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光梳产生装置制造方法及图纸

技术编号:38946598 阅读:25 留言:0更新日期:2023-09-25 09:42
在合成器电路(11)与开关电路(13)之间插入隔离器元件(12A、12B),从合成器电路(11)经由隔离器元件(12A、12B)向开关电路(13)输入调制信号,由此防止由于开关电路(13)以后的电路的切断、释放等所引起的负荷变动而使合成器电路(11)的动作变得不稳定,从而不存在由于通过开关电路(13)切换了向光梳产生器(14A、14B)供给的驱动信号的瞬间的负荷变动而使合成器电路(11)的动作变得不稳定的问题地,迅速地切换光梳产生器(14A、14B)的驱动信号来使驱动状态转变。转变。转变。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光梳产生装置


[0001]本专利技术涉及一种用于根据测定光的干涉信号与基准光的干涉信号的时间差来测定距离的光梳测距仪等的光梳产生装置。本申请基于在日本于2021年1月26日申请的日本专利申请号特愿2021

010486而主张优先权,将该申请以参照的形式引入本申请中。

技术介绍

[0002]以往,作为能够进行精密的点的距离测量的有源式距离测量方法,已知利用激光的基于光学原理的距离测量。在使用激光来测定到对象物体的距离的激光测距仪中,基于激光的发射时刻与由受光元件检测出照射至测定对象后被反射回来的激光的时刻之差,来计算到测定对象物的距离(例如参照专利文献1)。另外,例如,对半导体激光器的驱动电流施加三角波等的调制,使用嵌入于半导体激光器元件中的光电二极管接收由对象物反射的反射光,根据光电二极管输出电流中出现的锯齿状波的主波数来得到距离信息。
[0003]作为高精度地测定从某个点到测定点的绝对距离的装置,已知激光测距仪。例如,在专利文献1中记载了根据测定光的干涉信号与基准光的干涉信号的时间差来测定距离的测距仪。
[本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光梳产生装置,其特征在于,具备:N个信号源,所述N个信号源输出频率互不相同的N种调制信号,其中,N为2以上的整数;与所述N个信号源连接的至少2个隔离器;X输入Y输出的开关电路,所述N种调制信号经由所述至少2个隔离器输入到所述开关电路,其中,X为2以上的整数,Y为正整数;以及M个光梳产生器,所述N种调制信号经由所述至少2个隔离器以及所述开关电路选择性地向所述M个光梳产生器输入,其中,M为正整数,其中,所述M个光梳产生器利用所述N种调制信号中的至少两种调制信号来输出分别被周期性地调制强度或相位且调制周期互不相同的M种光梳。2.根据权利要求1所述的光梳产生装置,其特征在于,具备M个所述光梳产生器,M为2以上,将经由与所述N个信号源连接的N个所述隔离器输入到所述开关电路的所述N种调制信号通过所述开关电路循环切换地向所述M个光梳产生器输入,从所述M个光梳...

【专利技术属性】
技术研发人员:今井一宏兴梠元伸
申请(专利权)人:株式会社XTIA
类型:发明
国别省市:

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