一种电源IC自检测方法技术

本发明专利技术公开了一种电源IC自检测方法，属于电源IC自检技术领域，本发明专利技术中分别采集输出电压、输出电流和温度值，在输出电压超过电压上限阈值时或低于电压下限阈值时，电源IC存在故障，在输出电流超过电流上限阈值时，电源IC存在故障；本发明专利技术中根据温度值的走势，从而预测未来短时温度，在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障，尽可能保障自检过程中电源IC的安全，再根据未来短时温度、输出电压的波动情况和输出电流的扰动情况，建立电源IC健康状态模型，从而通过温度、电压波动和电流扰动，综合评定出电源IC是否存在故障，提高了故障检测的精度；本发明专利技术实现了对电源IC的全面检测，并在自检环节防故障于未然，更安全可靠。更安全可靠。更安全可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种电源IC自检测方法


[0001]本专利技术涉及电源IC自检
，具体涉及一种电源IC自检测方法。

技术介绍

[0002]电源IC意为电源芯片，电源IC在接入电路板时，需要进行自检，从而确保电源IC的正常，避免在接入电路板后烧坏后级电路或者本身，同时，正常的电源IC才会提供稳定的电压和电流，保障其他电路板上设备的正常工作。
[0003]但现有的电源IC自检测方法仅检测输出电压是否存在过压或者欠压，输出电流是否存在过流，当前的温度值是否过热，在过压、欠压、过流和过热时，电源IC均存在故障。但是，电源IC输出电压和输出电流的稳定性，同样属于判断电源IC是否存在故障的因素，同时，在温度值已经过热时，电源IC已经被烧毁，因此，自检过程无法保障自检过程中电源IC的安全。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供的一种电源IC自检测方法解决了以下技术问题：
[0005]1、现有电源IC自检测方法的自检过程不全面；
[0006]2、自检过程无法保障自检过程中电源IC的安全。
[0007]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：一种电源IC自检测方法，包括以下步骤：
[0008]S1、采集电源IC的输出电压、输出电流和温度值；
[0009]S2、在输出电压超过电压上限阈值时或低于电压下限阈值时，电源IC存在故障；
[0010]S3、在输出电流超过电流上限阈值时，电源IC存在故障；
[0011]S4、根据温度值的走势，预测未来短时温度，在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障；
[0012]S5、根据未来短时温度、输出电压的波动情况和输出电流的扰动情况，建立电源IC健康状态模型；
[0013]S6、在电源IC健康状态模型的输出大于输出阈值时，电源IC存在故障。
[0014]进一步地，所述S4包括以下分步骤：
[0015]S41、根据温度值的走势，计算一段时间内温度的平均增长系数和温度特征值；
[0016]S42、根据平均增长系数和温度特征值，计算未来短时温度；
[0017]S43、在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障。
[0018]进一步地，所述S41中平均增长系数的计算公式为：
[0019]，
[0020]其中，为平均增长系数，为采样的第个温度值，为采样的第个温度
值，为采样的温度值数量。
[0021]上述进一步地方案的有益效果为：本专利技术中通过第个温度值与第个温度值的比值，从而获取多个温度值的平均走势，得到增长或者降低的速度。
[0022]进一步地，所述S41中温度特征值的计算公式为：
[0023]，
[0024]其中，为温度特征值，为采样的第个温度值，为采样的温度值数量，为偶数。
[0025]上述进一步地方案的有益效果为：本专利技术中取一段时间内温度的平均值，再通过计算出新的半段时间的温度值与旧的半段时间的温度值的比例，从而作为修正系数，通过修正系数与平均值相乘，从而体现出较新温度值的水平。
[0026]进一步地，所述S42中计算未来短时温度的公式为：
[0027]，
[0028]其中，为未来短时温度，为温度特征值，为平均增长系数，为预测的未来时间，为采样的时间间隔。
[0029]上述进一步地方案的有益效果为：本专利技术中以温度特征值为基础，平均增长系数用于衡量未来的增长情况，预测的未来时间为所需要预测的短期时间，按平均增长系数方式增长时间，得到未来短时温度，从而基于当前的采集温度，预测出未来短时内所要达到的温度，避免电源IC被烧坏，保障电源IC的安全。
[0030]进一步地，所述S5中电源IC健康状态模型包括：温度评估子模型、电压评估子模型、电流评估子模型和健康状态输出子模型；
[0031]所述温度评估子模型为：
[0032]，
[0033]其中，为温度评估子模型的输出，为以自然常数为底的指数函数，为温度权重，为未来短时温度；
[0034]所述电压评估子模型为：
[0035]，
[0036]其中，为电压评估子模型的输出，为输出电压的波动水平，为电压权重；
[0037]所述电流评估子模型为：
[0038]，
[0039]其中，为电流评估子模型的输出，为输出电流的扰动水平，为电流权重；
[0040]所述健康状态输出子模型为：
[0041]，
[0042]其中，为健康状态输出子模型的输出，为第一比例系数，为第二比例系数，为第三比例系数。
[0043]上述进一步地方案的有益效果为：本专利技术中分别将温度、电压波动、电流扰动分别采用三个子模型进行评估，先通过三个子模型分别评估出其健康水平，再通过健康状态输出子模型分别对温度评估子模型、电流评估子模型和电压评估子模型赋予不同比例系数，为三个子模型分配比重，从而提高评估健康状态的精度。
[0044]进一步地，所述输出电压的波动水平的计算公式为：
[0045]，
[0046]其中，为第个输出电压，为输出电压的数量，为最大输出电压，为最小输出电压，| |为绝对值运算。
[0047]上述进一步地方案的有益效果为：本专利技术中通过每个输出电压减去平均电压的绝对值，从而衡量出整体的电压波动水平，并通过最大输出电压和最小输出电压的比值，对电压波动水平进行增强，进一步地的凸显整体电压的波动情况。
[0048]进一步地，所述输出电流的扰动水平的计算公式为：
[0049]，
[0050]其中，为第个输出电流，为第个输出电流，为第个输出电流，为取最大值，| |为绝对值运算，为输出电流的数量。
[0051]上述进一步地方案的有益效果为：流经电感的电流为三角波，因此，本专利技术中，通过查看相邻两个阶段的电流差值比值，从而体现电流的变化情况，并统计出平均变化情况，再筛选出最大电流差值比值，从而体现出整体的电流扰动情况，并增强电流扰动。
[0052]综上，本专利技术的有益效果为：本专利技术中分别采集输出电压、输出电流和温度值，在输出电压超过电压上限阈值时或低于电压下限阈值时，电源IC存在故障，在输出电流超过电流上限阈值时，电源IC存在故障；本专利技术中根据温度值的走势，从而预测未来短时温度，在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障，尽可能保障自检过程中电源IC的安全，再根据未来短时温度、输出电压的波动情况和输出电流的扰动情况，建立电源IC健康状态模型，从而通过温度、电压波动和电流扰动，综合评定出电源IC是否存在故障。本专利技术提供的一种电源IC自检测方法相比于现有技术检测更全面，且保障了电源IC的安全。
附图说明
[0053]图1为一种电源IC自检测方法的流程图。
具体实施方式
[0054]下面对本专利技术的具体实施方式进行描述，以便于本
的技术人员理解本专利技术，但应该清楚，本专利技术不限于具体实施方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源IC自检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集电源IC的输出电压、输出电流和温度值；S2、在输出电压超过电压上限阈值时或低于电压下限阈值时，电源IC存在故障；S3、在输出电流超过电流上限阈值时，电源IC存在故障；S4、根据温度值的走势，预测未来短时温度，在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障；S5、根据未来短时温度、输出电压的波动情况和输出电流的扰动情况，建立电源IC健康状态模型；S6、在电源IC健康状态模型的输出大于输出阈值时，电源IC存在故障。2.根据权利要求1所述的电源IC自检测方法，其特征在于，所述S4包括以下分步骤：S41、根据温度值的走势，计算一段时间内温度的平均增长系数和温度特征值；S42、根据平均增长系数和温度特征值，计算未来短时温度；S43、在未来短时温度超过温度阈值时，电源IC存在故障。3.根据权利要求2所述的电源IC自检测方法，其特征在于，所述S41中平均增长系数的计算公式为：，其中，为平均增长系数，为采样的第个温度值，为采样的第个温度值，为采样的温度值数量。4.根据权利要求3所述的电源IC自检测方法，其特征在于，所述S41中温度特征值的计算公式为：，其中，为温度特征值，为采样的第个温度值，为采样的温度值数量，为偶数。5.根据权利要求4所述的电源IC自...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱欢，赵玉成，彭云武，傅青云，杜军，
申请(专利权)人：成都电科星拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：