一种二极管测试底座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种二极管测试底座，包括底座，底座内部固定安装有封盖，底座内部设置有若干插管，二极管触脚从插管插入，并与插管接触，底座上开设有若干第一通孔，封盖上开设有若干第二通孔，若干插管一端连接第一通孔，另一端从第二通孔插入并贯穿封盖，通过第一通孔和第二通孔之间的位置关系，使插管在底座中倾斜设置，将底座焊接至测试pcb板或电气元件上，将二极管触脚从第一通孔处插管插入，触脚与插管接触，以此对二极管进行测试，由于通过第一通孔和第二通孔之间的位置关系，使插管在底座中倾斜设置，二极管插入后会引起触脚轻微弹性形变，由于弹性形变后会产生弹力，此时触脚与插管会形成良好的接触，检测效果好。检测效果好。检测效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管测试底座


[0001]本技术涉及检测领域，具体涉及一种二极管测试底座。

技术介绍

[0002]二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件，二极管有两个电极，正极，又叫阳极；负极，又叫阴极，给二极管两极间加上正向电压时，二极管导通，加上反向电压时，二极管截止，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开，在二极管制造生产过程中需要对其电性能进行测试，测试需要用到一些工装来实现，具体的在对二极管电性能测试过程中，需要将引线与工装上的测试座充分接触，且对于此处的引线与测试座之间的接触的可靠性直接影响到最终测试结果的准确性。
[0003]对于传统工装在对二极管电性能测试过程中引线与测试座之间接触可靠性不足,中国专利公开了一种二极管电性能测试用装置(授权公告号CN216718589U)，该专利技术能够通过杠杠组件来实现对于测试块与测试座之间压紧二极管的引线的夹紧力的控制，不仅可以有效保证两者之间与二极管的引线之间的接触的可靠性，从而来保证对于二极管的电性能测试的准确度，但上述方案在对二极管进行检测时，需要将二极管的本体放置在一对测试座之间的缺槽处，再将二极管的一对引线分别放置在一对测试座的弧形凹槽中；然后手动压动压杆，使得与压杆相连的测试块向测试座方向运动来夹紧放置在测试座上的引线，操作过程较为复杂，检测效率较低。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本技术提供一种二极管测试底座，包括底座，所述底座内部固定安装有封盖，所述底座内部设置有若干插管，二极管触脚从所述插管插入，并与所述插管接触；
[0005]所述底座上开设有若干第一通孔，所述封盖上开设有若干第二通孔；
[0006]若干所述插管一端连接所述第一通孔，另一端从所述第二通孔插入并贯穿所述封盖；
[0007]通过所述第一通孔和所述第二通孔之间的位置关系，使所述插管在所述底座中倾斜设置。
[0008]优选的：所述第一通孔上设置有第一斜面，所述第二斜面横截面为梯形。
[0009]优选的：所述第一通孔内设置有卡槽，所述卡槽用以固定所述插管。
[0010]优选的：所述第二通孔上设置有第二斜面，所述第二斜面横截面为梯形。
[0011]优选的：所述底座内部设置有容置腔体。
[0012]优选的：所述底座一侧开设有观察孔。
[0013]优选的：所述第一通孔和所述第二通孔均设置有三个。
[0014]优选的：所述第二通孔孔径大于所述插管管径。
[0015]优选的：所述底座上设置有限位块，所述限位块位于所述底座顶部，所述第一通孔
开设在所述限位块上。
[0016]优选的：所述底座上设置有凸起块，所述凸起块位于所述底座远离所述限位块的一端。
[0017]本技术的技术效果和优点：
[0018]1、将底座焊接至测试pcb板或电气元件上，将二极管触脚从第一通孔处插管插入，触脚与插管接触，以此对二极管进行测试，由于通过第一通孔和第二通孔之间的位置关系，使插管在底座中倾斜设置，二极管插入后会引起触脚轻微弹性形变，由于弹性形变后会产生弹力，此时触脚与插管会形成良好的接触，检测效果好。
[0019]2、对二极管进行检测，仅需将底座安装在相应pcb板或电器元件上，通过将二极管触脚插入插管中即可对二极管进行检测，结构简单，操作便捷，检测效率高。
附图说明
[0020]图1是本申请实施例提供的二极管测试底座结构示意图；
[0021]图2是本申请实施例提供的二极管测试底座的正视图；
[0022]图3是本申请实施例提供的二极管测试底座的剖视图；
[0023]图4是本申请实施例提供的二极管测试底座中封盖的结构示意图；
[0024]图5是本申请实施例提供的二极管测试底座中底座的正视图；
[0025]图6是本申请实施例提供的二极管测试底座中底座的剖视图。
[0026]图中：
[0027]1、底座，101、容置腔体，102、观察孔，103、限位块，104、凸起块，2、封盖，3、插管，4、第一通孔，401、第一斜面，402、卡槽，5、第二通孔，501、第二斜面。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。本技术的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本技术限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本技术的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本技术从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
[0029]由图1
‑
图4所示，在本实施例中提供一种二极管测试底座，包括底座1，底座1内部固定安装有封盖2，底座1内部设置有若干插管3，二极管触脚从插管3插入，并与插管3接触，在底座1上开设有若干第一通孔4，封盖2上开设有若干第二通孔5，其中第一通孔4和第二通孔5的具体数量根据实际需要而定，与二极管触脚数量相同，本实施例中第一通孔4与第二通孔5均设置有三个，第一通孔4上设置有第一斜面401，第一斜面401的横截面形状可根据实际需要而定，本实施例中第一斜面401的横截面为梯形，在第一通孔4内设置有卡槽402，卡槽402用以固定插管3，插管3一端与卡槽402连接，另一端从第二通孔5插入并贯穿封盖2，第二通孔5孔径大于插管3管径，通过第一通孔4和第二通孔5之间的位置关系，使插管3在底座1中倾斜设置，在使用本二极管测试底座1时，仅需将底座1焊接至测试pcb板或电气元件上，将二极管触脚从第一通孔4处插管3插入，触脚与插管3接触，以此对二极管进行测试，由于通过第一通孔4和第二通孔5之间的位置关系，使插管3在底座1中倾斜设置，二极管插入
后会引起触脚轻微弹性形变，由于弹性形变后会产生弹力，此时触脚与插管3会形成良好的接触，检测效果好，在对二极管进行检测，仅需将底座1安装在相应pcb板或电器元件上，通过将二极管触脚插入插管3中即可对二极管进行检测，结构简单，操作便捷，检测效率高。
[0030]通过在第一通孔4和第二通孔5上分别设置第一斜面401和第二斜面501，在将二极管触脚插入第一通孔4时，第一斜面401可以起到导向作用，当触脚接触第一斜面401时会由于斜面作用将触脚导向至第一通孔4内，同理当插管3插入第二通孔5时，第二斜面501会对插管3进行导向，通过第一斜面401和第二斜面501有效增加了触脚和插管3的插入效率。
[0031]由图5
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图6所示，在本实施例中，底座1内设置有容置腔体101，在底座1一侧开设有观察孔102，通过观察孔102可以观察到容置腔体101内插管3的位置与工作状态，在底座1上设置有限位块103，限位块103位于底座1顶部，第一通孔4开设在限位块103上，通过设置有一定厚度的限位块103，实现对插管3更加有效的进行固定，在底座1上设置有凸起块104，凸起块104位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管测试底座，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)内部固定安装有封盖(2)，所述底座(1)内部设置有若干插管(3)，二极管触脚从所述插管(3)插入，并与所述插管(3)接触；所述底座(1)上开设有若干第一通孔(4)，所述封盖(2)上开设有若干第二通孔(5)；若干所述插管(3)一端连接所述第一通孔(4)，另一端从所述第二通孔(5)插入并贯穿所述封盖(2)；通过所述第一通孔(4)和所述第二通孔(5)之间的位置关系，使所述插管(3)在所述底座(1)中倾斜设置。2.根据权利要求1所述的一种二极管测试底座，其特征在于，所述第一通孔(4)上设置有第一斜面(401)，所述第一斜面(401)横截面为梯形。3.根据权利要求2所述的一种二极管测试底座，其特征在于，所述第一通孔(4)内设置有卡槽(402)，所述卡槽(402)用以固定所述插管(3)。4.根据权利要求3所述的一种二极管测试底座，其特征在于，所述第二通孔(5)上设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：王兵，孙占伟，韩晨斌，
申请(专利权)人：苏州欧曼德通讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：