本发明专利技术提供一种测量控制方法、装置及测量设备，涉及电子技术领域。该方法包括：从测量端口获取待测数据；对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型；根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，使得所述测量模块测量得到所述待测数据的电学参数值。本发明专利技术的方案，解决了现有测量方法易发生因测量仪的档位或探头位置错误而导致的测量异常的问题。异常的问题。异常的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种测量控制方法、装置及测量设备
[0001]本专利技术涉及电子
，特别是指一种测量控制方法、装置及测量设备。
技术介绍
[0002]目前，电子方面的硬件工程师通常会使用万用表去测量电压、电流、电阻和电容等的参数，或者在实验室环境下需要使用台式数字万用表。
[0003]然而，万用表有一操作特点，即测试时需要手动切换档位和选择测试项。例如，测量电压时，需要手动切换到电压档位；测量电流时，需要切换到电流挡位，并且需要更换探头的位置。这样，在使用过程中，容易发生因探头放置位置错误或档位错误而导致的测试结果异常情况，用户使用体验较差。此外，目前很少有万用表可以测量电感的感值。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是提供一种测量控制方法、装置及测量设备，解决了现有测量方法易发生因测量仪的档位或探头位置错误而导致的测量异常的问题。
[0005]为达到上述目的，本专利技术的实施例提供一种测量控制方法，包括：
[0006]从测量端口获取待测数据；
[0007]对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型；
[0008]根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，使得所述测量模块测量得到所述待测数据的电学参数值。
[0009]可选地，所述电学参数类型包括以下至少一项：电压、电流、电阻、电容和电感。
[0010]可选地，所述对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：
[0011]根据所述待测数据，判断所述测量端口是否有电流通过；
[0012]在所述测量端口有电流通过的情况下，通过检测所述测量端口是否产生过流，确定所述待测数据的电学参数类型；
[0013]在所述测量端口无电流通过的情况下，通过检测是否产生电容谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。
[0014]可选地，所述通过检测所述测量端口是否产生过流，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：
[0015]在产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电压；
[0016]在未产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电流。
[0017]可选地，所述通过检测是否产生电容谐振，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：
[0018]在产生电容谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电容；
[0019]在未产生电容谐振情况下，通过检测是否产生电感谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。
[0020]可选地，所述通过检测是否产生电感谐振，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：
[0021]在产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电感；
[0022]在未产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电阻。
[0023]可选地，所述根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，包括以下一项：
[0024]在所述电学参数类型为电压的情况下，控制所述测量端口与电压测量模块连接；
[0025]在所述电学参数类型为电流的情况下，控制所述测量端口与电流测量模块连接；
[0026]在所述电学参数类型为电容的情况下，控制所述测量端口与电容测量模块连接；
[0027]在所述电学参数类型为电阻的情况下，控制所述测量端口与电阻测量模块连接；
[0028]在所述电学参数类型为电感的情况下，控制所述测量端口与电感测量模块连接。
[0029]为达到上述目的，本专利技术的实施例提供一种测量控制装置，包括：
[0030]获取模块，用于从测量端口获取待测数据；
[0031]识别模块，用于对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型；
[0032]控制模块，用于根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，使得所述测量模块测量得到所述待测数据的电学参数值。
[0033]可选地，所述电学参数类型包括以下至少一项：电压、电流、电阻、电容和电感。
[0034]可选地，所述识别模块包括：
[0035]电流检测子模块，用于根据所述待测数据，判断所述测量端口是否有电流通过；
[0036]过流检测子模块，用于在所述测量端口有电流通过的情况下，通过检测所述测量端口是否产生过流，确定所述待测数据的电学参数类型；
[0037]电容谐振检测子模块，用于在所述测量端口无电流通过的情况下，通过检测是否产生电容谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。
[0038]可选地，所述过流检测子模块包括：
[0039]电压检测单元，用于在产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电压；
[0040]电流检测单元，用于在未产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电流。
[0041]可选地，所述电容谐振检测子模块包括：
[0042]电容检测单元，用于在产生电容谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电容；
[0043]电感谐振检测单元，用于在未产生电容谐振情况下，通过检测是否产生电感谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。
[0044]可选地，所述电感谐振检测单元包括：
[0045]电感检测子单元，用于在产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电感；
[0046]电阻检测子单元，用于在未产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电阻。
[0047]可选地，所述控制模块包括以下一项：
[0048]第一控制单元，用于在所述电学参数类型为电压的情况下，控制所述测量端口与电压测量模块连接；
[0049]第二控制单元，用于在所述电学参数类型为电流的情况下，控制所述测量端口与电流测量模块连接；
[0050]第三控制单元，用于在所述电学参数类型为电容的情况下，控制所述测量端口与电容测量模块连接；
[0051]第四控制单元，用于在所述电学参数类型为电阻的情况下，控制所述测量端口与电阻测量模块连接；
[0052]第五控制单元，用于在所述电学参数类型为电感的情况下，控制所述测量端口与电感测量模块连接。
[0053]为达到上述目的，本专利技术的实施例提供一种测量设备，包括处理器和收发机，其中，所述处理器用于：
[0054]从测量端口获取待测数据；
[0055]对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型；
[0056]根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，使得所述测量模块测量得到所述待测数据的电学参数值。
[0057]可选地，所述电学参数类型包括以下至少一项：电压、电流、电阻、电容和电感。
[0058]可选地，所述处理器在对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量控制方法，其特征在于，包括：从测量端口获取待测数据；对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型；根据所述待测数据的所述电学参数类型，控制所述测量端口与所述电学参数类型对应的测量模块连接，使得所述测量模块测量得到所述待测数据的电学参数值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电学参数类型包括以下至少一项：电压、电流、电阻、电容和电感。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待测数据进行识别，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：根据所述待测数据，判断所述测量端口是否有电流通过；在所述测量端口有电流通过的情况下，通过检测所述测量端口是否产生过流，确定所述待测数据的电学参数类型；在所述测量端口无电流通过的情况下，通过检测是否产生电容谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过检测所述测量端口是否产生过流，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：在产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电压；在未产生过流的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电流。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过检测是否产生电容谐振，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：在产生电容谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电容；在未产生电容谐振情况下，通过检测是否产生电感谐振，确定所述待测数据的电学参数类型。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过检测是否产生电感谐振，确定所述待测数据的电学参数类型，包括：在产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电感；在未产生电感谐振的情况下，确定所述待测数据的电学参数类型为电阻。7....
【专利技术属性】
技术研发人员：黄伦，
申请(专利权)人：中移物联网有限公司中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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