一种SCD文件测控虚回路校验方法技术

技术编号:38994185 阅读:9 留言:0更新日期:2023-10-07 10:25
本发明专利技术公开了一种SCD文件测控虚回路校验方法,定义IED的间隔属性;提取IED相关描述信息,并获得各IED的间隔属性,将各个IED按照间隔属性进行划分;建立基准SCD配置文件中测控虚回路中的标准端子;按照间隔属性建立测控虚回路的含有标准端子的虚回路模板;将待测智能变电站SCD配置文件中的测控虚回路与含有标准端子的虚回路模板按照判定规则进行匹配校验。本发明专利技术可有效实现对测控虚回路的规范性校核;确保变电站SCD文件配置的完善性和正确性。确保变电站SCD文件配置的完善性和正确性。确保变电站SCD文件配置的完善性和正确性。

【技术实现步骤摘要】
一种SCD文件测控虚回路校验方法


[0001]本专利技术涉及智能变电站运维
,具体涉及一种SCD文件测控虚回路校验方法。

技术介绍

[0002]随着智能变电站建设工作的大力推进,相关IED的配置完全依赖于SCD(Substation Configuration Description,变电站配置描述文件)文件配置的正确性与人工调试,但目前智能站SCD文件配置由各系统集成商进行人工手动制作,对测控虚回路配置亦然。通过装置属性及标准端子定义装置划分与标准描述,通过测控虚回路模板确定装置之间的回路正确性。
[0003]测控虚回路不同于保护虚回路,其连线规则存在较大随意性,不能简单通过定义回路模板实现其回路连线规则的制定,需要综合考虑虚端子类型、虚端子含义来确定哪些虚端子必须连、哪些虚端子可以连,以及发送虚端子与接收虚端子类型必须匹配。
[0004]SCD文件测控虚回路方法可对SCD文件中测控虚回路进行校核,从而解决测控回路中虚端子错拉、多拉、漏拉进行判别,保证测控虚回路的准确性,也能在不停电操作情况下判别测控配置的准确性。
[0005]目前,尚没有对SCD文件测控虚回路的相关校核标准,无法保证SCD文件中的测控虚回路的准确性,避免人工审核的遗漏或错判等问题,实现智能化方式校核,为变电站的稳定运行保驾护航。

技术实现思路

[0006]为解决现有技术中存在的不足,本专利技术提供一种SCD文件测控虚回路校验方法,实现SCD文件测控虚回路校验。
[0007]为实现上述目的,本专利技术采取以下技术方案:
[0008]一种SCD文件测控虚回路校验方法,包括以下步骤:
[0009]步骤1、定义IED的间隔属性;
[0010]步骤2、对基准SCD配置文件中各IED的IEDNAME的字符进行解析并提取IED相关描述信息,根据IED相关描述信息获得各IED的间隔属性,将各个IED按照间隔属性进行划分;
[0011]步骤3、建立基准SCD配置文件中测控虚回路中的标准端子;
[0012]步骤4、根据基准SCD配置文件的测控回路,按照间隔属性建立测控虚回路的含有标准端子的虚回路模板
[0013]步骤5、将待测智能变电站SCD配置文件中的测控虚回路与含有标准端子的虚回路模板按照判定规则进行匹配校验。
[0014]如上所述步骤1中的IED的间隔属性为设备类型_间隔类型_电压等级_接线方式_套别。
[0015]如上所述IED相关描述信息包括设备类型,间隔类型,电压等级,间隔号,以及套
别;
[0016]IED相关描述信息通过以下步骤获得:
[0017]步骤2.1、解析IEDNAME中的第四字符和第五字符,获得电压等级;
[0018]步骤2.2、解析IEDNAME中第三字符,获得IED的间隔类型;
[0019]步骤2.3、解析IEDNAME中的第一字符和第二字符,获得IED的设备类型;
[0020]步骤2.4、解析IEDNAME中第六字符和第七字符,获得间隔号;
[0021]步骤2.5、解析IEDNAME中第八位字符,获得套别。
[0022]如上所述标准端子的属性包括端子描述,端子参引,以及端子类型;
[0023]端子描述用前缀#表示的模糊词,用前缀*表示的关键词,用前缀x表示的必须词,用前缀!表示的互斥词;
[0024]端子类型包括单点信号、双点信号、模拟量信号、遥控信号、遥调信号及设备检修信号。
[0025]如上所述步骤5中的判定规则为:
[0026]判定规则1:待测智能变电站SCD配置文件中提取测控装置的双点虚端子中的断路器位置虚端子的虚回路连接,按照间隔属性将测控装置与虚回路模板匹配,将测控装置的双点虚端子中的断路器位置虚端子的虚回路连接与匹配的虚回路模板进行一致性判别,若不一致则判错接;
[0027]判定规则2:待测智能变电站SCD配置文件中提取测控装置的双点信号中的刀闸位置虚端子的虚回路连接,按照间隔属性将测控装置与虚回路模板匹配,将测控装置的双点信号中的刀闸位置虚端子的虚回路连接与匹配的虚回路模板进行一致性判别,若不一致则判错接;
[0028]判定规则3:在待测智能变电站SCD配置文件中提取的测控虚回路,按照间隔属性将测控装置与虚回路模板匹配,根据虚回路模板确定测控虚回路中发送虚端子和接收虚端子的端子类别,若不同端子类型的发送虚端子和接收虚端子进行连接,则判错接;
[0029]判定规则4:在待测智能变电站SCD配置文件测控虚回路中提取设备检修虚端子虚回路,按照间隔属性将设备检修虚端子虚回路与虚回路模板匹配,根据虚回路模板确定设备检修虚端子虚回路的发送虚端子和接收虚端子的端子种类是否适配,若不适配,则判错;
[0030]判定规则5:在待测智能变电站SCD配置文件的测控虚回路校验中,仅间隔号不同而使用同一个虚回路模板时,不同间隔号的智能终端和测控装置的虚端子不能连接,否则判为间隔错误;
[0031]判定规则6:在待测智能变电站SCD配置文件的测控虚回路中,按照间隔属性将测控虚回路与虚回路模板匹配,当测试间隔存在双套配置时,B套的智能终端虚端子、保护虚端子允许拉至同电压等级的公用测控中;
[0032]判定规则7:在待测智能变电站SCD配置文件中提取的测控虚回路中,按照间隔属性将测控装置与虚回路模板匹配,如果测控虚回路缺少单个或多个虚回路模板中存在的虚回路连接时,判为漏接。
[0033]本专利技术相对于现有技术,具有如下有益效果:
[0034]1、本专利技术可有效实现对测控虚回路的规范性校核;
[0035]2、本专利技术加强了智能变电站SCD文件的校核和管控手段,确保变电站SCD文件配置
的完善性和正确性。
[0036]3、本专利技术中自定义的标准端子可以解决在测控虚回路校验过程中,因厂家装置型号的不同而导致的虚端子名称混乱的问题。
附图说明
[0037]图1为一种SCD文件测控虚回路校验方法的流程图;
[0038]图2为IED的IEDNAME的解析示意图。
具体实施方式
[0039]为了便于本领域普通技术人员理解和实施本专利技术,下面结合实施例对本专利技术作进一步的详细描述,应当理解,此处所描述的实施示例仅用于说明和解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0040]如图1所示,一种SCD文件测控虚回路校验方法,包括:
[0041]步骤1、根据智能变电站的基准SCD配置文件中各IED区别,定义IED属性。描述各类IED,IED包括但不仅限于测控装置、保护装置、智能终端等设备;
[0042]进一步优选地,根据智能变电站的基准SCD配置文件中各IED区别,建立IED属性,IED属性包括通用属性与私有属性。通用属性包括:电压等级、接线方式、间隔类型、设备类型;私有属性包括:IED装置设备厂商、设备型号、设备版本、设备校验码。
[0043]IED按照间隔属性规则本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SCD文件测控虚回路校验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、定义IED的间隔属性;步骤2、对基准SCD配置文件中各IED的IEDNAME的字符进行解析并提取IED相关描述信息,根据IED相关描述信息获得各IED的间隔属性,将各个IED按照间隔属性进行划分;步骤3、建立基准SCD配置文件中测控虚回路中的标准端子;步骤4、根据基准SCD配置文件的测控回路,按照间隔属性建立测控虚回路的含有标准端子的虚回路模板;步骤5、将待测智能变电站SCD配置文件中的测控虚回路与含有标准端子的虚回路模板按照判定规则进行匹配校验。2.根据权利要求1所述一种SCD文件测控虚回路校验方法,其特征在于,所述步骤1中的IED的间隔属性为设备类型_间隔类型_电压等级_接线方式_套别。3.根据权利要求2所述一种SCD文件测控虚回路校验方法,其特征在于,所述IED相关描述信息包括设备类型,间隔类型,电压等级,间隔号,以及套别;IED相关描述信息通过以下步骤获得:步骤2.1、解析IEDNAME中的第四字符和第五字符,获得电压等级;步骤2.2、解析IEDNAME中第三字符,获得IED的间隔类型;步骤2.3、解析IEDNAME中的第一字符和第二字符,获得IED的设备类型;步骤2.4、解析IEDNAME中第六字符和第七字符,获得间隔号;步骤2.5、解析IEDNAME中第八位字符,获得套别。4.根据权利要求3所述一种SCD文件测控虚回路校验方法,其特征在于,所述标准端子的属性包括端子描述,端子参引,以及端子类型;端子描述用前缀#表示的模糊词,用前缀*表示的关键词,用前缀x表示的必须词,用前缀!表示的互斥词;端子类型包括单点信号、双点信号、模拟量信号、遥控信号、遥调信号及设备检修信号。5.根据权利要求4所述一种SCD文件测控虚回路校验方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:李鹏陈永昕杨增力黎恒烜吴迪史逸川汤未任世轩胡佳佳
申请(专利权)人:国网湖北省电力有限公司武汉凯默电气有限公司
类型:发明
国别省市:

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