空间(132)，所述导正空间(132)用于接纳并限位机器人从所述样杯吸取的金属样片，以调整金属样片相对机器人的位置。3.根据权利要求2所述的X荧光试样检测装置，其特征在于：所述定位销座(120)包括圆柱形的定位部(121)以及锥形的导入部(122)，所述导入部(122)设置在所述定位部(121)的顶部，所述导入部(122)用于引导样杯底部的定位口装配在所述定位部(121)上。4.根据权利要求3所述的X荧光试样检测装置，其特征在于：所述规整件(130)包括间隔设置在所述平台(110)的所述第二工位上的至少三个导正销(131)，至少三个所述导正销(131)围成所述导正空间(132)。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫早龙，甘煜中，陈凝睿，张大春，黄政博，毛一玮，徐嘉，李阳，罗林，
申请(专利权)人：上海齐宝数控机床制造有限公司，
类型：发明
国别省市：