正面上下料的集成IC测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座，测试座的正面设有测试区，测试区内设有若干探针，测试座内设有与若干探针电性连接的测试电路板。测试座的正面设有与测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在保持架内，且保持架可将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。本实用新型专利技术的有益效果在于：该测试装置通过设置保持架，将待测集成IC放置在保持架内，并通过保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。使用更加方便。使用更加方便。

【技术实现步骤摘要】
正面上下料的集成IC测试装置


[0001]本技术涉及集成IC测试装置的
，特别涉及一种正面上下料的集成IC测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路测试一般为半自动测试装置，需要人工对集成IC进行上下料。现有集成电路测试装置有从测试座的顶部上下料的，也有从测试座正面上下料的。顶部上下料的测试装置，工人一般要站立工作，比较累，而正面上下料的测试装置，工人可以站立或坐着工作，使用比较方便。我司此前申请的申请号为CN202121290954.2的集成电路批量测试底座属于正面上下料的结构，但该装置采用翻盖与底座扣合而将待测集成IC压紧，翻盖扣合和打开需要比较用力，使用还是不够方便。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的问题，本技术的主要目的是提供一种正面上下料的集成IC测试装置，旨在。
[0004]为实现上述目的，本技术提出的正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座，测试座的正面设有测试区，测试区内设有若干探针，测试座内设有与若干探针电性连接的测试电路板。测试座的正面设有与测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在保持架内，且保持架可将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。
[0005]优选地，保持架呈“凵”字型。
[0006]优选地，保持架上设有滑杆，滑杆沿垂直于测试座正面的方向在测试座内滑动。
[0007]优选地，滑杆上套设有弹簧，弹簧可驱动滑杆滑动，而带动保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。
[0008]优选地，测试座的正面设有限位条，限位条位于测试区的正上方。
[0009]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：该测试装置通过设置保持架，将待测集成IC放置在保持架内，并通过保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0011]图1为本技术一实施例的立体结构图；
[0012]图2为本技术一实施例的截面结构图；
[0013]图3为图2中的保持架拉开一定距离后的结构图；
[0014]本技术目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0015]本技术提出一种正面上下料的集成IC测试装置。
[0016]参照图1
‑
3，图1为本技术一实施例的立体结构图，图2为本技术一实施例的截面结构图，图3为图2中的保持架拉开一定距离后的结构图。
[0017]如图1
‑
3所示，在本技术实施例中，该正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座1，测试座1的正面设有测试区2，测试区2内设有若干探针3，测试座1内设有与若干探针3电性连接的测试电路板8。测试座1的正面设有与测试区2一一对应的保持架4，待测集成IC放置在保持架4内，且保持架4可将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通。保持架4呈“凵”字型，待测集成IC从“凵”字型保持架4的上方开口处放入。
[0018]保持架4上设有滑杆5，滑杆5沿垂直于测试座1正面的方向在测试座1内滑动，测试时，先将保持架4滑动至远离测试区2一小段距离，方便放入待测集成IC，再将装有待测集成IC的保持架4朝测试区2滑动，使得待测集成IC与若干探针3接触导通。滑杆5上套设有弹簧6，弹簧6可驱动滑杆5带动保持架4朝测试区2滑动，从而带动保持架4将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通，且弹簧6的抵压力能使得待测集成IC与若干探针3始终保持压紧接触状态，保证接触良好。测试座1的正面设有限位条7，限位条7位于测试区2的正上方，使得待测集成IC在压紧过程中受挤压时，不会从“凵”字型保持架4的上方开口滑出。
[0019]该测试装置通过设置保持架4，将待测集成IC放置在保持架4内，并通过保持架4将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。该装置在不使用时，由于保持架4位于测试区2的正前方，保持架4在一定程度上还可以起到对测试区2内探针3的保护作用。
[0020]以上所述仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是在本技术的技术构思下，利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的
均包括在本技术的专利保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，包括：测试座，所述测试座的正面设有测试区，所述测试区内设有若干探针，所述测试座内设有与若干所述探针电性连接的测试电路板；所述测试座的正面设有与所述测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在所述保持架内，且所述保持架可将待测集成IC抵压至与若干所述探针接触导通。2.如权利要求1所述的正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，所述保持架呈“凵”字型。3.如权利要求2所述的正面上下料的集成IC测试装...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈巧琳，丁向东，
申请(专利权)人：深圳市创芯在线检测服务有限公司，
类型：新型
国别省市：