【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种收光及影像侦测的系统，尤其涉及一种用于测试发光元件所产生 的光源的收光测试及影像侦测的系统。
技术介绍
发光元件以发光二极管为主要的代表，发光二极管是当前市面上发光效率最佳的 电子元件。运用已发展成熟的集成电路制造技术从事生产，业者可迅速的将发光二极管量 产上市，而生产上其中一道瓶颈就是产品功能测试与分级。请参阅图1，其为本领域所已知的测试配置。从晶片切割下来的发光二极管晶粒， 即待测物11，黏贴在胶膜(未显示)之上，接收到两根探针12传递而来的操作电能而发光。 已知的测试配置主要分成显微镜及收光器15。待测物11所发出的光线进入显微镜的分光 元件13而被分成不同方向的两道分光束，分别进入显微镜的目镜14与收光器15。通过显 微镜，操作者可以观测以确定待测物11与探针12的位置是否正确；同时，收光器15将光线 传送到其内部的分光元件16，光线再被分配成不同方向的两道分光束，分别用于光谱量测 与光能量测试，测试的结果作为判定待测物U等级的依据。一般而言，光能量测试系接收 分光元件16分配成的分光束后，将光能量转换为电压值，以电压值代表光能量的大小...
【技术保护点】
一种收光及影像侦测系统，包括：一第一分光装置，接收来自一待测物的一光线，并将该光线分配为一第一分光束与一第二分光束；一第二分光装置，接收该第二分光束，并将该第二分光束分配为一第三分光束与一第四分光束；以及一影像侦测装置，接收该第四分光束，并将该第四分光束转换成一数字讯号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘羿辰，蔡振扬，刘永钦，范维如，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。