一种芯片、模式切换方法和电子设备技术

本申请实施例公开了一种芯片、电子设备和模式切换方法，该芯片包括：功能模块，用于在复位信号有效的情况下，进入复位状态，以及，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下能够通过测试接口获取芯片内部数据。取芯片内部数据。取芯片内部数据。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片、模式切换方法和电子设备


[0001]本申请涉及半导体
，尤其涉及一种芯片、模式切换方法和电子设备。

技术介绍

[0002]目前，芯片测试时通常需要将切换至测试模式，在测试模式下，芯片内部寄存器的数据可以通过移位读取。为了芯片数据的安全性，在芯片量产后，通常需要永久关闭测试模式，减少芯片数据泄露。然而，永久关闭测试模式后芯片将无法再次进行测试，导致芯片测试的灵活性差。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种芯片、芯片测试方法和电子设备，能够提高芯片测试的灵活性。
[0004]本申请的技术方案是这样实现的：
[0005]本申请实施例提供了一种芯片，包括：
[0006]功能模块，用于在复位信号有效的情况下，进入复位状态，以及，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下能够通过测试接口获取芯片内部数据。
[0007]本申请实施例提供了一种电子设备，包括上述芯片。
[0008]本申请实施例提供了一种模式切换方法，包括：
[0009]在芯片复位状态下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下，能够通过测试接口获取芯片内部数据。
[0010]本申请实施例所提供的一种芯片、电子设备和模式切换方法，由于功能模块只有在复位信号有效的情况下，才能响应模式切换信号，将工作模式切换至第二工作模式，且复位信号有效的情况下，功能模块会进入复位状态；如此，即在第二工作模式下，已经复位的功能模块中的数据已经被初始化，能够提高芯片内数据的安全性。因此，芯片可以在不同的工作模式之间切换，从而提高芯片测试的灵活性。
附图说明
[0011]图1为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0012]图2为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0013]图3为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0014]图4为本申请实施例提供的一种可选的目标存储单元的结构示意图；
[0015]图5为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0016]图6为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0017]图7为本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图；
[0018]图8为本申请实施例提供的一种可选的电子设备的结构示意图；
[0019]图9为本申请实施例提供的一种可选的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述，所描述的实施例不应视为对本申请的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。
[0022]在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。
[0024]为便于理解本方案，在对本申请实施例进行说明之前，对本申请实施例中的应用背景进行说明。
[0025]相关技术中，通常芯片会具有内部扫描链或者存储器内建自测试(Memory Build
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In
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Self Test，MBIST)等可测试性技术(Design For Testability，DFT)的功能，如此，芯片在测试模式下，可以将芯片中寄存器的数据移出，得到移出数据；这样，芯片测试时可以输入测试数据，并获取移出数据，得到芯片测试结果。这里，芯片可以通过一个控制接口接收使能控制信号，在使能控制信号有效的情况下，切换至测试模式，由此，芯片内数据的安全性会受到影响。为了提高芯片内数据的安全性，芯片在量产后可以通过一次性可编程或者熔断控制位来永久关闭测试模式，如此，测试模式无法再打开，影响芯片测试的灵活性。
[0026]本申请实施例提供一种芯片、电子设备和模式切换方法，在数据安全的前提下，可以提高芯片测试的灵活性。下面说明本申请实施例提供的电子设备的示例性应用，本申请实施例提供的电子设备可以实施为笔记本电脑，平板电脑，台式计算机，机顶盒，移动设备(例如，移动电话，便携式音乐播放器，个人数字助理，专用消息设备，便携式游戏设备)等各种类型的用户终端。
[0027]参见图1，图1是本申请实施例提供的一种可选的芯片结构示意图，将结合图1示出的结构进行说明。如图1所示，芯片10包括功能模块101；功能模块101用于在复位信号external_reset有效的情况下，进入复位状态，以及，在复位信号external_reset有效的情况下，响应于模式切换信号test_mode，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，在第二工作模式下，能够通过测试接口获取芯片10内部数据。
[0028]在本申请实施例中，芯片10中的功能模块101是实现芯片10的功能逻辑的模块。这里，功能模块101可以为片上系统(System On Chip，SOC)芯片，也可以为集成在SOC芯片内的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Neural
‑
network Process Units，NPU)或者微处理器(Micro Processor Unit，MCU)等处理器芯片，对此，本申请实施
例不作限制。
[0029]在本申请实施例中，功能模块101可以接收复位信号external_reset和模式切换信号test_mode；其中，在复位信号external_reset有效的情况下，功能模块101可以进入复位状态；在复位状态下，功能模块101中的数据被复位至初始状态，完成数据初始化。并且，功能模块101只有在复位信号有效的情况下，才可以响应模式切换信号test_mode，切换至第二工作模式。
[0030]在本申请实施例中，功能模块101的工作模式可以包括功能模式和测试模式。在功能模式下，功能模块101实现自身逻辑功能。在测试模式，也即第二工作模式下，功能模块101可以通过测试接口移出内部数据。在一些实施例中，功能模块101处于复位状态，数据已经被初始化后，才会响应模式切换信号test_mode，切换工作模式；也就是说，功能模块101的工作模式从功能模式切换至测试模式时，功能模块101本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片，包括：功能模块，用于在复位信号有效的情况下，进入复位状态，以及，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换信号，将工作模式从第一工作模式切换至第二工作模式，所述第二工作模式下能够通过测试接口获取芯片内部数据。2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述芯片还包括模式切换模块；所述模式切换模块，用于接收模式切换触发信号以及所述复位信号，在所述复位信号有效的情况下，响应于模式切换触发信号有效，向所述功能模块发送模式切换信号。3.根据权利要求2所述的芯片，所述功能模块包括目标存储单元，所述复位状态下，所述目标存储单元数据被复位至初始状态。4.根据权利要求2所述的芯片，所述模式切换模块包括：切换使能单元和切换控制单元；所述切换使能单元用于在复位信号有效的情况下，向所述切换控制单元输出使能信号；所述切换控制单元用于接收所述使能信号和模式切换触发信号，并在所述使能信号有效的情况下，响应于所述模式切换触发信号有效，向所述功能模块发送所述模式切换信号。5.根据权利要求2所述的芯片，所述模式切换模块，还用于在所述模式切换触发信号的电平发生变化的情况下，确定所述模式切换触发信号有效。6.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄远广，
申请(专利权)人：鼎道智芯上海半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：