一种验证方法、设备以及片上系统芯片技术方案

本发明专利技术提供一种验证方法、设备以及片上系统芯片，涉及电子设备领域。由验证设备执行方法包括：获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率；根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例；根据所述目标测试用例，利用统一验证固件向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；接收所述目标SoC芯片发送的验证结果，统计当前覆盖率，并确定所述当前覆盖率是否满足目标覆盖率，若是，则验证结束，若否，则执行从测试用例库中选取目标测试用例的步骤。本发明专利技术的方案，提高了片上系统芯片验证设备的效率。片验证设备的效率。片验证设备的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种验证方法、设备以及片上系统芯片


[0001]本专利技术涉及电子设备领域，特别是指一种验证方法、设备以及片上系统芯片。

技术介绍

[0002]芯片验证是保障芯片流片成功的重要环节，设计良好、易于维护和扩展的验证设备为芯片验证提供了基础。针对片上系统(SoC)芯片的验证工作需要验证固件的配合，为了达到对各外设模块和功能的高覆盖率验证，一般需要若干验证固件，各固件对应不同的外设模块或功能完成验证。保证芯片验证覆盖率的前提下，为了尽量减少验证固件个数和编译次数，最大程度提高验证设备的工作效率，一般有以下两种技术方案：
[0003]技术方案一，固件模板和参数化方式。预先生成可执行文件模板，通过数据交互函数获取不同测试用例(CASE)的激励信息，基于激励信息对可执行文件进行配置，生成不同的测试用例对应的可执行文件。该方案的弊端是：固件模板和参数化方式。虽然减少了验证固件的个数，但依然需要多个类别的模板，才能满足较高的覆盖率；另外因为需要先配置模板固件后才能开始执行验证固件，所以在验证启动时刻就需要决定验证用例的参数，无法动态配置参数。
[0004]技术方案二，固件随机生成配置参数。使用可随机生成测试用例参数的固件，直接在片上系统上多次执行验证固件，使更全面的覆盖外设模块和功能，执行结果通过验证设备(TestBench)进行收集和报告。该方案的弊端是：固件随机生成配置参数。虽可在C语言中产生随机配置参数，但其不具备SV语言(SystemVerilog)中为验证而提供的各项功能，例如覆盖组设置、覆盖率统计、随机数权重设定等；另外在验证过程中验证设备与固件缺少通讯机制，无法根据当前覆盖率情况动态调整后续激励。

技术实现思路

[0005]针对现有片上系统芯片验证方法的不足，本专利技术提出了一种验证方法、设备以及片上系统芯片，其工作机制是所有的验证测试用例都使用统一的验证固件，验证固件与验证设备之间定义了命令与信息的交互机制，可动态生成随机验证用例参数，收集验证覆盖率信息并调整后续激励。
[0006]为达到上述目的，本专利技术的实施例提供一种验证方法，由验证设备执行，包括：
[0007]获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率；
[0008]根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例；
[0009]根据所述目标测试用例，利用统一验证固件向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；
[0010]接收所述目标SoC芯片发送的验证结果，统计当前覆盖率，并确定所述当前覆盖率是否满足目标覆盖率，若是，则验证结束，若否，则执行从测试用例库中选取目标测试用例的步骤。
[0011]可选的，所述统一验证固件用于接收执行所述目标测试用例的目标功能；
[0012]所述统一验证固件的功能包括：
[0013]寄存器和存储器读写功能、程序跳转功能、执行汇编指令功能、操作内核控制状态寄存器CSR功能。
[0014]可选的，所述根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例，包括：
[0015]所述验证设备建立相应的所述测试用例库，所述测试用例库根据所述目标SoC芯片对应的功能点将测试用例分为N组，并确定所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值相同；
[0016]根据所述预设覆盖率，从所述N组测试用例中选取目标测试用例。
[0017]可选的，从所述N组测试用例中选取目标测试用例之后，还包括：
[0018]在所述目标测试用例完成后，确定所述目标测试用例覆盖所述目标SoC芯片对应的功能点的权重增加第一预设值，所述目标测试用例未覆盖所述目标SoC芯片对应的功能点的权重减少所述第一预设值；
[0019]重新获取更新后的所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值；
[0020]根据所述更新后的所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值，从所述N组测试用例中再次选取目标测试用例。
[0021]可选的，所述获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率之前，还包括：
[0022]将所述统一验证固件的代码初始化到所述SoC芯片的功能相对应的区域，并向所述SoC芯片发送复位信号。
[0023]为达到上述目的，本专利技术的实施例还提供一种验证方法，由SoC芯片执行，包括：
[0024]轮询目标SoC芯片的虚拟存储器中的状态标记；
[0025]接收验证设备向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；
[0026]处理所述执行信号，并在处理完成后更改所述状态标记，且向所述验证设备发送验证结果。
[0027]可选的，所述轮询目标SoC芯片的虚拟存储器中的状态标记之前，还包括：
[0028]接收所述验证设备发送的复位信号后，所述SoC芯片的中央处理器读取统一验证固件，并对所述统一验证固件执行系统初始化。
[0029]为达到上述目的，本专利技术的实施例还提供一种验证设备，包括：
[0030]获取模块，用于获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率；
[0031]第一处理模块，用于根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例；
[0032]第二处理模块，用于根据所述目标测试用例，利用统一验证固件向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；
[0033]第三处理模块，用于接收所述目标SoC芯片发送的验证结果，统计当前覆盖率，并确定所述当前覆盖率是否满足目标覆盖率，若是，则验证结束，若否，则执行从测试用例库中选取目标测试用例的步骤。
[0034]为达到上述目的，本专利技术的实施例还提供一种SoC芯片，包括：
[0035]第四处理模块，用于轮询目标SoC芯片的虚拟存储器中的状态标记；
[0036]第五处理模块，用于接收验证设备向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；
[0037]第六处理模块，用于处理所述执行信号，并在处理完成后更改所述状态标记，且向
所述验证设备发送验证结果。
[0038]为达到上述目的，本专利技术的实施例还提供一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如上任一项所述的验证方法中的步骤。
[0039]本专利技术的上述技术方案的有益效果如下：
[0040]上述技术方案中，由验证设备执行的验证方法包括，获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率；根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例；根据所述目标测试用例，利用统一验证固件向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；接收所述目标SoC芯片发送的验证结果，统计当前覆盖率，并确定所述当前覆盖率是否满足目标覆盖率，若是，则验证结束，若否，则执行从测试用例库中选取目标测试用例的步骤。本专利技术的技术方案中，所有的验证测试用例都使用统一的验证固件，验证固件与验证设备之间定义了命令与信息的交互机制，可动态生成随机验证用例参数，收集验证覆盖率信息并调整后续激励。
附图说明
[0041]图1为本专利技术实施例的应用于验证设备的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种验证方法，其特征在于，由验证设备执行，包括：获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率；根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例；根据所述目标测试用例，利用统一验证固件向所述目标SoC芯片发送对应的执行信号；接收所述目标SoC芯片发送的验证结果，统计当前覆盖率，并确定所述当前覆盖率是否满足目标覆盖率，若是，则验证结束，若否，则执行从测试用例库中选取目标测试用例的步骤。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述统一验证固件用于接收执行所述目标测试用例的目标功能；所述统一验证固件的功能包括：寄存器和存储器读写功能、程序跳转功能、执行汇编指令功能、操作内核控制状态寄存器CSR功能。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述预设覆盖率，从测试用例库中选取目标测试用例，包括：所述验证设备建立相应的所述测试用例库，所述测试用例库根据所述目标SoC芯片对应的功能点将测试用例分为N组，并确定所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值相同；根据所述预设覆盖率，从所述N组测试用例中选取目标测试用例。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，从所述N组测试用例中选取目标测试用例之后，还包括：在所述目标测试用例完成后，确定所述目标测试用例覆盖所述目标SoC芯片对应的功能点的权重增加第一预设值，所述目标测试用例未覆盖所述目标SoC芯片对应的功能点的权重减少所述第一预设值；重新获取更新后的所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值；根据所述更新后的所述目标SoC芯片对应的功能点的权重值，从所述N组测试用例中再次选取目标测试用例。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取与目标片上系统SoC芯片的功能相对应的预设覆盖率之前，还包括：将所述统一验证固件的代码初始化到所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：代俊锋，姜琨，钱晓东，肖青，孙东昱，刘勇，
申请(专利权)人：中移物联网有限公司中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：