一种检查偏光板黑斑纹的方法技术

本发明专利技术公开了一种检查偏光板黑斑纹的方法，涉及一种检查偏光板黑斑纹的方法，包括采集偏光板图像数据；获取所述图像数据的像素值；将所述图像数据划分成单元区域；计算每个单元区域的像素值的平均值；基于所述平均值对所述单元区域进行判断。采用投影反射检查的原理，通过求局部平均值比较的方法，重复划分区域，并剔除不存在黑斑纹，有利于减少算力占用，提高运算分析速度，直到单元区域内只有单个的像素后，停止进行划分，将平均值的大于设定值区间单元区域，作为不良集合，在灰度图上进行圈定，能够对有黑斑纹的偏光板进行判断。能够对有黑斑纹的偏光板进行判断。能够对有黑斑纹的偏光板进行判断。

【技术实现步骤摘要】
一种检查偏光板黑斑纹的方法


[0001]本专利技术涉及偏光板检测
，尤其涉及一种检查偏光板黑斑纹的方法。

技术介绍

[0002]偏光板是一种可以从一个非偏光中提取线偏光，且可以像ND滤光片一样用作光衰减器。厚度约100～300um，是多合板产品，核心层是PVA层(聚乙烯醇)，通过拉伸时，添加卤素碘，形成偏振效果。
[0003]由于膜类材料的拉伸会形成配向角，PVA拉伸时因张力、温度、脏污清扫等局部不稳定，会形成黑斑纹现象，外观几无现象，难以进行检测，漏检几率比较大。

技术实现思路

[0004]本专利技术解决的技术问题是：由于膜类材料的拉伸会形成配向角，PVA拉伸时因张力、温度、脏污清扫等局部不稳定，会形成黑斑纹现象，外观几无现象，难以进行检测，漏检几率比较大。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种检查偏光板黑斑纹的方法，包括：采集偏光板图像数据；获取所述图像数据的像素值；将所述图像数据划分成单元区域；计算每个单元区域的像素值的平均值；基于所述平均值对所述单元区域进行判断。
[0006]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：采集偏光板图像数据包括：
[0007]将光源和相机分别设置与偏光板一侧；
[0008]对偏光板一侧进行照射；
[0009]偏光板反射光线在幕布上呈现影像，
[0010]所述相机拍摄呈现影像；
[0011]转动所述偏光板；
[0012]对所述偏光板另一侧进行拍摄呈现影像。
[0013]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：将所述呈现影像进行灰度处理，生成灰度图；
[0014]将所述灰度图缩放至预设大小，作为图像数据。
[0015]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：计算所述图像数据的像素值包括：
[0016]计算所述图像数据的图像梯度，实现混合像素的提取，输出第一像素值数组。
[0017]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：将所述图像数据划分成单元区域包括：
[0018]对所述图像数据进行单元区域划分，第一像素值数组位于单元区域所在的像素点的集合作为第二像素值数组。
[0019]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：计算每个单
元区域的像素值的平均值包括：
[0020]对每个单元区域进行编号；
[0021]分别计算每个单元区域对应的第二像素值数组像素值的平均差。
[0022]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：基于所述平均值对所述单元区域进行判断包括：
[0023]将第二像素值数组的像素值平均差与设定值区间进行比较；
[0024]若第二像素值数组的像素值的平均差大于设定值区间，则表示对应单元区域内存在黑斑纹；
[0025]若第二像素值数组的像素值的平均差位于设定值区间，则表示对应单元区域内不存在黑斑纹；
[0026]若所有第二像素值数组的像素值的平均差位于设定值区间，则表示该偏光板不存在黑斑纹。
[0027]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：删除不存在黑斑纹的单元区域；
[0028]对剩下的单元区域，进行二次单元区域划分，形成二次单元区域；
[0029]第二像素值数组位于二次单元区域所在的像素点的集合作为第三像素值数组；
[0030]对每个二次单元区域进行编号；
[0031]分别计算每个二次单元区域对应的第三像素值数组像素值的平均差；
[0032]若第三像素值数组的像素值的平均差大于设定值区间，则表示对应二次单元区域内存在黑斑纹；
[0033]若第三像素值数组的像素值的平均差位于设定值区间，则表示对应二次单元区域内不存在黑斑纹；
[0034]删除不存在黑斑纹的二次单元区域；
[0035]对剩下的二次单元区域进行三次划分，形成三次单元区域；三次单元区域内的所在的像素点的集合作为第四像素值数组；
[0036]若第四像素值数组的像素值的平均差大于设定值区间，则表示对应三次单元区域内存在黑斑纹；
[0037]若第四像素值数组的像素值的平均差位于设定值区间，则表示对应三次单元区域内不存在黑斑纹。
[0038]作为本专利技术所述的检查偏光板黑斑纹的方法的一种优选方案，其中：重复对三次单元区域进行四次划分，直到单元区域内只有单个的像素后；
[0039]将平均值的大于设定值区间的最后一次划分的单元区域，作为不良集合，在灰度图上进行圈定。
[0040]本专利技术的有益效果：采用投影反射检查的原理，通过求局部平均值比较的方法，重复划分区域，并剔除不存在黑斑纹，有利于减少算力占用，提高运算分析速度，直到单元区域内只有单个的像素后，停止进行划分，将平均值的大于设定值区间单元区域，作为不良集合，在灰度图上进行圈定，能够对有黑斑纹的偏光板进行判断，并将偏光板上的黑斑纹圈出来，便于人工识别，能够自动检出黑斑纹的不良，避免内部不良的后流。
附图说明
[0041]图1为本专利技术一个实施例提供的一种检查偏光板黑斑纹的方法的基本流程示意图。
[0042]图2为本专利技术一个实施例提供的一种检查偏光板黑斑纹的方法的检测黑斑纹所在位置的逻辑示意图。
[0043]图3为本专利技术一个实施例提供的一种检查偏光板黑斑纹的方法的投影检测示意图。
[0044]图4为本专利技术一个实施例提供的一种检查偏光板黑斑纹的方法的黑斑纹示意图。
具体实施方式
[0045]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明，显然所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例。
[0046]实施例1
[0047]参照图1至图3，为本专利技术的一个实施例，提供了一种检查偏光板黑斑纹的方法，包括：
[0048]S1：采集偏光板图像数据包括：
[0049]将光源和相机分别设置与偏光板一侧；
[0050]对偏光板一侧进行照射；
[0051]偏光板反射光线在幕布上呈现影像，
[0052]所述相机拍摄呈现影像；
[0053]转动所述偏光板；
[0054]对所述偏光板另一侧进行拍摄呈现影像。
[0055]将所述呈现影像进行灰度处理，生成灰度图；
[0056]将所述灰度图缩放至预设大小，作为图像数据。
[0057]光源优选采用平行光，利用反射原理、投影，使用反射原理，光经偏光板表面反射后，投影在白色幕布上，此时图像呈放大镜面图，避免了偏光板本身偏光等光学干扰，之后再相机拍摄取像。
[0058]S2：获取所述图像数据的像素值包括：
[0059]计算所述图像数据的图像梯度，实现混合像素的提取，输出第一像素值数组。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，包括：采集偏光板图像数据；获取所述图像数据的像素值；将所述图像数据划分成单元区域；计算每个单元区域的像素值的平均值；基于所述平均值对所述单元区域进行判断。2.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，采集偏光板图像数据包括：将光源和相机分别设置与偏光板一侧；对偏光板一侧进行照射；偏光板反射光线在幕布上呈现影像，所述相机拍摄呈现影像；转动所述偏光板；对所述偏光板另一侧进行拍摄呈现影像。3.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于：将所述呈现影像进行灰度处理，生成灰度图；将所述灰度图缩放至预设大小，作为图像数据。4.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，计算所述图像数据的像素值包括：计算所述图像数据的图像梯度，实现混合像素的提取，输出第一像素值数组。5.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，将所述图像数据划分成单元区域包括：对所述图像数据进行单元区域划分，第一像素值数组位于单元区域所在的像素点的集合作为第二像素值数组。6.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，计算每个单元区域的像素值的平均值包括：对每个单元区域进行编号；分别计算每个单元区域对应的第二像素值数组像素值的平均差。7.如权利要求1所述的检查偏光板黑斑纹的方法，其特征在于，基于所述平均值对所述单元区域进行判断包括：将第二像素值数组的像素值平均差与设定值区间进行比较；...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩建明，金元植，钱争光，
申请(专利权)人：杉金光电南京有限公司，
类型：发明
国别省市：